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DektakXT探针式表面轮廓仪/台阶仪

DektakXT探针式表面轮廓仪/台阶仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: DektakXT
  • 产地:美国
  • DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5?。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰,更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT一定能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)的技术突破,使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。DektakXT 完美设计探针系统的评价体系受三个因素影响:能否重复测量,数据采集和分析速度快慢,操作的难易程度。这些因素直接影响了数据的质量和操作效率。DektakXT利用全新结构和和最佳软件来实现可重复、时间短、易操作这三个必要因素,达到最佳的仪器使用效果。强化操作的可重复性 Delivering Repeatable MeasurementsDektakXT在设计上的几个提高,使其在测量台阶高度重复性方面具有优异的表现,台阶高度重复性可以到达5?.使用single-arch结构比原先的悬臂梁设计更坚硬持久不易弯曲损坏,而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响。同时,Bruker还对仪器的智能化电子器件进行完善,提高其稳定性,降低温度变化对它的影响,并采用先进的数据处理器。在控制器电路中使用这些灵敏的电子元器件,会把可能引起误差的噪音降到最低,DektakXT的系统因此可以更稳定可靠的实现对高度小于10nm的台阶的扫描。Single-arch结构和智能器件的联用,大大降低了扫描台的噪音,增强了稳定性,使其成为一个极具竞争力的台阶仪(表面轮廓仪)。提高数据采集和分析速度 SpeedingUp Collectionand Analysis利用独特的直接扫描平台,DektakXT通过减少从得到原始数据到扣除背底噪音所需要的时间,来提高扫描效率。这一改进,大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描的扫描速度。在保证质量和重复性的前提下,可以将数据采集处理的速度提高40%。另外,DektakXT采用Bruker 64-Bit数据采集分析同步操作系统Vision64,它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度,并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描时的数据分析处理效率。Vision64还具有最有效直观的用户界面,简化了实验操作设置,可以自动完成多扫描模式,使很多枯燥繁复的实验操作变得更快速简洁。完善的操作和分析系统 PerfectingOperationand Analysis与DektakXT的创新性设计相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析软件。Vision64提供了操作上最实用简洁的用户界面,具备智能结构,可视化的使用流程,以及各种参数的自助设定以满足用户的各种使用要求,快速简便的实现各种类型数据的采集和分析。DektakXT 技术参数—台阶高度重复性5?—Single-arch设计大大提高了扫描稳定性—前置敏化器件,降低了噪音对测量的干扰—新的硬件配置使数据采集能力提高了40%—64-bit,这一Vision64同步数据处理软件,使数据分析速度提高了十倍。功能卓越,操作简易—直观的Vision64用户界面操作流程简便易行—针尖自动校准系统让用户更换针尖不再是难事台阶仪(表面轮廓仪)领域无可撼动的世界领先地位—布鲁克的台阶仪,体积轻巧,功能强大。—单传感器设计提供了单一平面上低作用力和宽扫描范围

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多功能摩擦磨损试验机

多功能摩擦磨损试验机

  • 品牌: 美国AEP
  • 型号: UT-3000
  • 产地:北京
  • 多功能摩擦磨损测试

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Bruker ContourGT 非接触3D光学轮廓仪

Bruker ContourGT 非接触3D光学轮廓仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: ContourGT
  • 产地:德国
  • ContourGT 非接触3D光学轮廓仪 ContourGT表面计量系列产品用于生产和研发的非接触式三维光学轮廓仪业界最高垂直分辨率极高的可靠性和最好的测量重复性最高的表面测量和分析速度最强的使用性,操作简便,分析功能强大30年技术革新,实现非接触式表面测量技术高峰ContourGT系列结合先进的64位多核操作和分析处理软件,专利技术白光干涉仪(WLI)硬件和前所未有的操作简易性,推出历年来来最先进的3D光学表面轮廓仪系统。第十代光学表面轮廓仪拥有超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有业界最高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中,最广泛使用和最直观的3D表面计量平台。业界最高的垂直分辨率,最强大的测量性能0.5倍至200倍的放大倍率,在极宽的测量范围内,对样品表面形状和纹理进行表征。任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程提供了无以伦比的测量灵活性。高分辨率摄像头可选配件,提高了横向分辨率和GR&R测量的重复性。多核处理器下运行的Vision64? 软件,大大提高三维表面测量和分析速度新的软件设计使数据处理速度提高几十倍。多核处理器和64位软件使数据分析速度提高十倍。无以伦比的无缝拼接能力,可以把成千上万个数据拼接成一张连续的完美图像  测量硬件的独特设计增强生产环境中的可靠性和重复性高亮度的双LED照明专利技术提高测量质量。最佳化的硬件设计提高了仪器对震动的容忍度和GR&R测量的能力。专利的自动校准能力确保了仪器与仪器之间的相关性,测量准确度和重复性。高度直观的用户界面,拥有业界最强的操作简便和分析功能强大优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程,从而提高仪器和操作者效率独特的可视化操作工具为用户提供易于学习和使用的数据分析选项用户可自行设置数据输出的界面 三十年技术创新,迎来第十代全新产品我们的干涉仪是世界上第一个包含了著名的垂直扫描干涉技术(VSI模式),扫描头倾斜调整,专利的自动校准和双LED照明等革新技术。ContourGT系列既结合了这些已被证实的设计功能,又在硬件上进行了大量的改进,从而给用户提供了目前世界上最精确的、重复性最好的光学轮廓仪性能。 Bruker的光学轮廓仪具有已被证实的,将近三十年的优越性能运行跟踪记录,从研究型实验室到生产型工厂的上万台安装记录。 ContourGT-X光学轮廓仪配备有一体式的气动平台和双层金属铸件,此两种设计都是为了隔离震动以避免干扰测量效果,从而获得快速、精确的、可通过GRR测试的测量结果。OMM结合了Bruker专利的双LED照明光源技术,在任何样品任意放大倍数下均可提供卓越的照明强度和均匀性。OMM还能在整个10mm测量量程内提供无以伦比的准确性和可重复性。马达驱动的多放大倍率检测器可包含最大三个视场目镜,以最大化放大倍率的灵活性和稳定性。ContourGT系列可选择型号中,具有包含Bruker专利技术的内置一级标准自校准功能的能力,使得闭环扫描的性能最大化。此模块包含一个参考信号,在仪器启动时对系统进行自校准,然后连续监控并校正每次测量,以保证绝对的精确度和卓越的重复性。Bruker的倾斜调整支架设计可使得OMM倾斜,而不是样品倾斜。这样,被测量的样品将总处于聚焦位置,并且在测量的视野中,确保了操作的一致性和简易性。*这些选项仅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型号上具有。在ContourGT-X型号中具有全自动的8英寸或12英寸样品台。两种样品台均配备有0.5um重复性的编码器。ContourGT-K1型具有可选的6英寸马达驱动样品台。还可选配具有Z方向聚焦旋钮的XY操纵杆。选配的马达驱动塔台可安装最多4个干涉物镜,从1倍至100倍。塔台设计确保了当您切换物镜时,您的测试点始终处于聚焦和中心位置。在防震台的后面配备有一个LED光源以帮助样品聚焦和确保操作可观度。辅助操作灯泡*塔台自动样品台倾斜调整支架*自校准功能*光学计量模块(OMM)卓越的震动隔离性能*

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Contour Elite三维光学显微镜

Contour Elite三维光学显微镜

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: Contour Elite
  • 产地:美国
  • 可信计量、逼真成像、清晰结果 逼真成像与可信测量数据的结合简易直观的操作界面提供良好的用户体验更快速地解决复杂研究和生产要求下的各种挑战布鲁克Contour Elite™三维光学显微镜在已经业界广泛使用的技术领先的平台上,进一步增强Vision64®软件的用户易用性,创新性加入全新的成像软硬件,拓展高保真成像能力。在要求极高的研发、质量控制领域,Contour Elite™可为用户提供高速、准确和重复性极佳的测量结果。同时,它为用户提供在通常共聚焦显微镜下能得到的成像与显示效果,如彩色影像等。建立在Wyko®专有白光干涉仪基础上,历经三十多年软硬件的积累与创新,布鲁克Contour Elite系统提供了直观可视化的操作界面,丰富的用户自定义方式,自动化程序控制功能,以及最快速、广泛适用的表面三维形貌的高保真成像与准确测量,来保证各种领域研发、生产应用的测试需求。 Contour Elite K高稳定性,具备一定防震性能设计的桌面式型号  Contour Elite I全自动,有集成防震垫设计的桌面式型号 Contour Elite X全自动,集成落地式防震台的型号

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光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪

光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪

  • 品牌: 美国AEP
  • 型号: NANOMAP D
  • 产地:美国
  • NANOMAP D光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪集白光干涉非接触测量法和大面积SPM扫描探针接触式高精度扫描成像于一个测量平台。是目前功能最全面,技术最先进的表面三维轮廓测量显微镜。既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌,又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理,在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。由于采用独特的缝合技术,无论怎样的表面形态、粗糙程度以及样品尺寸,一组m×n图像可以被缝合放大任何倍率,在高分辨率下创造一个大的视场,并获得所有的被测参数。该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学,工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。随着微细加工技术的不断进步,微电路、微光学元件、微机械以及其它各种微结构不断出现,对微结构表面形貌测量系统的需求越发迫切, NanoMap-D所具备的双模式组合,结合了白光干涉非接触测量及SPM扫描探针高精度扫描成像于一体,克服了光学测量及扫描探针接触式的局限性,并具有操作方便等优点成功地保证了其在半导体器件,光学加工以及MEMS/MOEMS技术以及材料分析领域的领先地位。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪经过广泛严格的检测,确保其作为测量仪器的标准性和权威性,并保证设备的各种功能完好,各个部件发挥出色。用NIST标准可以方便快捷地校验系统的精度,所校准用的标样为获得美国国家标准局( NIST) 的计量单位的认可。NanoMap-D配备的软件提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪主要功能及应用:多种测量功能精确定量的面积(空隙率,缺陷密度,磨损轮廓截面积等)、体积(孔深,点蚀,图案化表面,材料表面磨损体积以及球状和环状工件表面磨损体积等)、台阶高度、线与面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半径以及其它几何参数等测量数据。薄/厚膜材料薄/厚膜沉积后测量其表面粗糙度和台阶高度,表面结构形貌, 例如太阳能电池产品的银导电胶线蚀刻沟槽深度, 光刻胶/软膜亚微米针尖半径选件和埃级别高度灵敏度结合,可测量沟槽深度形貌。材料表面粗糙度、波纹度和台阶高度特性分析软件可轻易计算40多种的表面参数,包括表面粗糙度和波纹度。计算涵盖二维或三维扫描模式。表面光滑度和曲率可从测量结果中计算曲率或区域曲率薄膜二维应力测量薄膜应力,能帮助优化工艺,防止破裂和黏附问题表面结构和尺寸分析无论是二维面积中的坡度和光滑度,波纹度和粗糙度,还是三维体积中的峰值数分布和承载比,本仪器都提供相应的多功能的计算分析方法。缺陷分析和评价先进的功能性检测表面特征,表面特征可由用户自定义。一旦检测到甚至细微特征,能在扫描的中心被定位和居中,从而优化缺陷评价和分析。

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FocalSpec 线共焦传感器

FocalSpec 线共焦传感器

  • 品牌: 芬兰FocalSpec
  • 型号: Line Confocal Sensors
  • 产地:芬兰
  • 线共焦 在线无触碰式测量 表面轮廓测量 表面粗糙度测量FocalSpec线共焦传感器原理:光谱仪将发光二极管发出的光分散成不同波长不同高度的光,这些光聚焦在同一聚焦面并照射到样品表面,通过分光仪分析样品表面所反射的光。根据反射光波长变化,判断样品表面信息。FocalSpec线共焦传感器技术指标:FocalSpec线共焦传感器特点1.抗冲击,抗震动,免维护2.不同颜色,不同种类材料测量无需再校准3.安装简单4.占地面积小更多产品咨询请点击:北京正通远恒科技有限公司

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SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪

SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪

  • 品牌:
  • 型号: SmartWLI Extended
  • 产地:德国
  • SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪拥有纳米级测试精度,外接PC或笔记本电脑进行实时数据分析。SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪功能全面,轻松应对各种测试环境。电动XY双轴样品台匹配自动拼接程序,应对大面积测试任务。典型应用包括科学研究、质量控制和工艺管理。德国GBS公司SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪具备如下优点: 通用型 精度高 测速快 稳定可靠 自动拼接SmartWLI- 扩展型白光干涉三维轮廓仪技术参数:花岗岩基座、脚架电动X Y双轴样品台(尺寸:226 x 232 mm2;移动范围:76 x 52mm2) 测量端配物镜转换台、同时兼容4款物镜PC界面、Windows 7系统,NVIDIA 图形处理器具备超速运算功能SmartWLI形貌测量软件、“自动拼接”功能MountainsMap三维图像处理软件 MountainsMAP分析软件作为一款高品质的表面成像与分析软件,MountainsMAP 适合实验室、研究机构及工厂各类机能表面的设计、测试或制造设备使用。MountainsMAP拥有一整套全面的解决方案,专用于表面外观及形貌的成像与分析,提供详尽的三维可视化测量报告。 SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪技术参数测量系统量测原理 白光干涉Z轴定位系统压电效应调节系统高度量测范围最大可达400 μm摄像头参数CCD摄像头;1624x 1234相素干涉物镜系统放大倍数MAG视场范围FOV (mm)横向分辨率 (um)2.5 ×, 5 ×, 10 ×, 20 ×, 50 ×, 100 ×4.12 × 3.06 mm2 - 0.103 × 0.076mm210.54 μm - 0.55 μm光源LED测试时间通常<20秒软件系统SmartWLI基于微软Win7操作系统,64位表面形貌测量软件;三维数据可通过接口直接传输至MountainsMap分析软件。MountainsMap三维数据分析软件,轮廓及三维影像结果输出、测量数据预处理及后处理、德标(DIN)欧标( EN) ISO标准粗糙度及高度测定、串行处理及测试日志。输出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF更多SmarWLI系列白光干涉三维轮廓仪产品信息,请访问www.WinWinTec.com与 www.smartWLI.de(2012年1月技术数据)SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(一)-液态轴承SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(二)-晶片SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(三) - 钻石工具SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(四)-透镜工具SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(五)-金属表面SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(六)-汽车车身表面SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(七)-粗糙度标准片SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(八) - 发动机汽缸

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SmartWLI 传统二维光学显微镜三维轮廓/形貌扫描升级方案

SmartWLI 传统二维光学显微镜三维轮廓/形貌扫描升级方案

  • 品牌:
  • 型号: SmartWLI - Microscope
  • 产地:德国
  • SmartWLI传统光学显微镜升级技术 亚纳米级分辨率白光干涉技术与三维表面形貌测量传统二维光学显微镜可以升级为三维表面形貌测量装置,极大提升应用效能。图1.干涉物镜通过接合器安装于传统光学显微镜,升级后的显微镜具备高分辨三维表面形貌测量功能显微镜的重要性不只在于研究与记录,更在于产品质量监测与样品表面分析。光学显微镜已经成为许多实验室的标配设备。对于大多数样品来说,传统二维显微镜不足以获得其表面所有形貌细节。因此,三维表面形貌测量技术正逐渐成为一种重要的表征手段。 图2. 金属表面二维、三维测量结果比较 其典型应用领域包括不同表面粗糙度试样的三维表面形貌观察(如晶片结构,镜面,玻璃,金属),台阶高度测定和曲面精确测量(如微型透镜)。当前,许多研究机构都有三维表面形貌测量设备的采购需求。但事实上,只要满足下列条件,世界上多数知名品牌的传统光学显微镜都可以升级为高精度三维表面形貌测量设备:* 无限远、中间像光学系统;* 反射明场照明系统;* CCD摄像头接口;* 可更换物镜的镜筒位于德国Ilmenau的GBS公司已经成功利用其SmartWLI显微镜升级技术为蔡司、尼康、莱卡、奥林巴斯等众多品牌的传统光学显微镜完成升级工作。其基本原理为白光干涉一种成熟的三维表面形貌测量方法,测量精度可以达到亚纳米量级。同传统的单色光干涉技术大为不同,SmartWLI白光干涉技术采用相干长度达到2um的宽频带光。实际测量必须深入相干区域扫描,每隔70-80nm取样。而单色光干涉技术多用激光,相干长度达到数千米,不能用来观察纳米级的区域。当光程差接近相干长度时,干涉差变得更小。通过参考面,以设定好的步频移动被测物体,每移动一个步频,记录一个干涉图样,这样大量干涉图样就以像素为单位记录下来。若数据的采集与处理同时进行即可在数秒之内得到测量表面区域的高度信息(形貌特征)。GBS公司研发的Smart WLI软件可以对测量数据进行高速运算。三维数据的计算任务转交图形处理器(GPU)完成,一百万测量点的数据处理时间可从30秒降到1秒以内。SmartWLI显微镜升级技术特征德国GBS公司的SmartWLI 显微镜升级技术可以将传统二维显微镜升级为先进的三维表面形貌测量设备。该技术涉及硬件组件包括:* 一套基于压电效应、由电脑控制的定位系统(定位精度在纳米量级);* 一款高质量的干涉透镜;* 一款高灵敏度CCD摄像头,带有GigE接口;选件:电动XY轴平台、高性能电脑与拼接技术,可实现大表面三维形貌测量。PC配置要求:因特尔i5处理器,微软Windows操作系统,4G内存,具备高速计算能力 的英伟达图形处理器(NVIDA GPU),TFT液晶显示屏,键盘与鼠标。GBS SmartWLI显微镜升级技术选用的压电调节器由德国Piezo System Jena公司开发研制。该款MIPOS透镜调节器纵向方向(Z轴方向)扫描范围可达500 um,可选择相干透镜(物镜)的放大倍数在2.5倍到100倍之间。GBS公司开发的SmartWLI软件具备操作直观、数据分析快速、纳米级精度显示等优点,可以对采集到的三维测量数据进行基础运算。经SmartWLI软件处理后的三维测量结果,可再交由图形分析软件MountainsMap做进一步处理,最终可得到二维、三维表面形貌图像、粗糙度、台阶高度、微粒分析与报告等。 基于图形处理器GPU的高速运算功能,三维测量数据运算可以与形貌扫描同步进行。在不过度占用电脑中央处理器(CPU)与内存空间的前提下,实现大范围的三维形貌测量。显微镜升级后的主要测量参数:纵向测量范围: 最大可达400 um横向测量范围: 649 um×483 um (10倍物镜);324 um×241 um (20倍物镜) 129 um×96 um (50倍物镜) (注意:上述数据皆为估算值,实际横向测量范围需参考用户现有显微镜参数)纵向(Z轴)分辨率: <1 nm横向分辨率: 1.66 um(10倍物镜);0.96 um(20倍物镜);700 nm(50倍物镜) 扫描速度: 3.6 - 16 um/s 计算时间: 一百万测量点数据/一秒内SmartWLI显微镜升级技术的其它优势:* 无需新的设备技术,缩短培训周期;* 利用现有测量平台,节省实验室空间;* 保留原有二维测量功能,兼具三维测量能力;* 立足用户原有组件,大幅节省升级费用; (可利用组件包括:光源、镜筒、镜头旋转器、Z轴调节器、XY轴测量平台)。* 全面的三维表面形貌测量功能自动拼接技术与钻石磨削头的三维表面形貌测量升级后的显微镜可以对钻石磨削头进行纳米级分辨率的三维表面形貌测量,可得到表面钻石的形貌和体积。我们可借助本次测量实例,深入了解一种SmartWLI 显微镜升级技术独具的“自动拼接”功能 - 即将大量二维测量区域上的“干涉图样摞”再次叠加,生成更大检测区域的三维图像。软件上的“自动拼接”功能结合硬件上的电动XY轴平台,就可实现更大表面的三维形貌测量。 图3.钻石磨削头三维表面形貌测量结果 (10倍物镜,3×3阵列拼接) 图3所示为选用10倍物镜,以3×3阵列(9倍单位扫描区域),经“自动拼接”得到的三维表面形貌测量结果。借助“自动拼接”功能,可以在数分钟内实现大表面(百倍以上单位测量区域)的三维形貌测量。结语:德国GBS公司SmartWLI 显微镜升级技术为传统光学显微镜提供了一种全新的升级方式。经验丰富的GBS工程师可以为您升级现有的显微镜,培训操作人员。SmartWLI显微镜升级技术不但不会对用户现有显微镜的固有功能造成损害或限制,还可以兼容其原有软件。1) 德国GBS公司官网:www.gbs-ilmenau.de2) 德国WinWinTec公司(GBS中国市场渠道商)官网:www.winwintec.com

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APEX压痕划痕仪

APEX压痕划痕仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: APEX
  • 产地:美国
  • 布鲁克多功能的纳米机械测试仪平台,CETR-Apex,配备了6个易互换的机械压头,高放大倍数的显微镜和成像模块(AFM和三维光学轮廓仪)。2分钟内即可实现不同模块之间的互换。 六种机械压头 纳米压痕压头—用来测量超薄涂层尤其是纳米级涂层以及块体材料的硬度,杨氏模量等(样品表面需较为光滑,以确保数据可靠性,)纳米划痕压头—主要用于纳米级超薄涂层的厚度测量(DLC,ALD、太阳能薄膜,ITO薄膜和光学涂层等)微米压痕压头 —仪器的微米压痕压头用于较厚涂层和块体材料的硬度和杨氏模量等机械性能测量。 微米划痕压头—主要用于较厚涂层的微米级划痕测量(PVD,CVD、油漆、装饰涂料等)。毫米划痕压头 —用于宏观尺度的划痕测量。 纳米、微米级摩擦学压头 —用于薄膜、涂层以及块体材料的摩擦磨损测量、静态/动态摩擦学测量、耐用度、附着力,粘滑性等机械性能测量。 CETR-Apex检测特性 & 技术优势 配备隔热罩、隔音罩以及防震台 三板电容传感以超高精确度检测样品摩擦学性质的变化 微纳压痕检测信息图案化,信息完整全面,检测效率高,重复性好  用户自定义数据分析算法或分析模型,精确检测材料机械性能 符合ASTM, DIN和ISO的所有检测标准 划痕测试选项 自定义划痕轨迹(锯齿形、线形、螺旋形、旋转形) 自动聚焦显微镜可实现自动划痕 全景成像,可以观测到整个沟槽的信息 可同时获得划痕的完整图像以及摩擦学、声学发射信号、沟槽深度、材料力度等各种机械性能信息 改进操作窗口,包括:整幅图像的缩进、拉出、采集图像和分析数据同步显示 纳米摩擦磨损测试选项 可随意更换线性或旋转驱动 可以自定义选择测试环境的温度、湿度及气体浓度 任意选择从极低到极高的测试速度 超低负载——精确控制负载、测试速度和样品定位,所得测试数据具有极高的重复性 专利技术传感器满足X、Y和Z轴同时驱动进行摩擦磨损测试 进行摩擦、磨损、粘滞力、粘滑性等多种测试纳米模块 NH随着纳米科技和薄膜技术的发展(太阳能电池,cvd、pvd、dlc、MEMS等),纳米尺度的机械性能测试趋向标准化。纳米机械性能测试在传统测试基础上有了很大改进,通过设计高宽径比的探针测试更深更窄的沟槽,还实现低负载,高空间分辨以及原位负载-位移数据精确测量。 纳米压痕 — 参照ISO14577认证标准,选取单点/多点压痕来测量薄膜、涂层和块体材料的硬度、杨氏模量、张力、应力(冯米塞斯应力,von Mises stresses)和接触强度/刚度等。 纳米划痕 – 在接触模式下,可根据用户自定义不断增加负载,检测薄膜、涂层和块体材料的划痕硬度和划痕黏附力。 动态压痕 - 通过探针动态测量方法,检测深度依赖性损失以及存储模量。NH特性 电磁驱动传感器 三板电容传感以超高精确度检测样品摩擦学性质变化 针尖几何形状为berkovich、球体、或者立方隅角的压痕检测器 微纳压痕检测信息图案化,信息完整全面 可选择线性成像(推荐AFM功能) 检测效率高,重复性好 可选择先进的原位传感器 配备隔热罩、隔音罩以及防震台 符合ASTM, DIN和ISO的所有检测标准微米模块 MH微米机械性能测试已经被应用于检测涂层和块体材料的各种机械性能。微米机械性能测试仪大大优于传统测试方法,可以实现原位负载数据精确替换、应用类似声学发射检测、ECR、摩擦检测等信号来获得更多机械性能信息。 仪器化微米压痕检测——参照ISO14577认证标准,在毫米尺度(应用超过2牛的负载)以及微米尺度(低于2牛的负载)下检测涂层和块体材料的硬度、杨氏模量、张力、应力(冯米塞斯应力,von Mises stresses)和接触强度/刚度等。 传统维氏硬度和努普硬度  参照ASTM E384.99认证标准,测量微米尺度的材料硬度。 微米划痕 —在接触的模式下,可根据用户自定义不断增加负载,检测薄膜、涂层和块体材料的划痕硬度和划痕黏附力。MH特性 电磁驱动传感器 三板电容传感以超高精确度检测位移 针尖几何形状为berkovich、球体、或立方隅角的压痕检测器 微纳压痕检测信息图案化,信息完整全面 可选择线性成像(推荐3D轮廓仪)检测效率高,重复性好 选择先进的原位传感器 用户自定义数据分析算法或分析模型,精确检测材料机械性能 符合 ASTM, DIN和ISO的所有检测标准

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探针式轮廓仪/三维形貌仪

探针式轮廓仪/三维形貌仪

  • 品牌: 美国AEP
  • 型号: NANOMAP 500LS
  • 产地:美国
  • NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪,既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌,又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理,在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学,工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪技术特点 常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的完美结合。双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到最优化的小区域三维测图。 针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。 在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察。 针尖扫描采用双光学传感器,同时拥有宽阔测量动态范围(最大至500μm)及亚纳米级垂直分辨率 (最小0.1nm ) 软件设置恒定微力接触。 简单的2步关键操作,友好的软件操作界面。应用 三维表面轮廓测量和粗糙度测量,即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。 薄膜和厚膜的台阶高度测量。 划痕形貌,磨损深度、宽度和体积定量测量。 空间分析和表面纹理表征。 平面度和曲率测量。 二维薄膜应力测量。 微电子表面分析和MEMS表征。 表面质量和缺陷检测。

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VITT QM60-V快速测量仪1

VITT QM60-V快速测量仪1

  • 品牌: 江苏维埃迪光
  • 型号: QM60-V
  • 产地:
  • QM60 快速测量仪系列更“迅速”且“准确”,放置后仅按一键即可测量,是一种全新的尺寸测量形式。一次性测量长度、宽度、弧度、直径、角度、孔距等,大幅度提高了测量的精度和速度,有效地消除人为误差,是取代卡尺、投影仪、影像仪、工具显微镜等传统精密测量仪器的最佳选择。快速 fast一键式测量一个工件仅需几秒,可一次性测量多个产品工件,更高的效率让您专注于制造高品质的产品。简单 quick区别于传统的影像仪、工具显微镜等测量仪器。测量前需校正,测量时需要移动XY 坐标台, 操作复杂繁琐,QM60-V一键式测量仪无需繁琐步骤,半小时即可上手。准确 accurac任何人操作均可得到相同的测量结果。低成本 inexpensive无需担心技术的变革给您带来任何压力。QM60-V快速测量仪的技术参数:型号QM60-V测量范围(mm)35*30mm60*50mm90*75mm测量精度(μm)±2μm±3μm±5μm景深(mm)14mm40mm90mm图像传感器500万像素工业相机光源远心平行光源(绿色LED)软件维埃迪QM60快速测量软件工作环境温度20±5℃ 湿度30-80%QM60-V快速测量仪的应用领域:

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VITT QM60-H快速测量仪

VITT QM60-H快速测量仪

  • 品牌: 江苏维埃迪光
  • 型号: QM60-H
  • 产地:
  • QM60 快速测量仪系列更“迅速”且“准确”,放置后仅按一键即可测量,是一种全新的尺寸测量形式。一次性测量长度、宽度、弧度、直径、角度、孔距等,大幅度提高了测量的精度和速度,有效地消除人为误差,是取代卡尺、投影仪、影像仪、工具显微镜等传统精密测量仪器的最佳选择。快速 fast一键式测量一个工件仅需几秒,可一次性测量多个产品工件,更高的效率让您专注于制造高品质的产品。简单 quick区别于传统的影像仪、工具显微镜等测量仪器。测量前需校正,测量时需要移动XY 坐标台, 操作复杂繁琐,QM60-V一键式测量仪无需繁琐步骤,半小时即可上手。准确 accurac任何人操作均可得到相同的测量结果。低成本 inexpensive无需担心技术的变革给您带来任何压力。QM60-H快速测量仪的技术参数:型号QM60-H测量范围(mm)35*30mm60*50mm90*75mm测量精度(μm)±2μm±3μm±5μm景深(mm)14mm40mm90mm图像传感器500万像素工业相机光源远心平行光源(绿色LED)软件维埃迪QM60快速测量软件工作环境温度20±5℃ 湿度30-80%QM60-H快速测量仪的应用领域:主要应用于消费电子,汽车零部件,医疗器械等行业的轴类及回旋体部件测量。

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瑞士W+B试验机现代化升级

瑞士W+B试验机现代化升级

  • 品牌: 瑞士W+B
  • 型号: LFM/V
  • 产地:北京
  • W+B提供不同水平制造商生产的所有类型试验机的现代化升级,升级后的试验系统,生产效率和可靠性会明显提高,也不管试验机是液压还是电力驱动的,我们均可用最先进的数字控制器及在个人电脑上运行的万能材料试验软件包DION代替过时的控制系统,从而完成系统的现代化 升级。标准化设计的W+B现代化系统通常由数字控制器、测量系统、新液压能源或新电力机械驱动系统,现有编码传感器更新后的新传感器,以及材料试验软件包组成。我们能够考虑到通过增加生产效率的测量装置,来实现测试系统的现代化升级。

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SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪

SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪

  • 品牌:
  • 型号: SJ5701-200
  • 产地:深圳
  • SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪性能特点:1、 高精度、高稳定性、高重复性:完全满足被测件测量精度要求:1) 选用国际领先的高精度光栅测量系统和高精度电感测量系统,测量精度高;2) 自主研发高精度研磨导轨系统,导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作;3) 高性能直线电机驱动系统,保证测量稳定性高、重复性好;2、 智能化管理与检测软件系统:仪器操作界面友好,操作者很容易即可基本掌握仪器操作,使用十分简便。1) 10多年积累的实用检定软件设计经验,向客户提供简洁、实用、快速的操作体验;2) 功能强大、自动处理数据、打印各种格式的检定报告,自动显示、打印、保存、查询测量记录;3) 测量范围广,可满足绝大多数类型的工件粗糙度轮廓测量;4) 可自动和手动选取被测段进行评定,可依据客户要求进行软件功能的定制;5) 纯中文操作软件系统,更好的为国内用户服务;6) 打印格式正规、美观。检定数据可存档,或集中打印,不占用检定操作时间;7) 本仪器采用计算机大容量数据库储存,可自动记录保存所有检定结果。3、 可进行多参数测量:粗糙度自动评价,包括Ra,,Rz,Rp,Rt等4、 测量力系统: 采用音圈电机测力系统,测力可实现从10~150mN连续可调,测力分辨力可达0.2mN;避免了老式砝码加载因周围环境振动带来的测力误差,降低了测力变化引起的测量误差。5、 智能保护系统:一旦出现主机与被测工件或夹具相撞、或测针在扫描过程中出现拉力过大,仪器会停止扫描保护测量系统和测针。6、 灵活手动控制:仪器配置了操作杆,可在测量工件前对测针进行粗定位;在脱离电脑的情况下,让测针左右、上下快速移动。SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪用途:SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪广泛应用于机械加工、汽车、轴承、机床、摸具、精密五金、光学加工等行业。该仪器可测量各种精密机械零件的粗糙度和轮廓形状参数。用拟合法来评定圆弧和直线等。从而可测量圆弧半径、直线度、凸度、沟心距、倾斜度、垂直距离、水平距离、台阶等形状参数。该仪器还可对各种零件表面的粗糙度进行测试;可对平面、斜面、外圆柱面、内孔表面、深槽表面、圆弧面和球面的粗糙度进行测试,并实现多种参数测量。本仪器依据GB/T3505-2009、GB/T6062-2009、GB/T10610-2009国家标准及ISO5436、ISO11562国际标准制造。SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪技术参数:1. 粗糙度测量:●基本参数:测量范围:X轴200mm,Z1轴±80μm / ±40μm / ±20μm直线度误差: ≤0.15μm/20mm,≤0.5μm/200mm示值误差:±5%分辨率:Z1轴0.04μm(±80μm), 0.02μm(±40μm), 0.01μm(±20μm)测量速度:0.5 mm/s 和0.1 mm/s可调●硬件结构:测针:标准型(高度小于8mm) 1支,触针半径2μm,静态测力0.75mN;大理石平台:尺寸≥800×450mm;电动立柱:高度≥450mm;●测量软件依照ISO3274等国际标准, 能自动选取截止波长;●测量参数R粗糙度:Ra,Rq, Rz,Rmax,Rpc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,R3z,RSm,Rs,Rsk,Rku, Rdq,Rlq,Rdc,RHSC,Rmr,Rz-L,Rp-L,R3z-L,Rdc-L,RMr-L,Pdc-L,PMr-L核心粗糙度: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,VoP轮廓参数:Pa,Pq,Pt,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Plq,Pdc,PHSC,PPc,PMr,W波度轮廓参数:Wa,Wq,Wt,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdg,Wdc,WMrMotif参数:R,Ar,W,Aw,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CLISO5436参数:Pt,D轮廓类型: 支持D,P,W,R●滤波器:高斯滤波器、RC滤波器,相位修正滤波器滤波波段可选择,也可任意设定;支持自动选择符合标准的过滤方式和取样长度;2. 轮廓测量:(1)X轴测量范围:0~200mm;示值误差:±(0.8+2L/100)um,其中L为水平测量长度,单位:mm;分辨率:0.01um;直线度:2um/200mm测量速度:0.1~5mm/s;移动速度:0~30mm/s(2)传感器Z1轴:测量范围:±25mm;示值误差:±(1.6+|2H|/100)um,其中H为垂直测量高度,单位:mm;分辨率:0.01um;(3)Z轴:测量范围:0~450mm;移动速度:0~30mm/s;(5) 测量力:10~150mN;(6) 爬坡能力:上坡77 o,下坡83o;(7) 工作台:旋转角度:360度,X、Y移动 :15mm。3. 仪器尺寸:花岗岩平板800×450×100mm 整机:850×500×1100mm;仪器重量:150Kg4. 使用环境:无强磁场,无振动,无腐蚀气体工作温度:20℃ ±2℃相对湿度:40-60%SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪标准配置:1) SJ5701-200粗糙度轮廓一体式测量仪主机 1台;(1)轮廓模块(2)粗糙度模块(含粗糙度测针)2) 组合校准规 1套;3) 圆锥硬质合金测针1支;4) 单切面硬质合金测针1支;5) 平口虎钳 1套;6) 万向工作台 1套;7) 测量软件1套; 8) 品牌计算机1套1)主机配置:双核以上CPU,500GB硬盘,2G内存,Win7系统;2)显 示 器:24寸液晶显示器。9) HP激光打印机1台(型号随HP厂家变更而变更)10) 铝合金仪器配件箱1个;11) 产品使用说明书1套;12) 产品合格证、保修卡1套;13) 免费保修1年。

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日本三丰轮廓仪

日本三丰轮廓仪

  • 品牌:
  • 型号: CV-1000/CV-2000
  • 产地:日本
  • 【产品名称】 日本三丰CV-1000/CV-2000轮廓仪 特点 大幅度提高了驱动速度 (X 轴:80mm/s, Z2 轴:20mm/s),近一步降低了总测量时间。为了在一定时段内维持仪器的直线度规格,三丰公司采用了具有极佳的耐摩擦 性及稳定性的高硬度陶瓷导轨。大量的外周设备选件支持 CNC 模式,从 而可以很容易实现 CNC 测量。驱动装置 (X 轴) 和立柱 (Z2 轴) 中集成了高 精度线性编码器 (Z2 轴为 ABS 型),从而提 高了在垂直方向持续自动测量小孔和不易定位工件的重复精度。 技术参数: X1轴 测量范围: 50mm(CV-1000)或100mm(CV-2000) 分辨率: 0.2μm 检测方法: 反射型线性编码器 驱动速度: 0.2,0.5mm/s 测量方向: 向后 直线度: 3.5μm/50mm(CV-1000), 3.5μm/100mm(CV-2000), 以X轴为不平方向向上 指示精度:±(3.5+2L/100)μm L=驱动长度(mm) 倾斜角度: ±45度(CV-2000) Z2轴(立柱,仅用于CV-2000) 立柱类型: 电动(S4型)和手动(M4型) 垂直移动: 250mm(S4型),320mm(M4型) 驱动速度 1-5mm/s外加手动 Z1轴(检测器) 测量范围: 25mm(CV-1000)或40mm(CV-2000) 分辨率: 0.4μm(CV-1000)或0.5μm(CV-2000) 检测方法:弧形编码器 指示精度: ±(3.5+14HI/25)μm 20度时: H为水平位置上的测量高度(mm) 测针上/下运作: 弧形运动 测针方向: 向下 测力: 10-30mN 测针针尖: 半径:25μm,硬质合金针尖 基座尺寸(Wx H): 650x450mm(CV-2000) 基座材料: 花岗岩(CV-2000) 重量: 5Kg(CV-1000N2),115.8Kg(CV-2000M4),124Kg(CV-2000S4) 电源: 100-240VAC±10%,50/60HZ

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FocalSpec   线共焦扫描仪

FocalSpec 线共焦扫描仪

  • 品牌: 芬兰FocalSpec
  • 型号: Line Confocal Scanner
  • 产地:芬兰
  • 线共焦,在线缺陷检测,在线三维形貌测量,表面轮廓测量仪FocalSpec 线共焦扫描仪应用高精度3D尺寸、装配公差、空隙、缺口、平整度、表面形貌、外观和触感、粗糙度、毛边、透明/半透明部件厚度。FocalSpec 线共焦扫描仪技术指标1.尺寸h,w,d:1653,745,8002.扫描区域x, y, z:400,200,1003.重复性x,y: 2.5μm;z:0.5μm4.电源:230/110 VAC5.连接方式:Ethernet Lan6.电脑:PC(os Win7, 64bit)7.显示:触摸屏8.3D点云输出,兼容MATLABFocalSpec 线共焦扫描仪特点1.抗冲击,抗震动,免维护2.不同颜色,不同种类材料测量无需再校准3.安装简单4.占地面积小

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LuphoScan高速非接触式3D非球面光学面形测量系统

LuphoScan高速非接触式3D非球面光学面形测量系统

  • 品牌:
  • 型号: LuphoScan120/260/420
  • 产地:英国
  • LuphoScan测量平台是一款基于多波长干涉技术(MWLI)的干涉式扫描测量系统。 它专为旋转对称表面的超精密非接触式3D形状测量而设计, 例如非球面光学透镜。该系统能为高质量的光学表面3D形状测量提供最佳效益。特征LuphoScan平台能够轻松进行非球面、球面、平面和自由曲面的测量。 该仪器的主要特性包括高速测量、特殊表面的高灵活度测量(例如:拐点的轮廓或平坦的尖点),最大物体直径可达420mm。 因为采用多波长干涉技术(MWLI)传感器技术, 因此能够扫描各种表面类型如透明材料、金属部件和研磨表面。 测量精度该系统使用了复杂的参考传感器以及特殊的基准框架概念, 能够确保最高精度的测量结果, 精度可在±50nm以上。高速测量典型测量时间:30mm直径球面小于2分钟,130mm直径球面小于5分半钟。主要应用领域LuphoScan测量系统用于测量可旋转的对称表面的3D拓扑结构, 例如凹面球面透镜和凸面球面透镜。 测量工作台的设计能够确保测量大多数的透镜, 而不受任何球形偏离、罕见顶端形状(平头)、倾斜或者发射点图的限制。 除了标准的测量应用外, 还可以使用LuphoScan测量平台的特殊扩展工具LuphoSwap不同扩展功能, 来完成多种光学要素特征的测量。该工具能够辅助测量透镜厚度, 以及楔形与偏心误差。 除此之外, 额外的附加软件类型能够直接测量间断的透镜,如分段表面包括矩形部件、环形透镜、有衍射阶梯的表面和锥透镜。多样化的测量平台配置LuphoScan测量平台技术能够提供三种不同大小和不同测量配置的选择。 测量平台大小能够决定最大被测物体。 最大测量直径可选:120mm、260mm和420mm。

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WYKO NT9800 光学轮廓仪 WYKO NT9800 光学轮廓仪

WYKO NT9800 光学轮廓仪 WYKO NT9800 光学轮廓仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: NT9800
  • 产地:美国
  • 仪器简介:Wyko NT9800 光学轮廓仪在0.1nm 到 10mm 的垂直扫描范围内提供了非接触式高速高精度三维表面测量工能,纵向分辨率可达0.1nm。NT9800 采用了Veeco专利的内部实时激光参考信号进行持续的自校准,减小了通常情况下使用标准块校准设备的需要,并且能够补偿工作环境下系统产生的热漂误差。作为业内领先的第九代Wyko NT系列光学轮廓仪产品,NT9800 具有最高的自动化水平,友好的用户界面,以及业内最好的Wyko Vision分析软件系统。众多先进技术的集成、经过长期实用验证的测量技术核心以及适合于各种专业应用需要的软件功能,使 NT9800 成为世界上最先进的光学干涉测量设备,可满足MEMS、金属研究、材料科学、半导体、医用器械等众多领域科研和生产工作中对高精度自动化表面测量的需要。技术参数:1、纵向扫描范围:0.1nm~1mm (标配) 2、垂直扫描速度:25um/s 3、样品台尺寸:200mm主要特点:1. 非接触测量 2. 重复性高 3. 测量精度高

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CV-3100S4日本三丰轮廓仪 轮廓测量仪

CV-3100S4日本三丰轮廓仪 轮廓测量仪

  • 品牌:
  • 型号: CV-3100S4/4100S4
  • 产地:日本
  • 【产品名称】 日本三丰CV-3100/4100轮廓仪 轮廓测量仪CV-3100/4100系列 ContracerCV-3100/4100为高精度轮廓测量仪,通用行业领域中,它率先在Z轴上安装了数显标 技术参数: (CV4100系列特别安装了高精度激光全息摄影光栅尺)。有效保证了全部测量范围内的高分辨率和高精度 产品特点 CV-3100ContracerZ轴检测装置中的数显标尺确保了总行程为+25mm时分辨率可高达0.0002mm。 CV-4100系列ContracerZ轴检测装置中的激光全息光栅尺是一种新型的高精度标尺。它基于衍射 光干涉现象设计,有效保证了全部测量范围内高达0.0005mm的分辨率。 无需根据记录倍率改变Z轴无分辨率。无序切换范围,有效提高可操作性。 用于FORMPAKR-1000轮廓分析程序兼容WindowsR95/98/NT4.0/2000操作系统,便于测量。 可通过外置控制箱进行定位、开始/结束测量、返回以及远程进行其它操作。 采用陶瓷导轨有效防止摩擦。 垂直测壁为标准配置,可用于20mm测量探针(996506)和单边切割测量探针(354884)。 主机型号 CV-3100S4 CV-3100H4 CV-3100W4 CV-3100S8 CV-3100H8 CV-3100W8 主机型号 CV-4100S4 CV-4100H4 CV-4100W4 CV-4100S8 CV-4100H8 CV-4100W8 测量范围 X轴 100mm 200mm Z轴(检测器) ±25mm Z2轴(立柱)移动量 300mm 500mm 500mm 300mm 500mm 500mm X轴倾斜范围 ±45° 标尺 X轴 光栅尺 Z1轴(检测器) 光栅尺(CV-3100系列),激光全息光栅尺(CV-4100系列) Z2轴(立柱) ABS光栅尺 分辨率 X轴 0.05цm Z1轴(检测器) 0.2цm(CV-3100系列),0.05цm(CV-4100系列) Z2轴(立柱) 1цm 驱动速度 X轴 0-80mm/s和手动 Z2轴(立柱) 0-20mm/s和手动 测量速度 0.02-5mm/s 直线度(X轴在水平方向上) 0.8цm/100mm 2цm/200mm 指示精度(20℃时)CV-3100系列 X轴 ±(1+0.01L) цm L=驱动长度(mm) 宽范围:2цm/100mm 窄范围:1.25цm/25mm ±(1+0.02L) цm L=驱动长度(mm) 宽范围:5цm/200mm 窄范围:1.5цm/25mm Z1轴(检测器) ±(2+14H/100) цm H:水平位置上的测量高度(mm) 指示精度(20℃时)CV-4100系列 X轴 ±(0.8+0.01L) цm L=驱动长度(mm) 宽范围:1.8цm/100mm 窄范围:1.05цm/25mm ±(0.8+0.02L) цm L=驱动长度(mm) 宽范围:4.8цm/200mm 窄范围:1.3цm/25mm Z1轴(检测器) ±(0.8+10.5Hl/25) цm H:水平位置上的测量高度(mm) 探针上/下动作 弧形运动 测量方向 向前/向后 探针方向 向上/向下 测力 30mN 跟踪角度 上升:77°,下降:87°(根据表面粗糙度使用标准单切面探针) 探针针尖(标准附件) 针尖半径:25цm,硬质合金头 基座尺寸(宽×深) 600×450mm 1000×450mm 600×450mm 1000×450mm 基座材料 花岗岩 外部尺寸(宽×深×高) 主机 756×482× 966mm 756×482× 1166mm 1156×482× 1176mm 766×482× 966mm 766×482× 1166mm 1166×482× 1176mm 控制箱 221×344×490mm 遥控箱 248×102×62.2mm 重量 主机 140kg 150kg 220kg 140kg 150kg 220kg 控制箱 14kg 遥控箱 0.9kg 工作温度范围 15℃至25℃(校正和测量时段内,温差不超过±1℃) 工作湿度范围 20-80%RH(无凝结状态) 保存温度范围 -10℃至50℃ 保存湿度范围 5-90%RH(无凝结状态) 电源规格 100-120V,200-240V±10%,AC50/60HZ 电源消耗(仅主机)

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上海仪电科仪WGL光电轮廓仪

上海仪电科仪WGL光电轮廓仪

  • 品牌: 上海仪电物光
  • 型号: WGL
  • 产地:
  • 仪器简介:光电轮廓仪的应用范围很广,它主要用于测量各种精密加工零件表面的微观三维结构,如表面粗糙度;零件表面的刻线;刻槽的深度和镀层的厚度等。具体地说,如量块、光学零件表面的粗糙度;标尺、度盘的刻线深度;光栅的槽形结构;镀层厚度和镀层边界处的结构形貌;磁(光)盘、磁头表面结构测量;硅片表面粗糙度及其上图形结构测量等等。由于仪器测量精度高,重复性好,具有非接触和三维测量等特点,并采用计算机控制和快速分析、计算测量结果,本仪器适用于各级测试、计量研究单位,工矿企业计量室,精密加工车间和高等院校及科学研究单位等。技术参数:表面微观不平深度测量范围 130?1nm测量的重复性: sRa≤0.5nm测量精度 8nm物镜倍率 40X数值孔径 0.65仪器视场 目视 f0.25mm摄象 0.13X0.13mm仪器放大倍数 目视 500X摄象(计算机屏幕观察) 2500X接收器测量列阵 1000X1000象素尺寸 5.2X5.2?m主要特点:仪器由倒置式改为正置式,更符合人们的操作习惯;应用CMOS代替CCD,省去图象卡并提高了质量;用低压电源代替高压电源,节省了仪器成本;用国产的代替德国进口压电陶瓷,解决了关键部件的进口难题;增加了自动步距和亮度校正程序,同时增加了局部放大三维立体图功能;

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Dektak 8 探针轮廓仪(台阶仪) Dektak 8 探针轮廓仪(台阶仪)

Dektak 8 探针轮廓仪(台阶仪) Dektak 8 探针轮廓仪(台阶仪)

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: DEKTAK 8
  • 产地:美国
  • 仪器简介:Dektak8台阶式探针轮廓仪,结构紧凑,可提供很高的重复性和精度。独特的XY方向定位系统可移动到8x8inch区域的任何位置。它不仅能测量台阶高度和表面纹理,还能测量金属蚀刻速率的均匀性、焊点高度、纤维光学元件和显微透镜。全程程序控制的Dektak8系统对于MEMS,纳米技术和半导体应用都非常方便。技术参数:台阶高度重复性: 7.5,1σ在1um标准台阶上 最大晶圆尺寸:200mm 最大样品厚度:25.4mm (1 in.) 每次扫描数据点:最多可达60,000数据点 扫描长度范围:标配最大50mm 垂直范围:标配262um;可选1mm 最大垂直分辨率:1 (6.55微米垂直范围下)主要特点:1. 台阶高度测量重复性高 2. 是功能最为强大的探针轮廓仪,可最大限度的满足各种应用需要 3. 简单易用 4. 作为一款桌面型轮廓仪,扫描范围可达200mm

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中图仪器SJ5700轮廓仪

中图仪器SJ5700轮廓仪

  • 品牌:
  • 型号: 中图仪器SJ5700
  • 产地:深圳
  • 【产品简介】中图仪器SJ5700轮廓仪测量原理为直角坐标测量法,即通过X轴、Z轴传感器,测绘出被测零件的表面轮廓的坐标点,通过电器组件,将传感器所测量的坐标点数据传输到上位PC机,软件对所采集的原始坐标数据进行数学运算处理,标注所需的工程测量项目。【测量项目】中图仪器SJ5700轮廓仪可测量各种类型工件表面的线要素、点要素,点与点的距离、线与线的距离,各要素的位置度包括:距离、平行度、垂直度、角度、槽深、槽宽、半径,可进行直线度分析,凸度分析、轮廓度分析。【应用行业】中图仪器SJ5700轮廓仪广泛用于机械加工、汽车、摩托车、精密五金、精密工具、刀具、模具、光学元件等行业,适用于科研院所、大专院校、计量机构和企业计量室、车间【性能特点】1、 高精度、高稳定性、高重复性:分辨力0.01μm,完全满足被测件测量精度要求。1) 国际领先的高精度光栅测量系统,分辨力达到0.01μm,测量精度高;2) 自主研发高精度研磨导轨系统,导轨直线度达到2um/200mm,导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作;3) 高性能直线电机驱动系统,保证测量稳定性高、重复性好;2、 智能化管理与检测软件系统:仪器操作界面友好,操作者很容易即可基本掌握仪器操作,使用十分简便。1) 10多年积累的实用检定软件设计经验,向客户提供简洁、实用、快速的操作体验;2) 功能强大、自动处理数据、打印各种格式的检定报告,自动显示、打印、保存、查询测量记录;3) 测量范围广,可满足绝大多数类型的工件轮廓测量;4) 纯中文操作软件系统,更好的为国内用户服务;5) 打印格式正规、美观。检定数据可存档,或集中打印,不占用检定操作时间;6) 本仪器采用计算机大容量数据库储存,可自动记录保存所有检定结果。3、 测量力系统: 采用音圈电机测力系统,测力可实现从10~150mN连续可调,测力分辨力可达0.2mN;避免了老式砝码加载因周围环境振动带来的测力误差,降低了测力变化引起的测量误差。4、 智能保护系统:一旦出现主机与被测工件或夹具相撞、或测针在扫描过程中出现拉力过大,仪器会停止扫描保护测量系统和测针。5、 灵活手动控制:仪器配置了操作杆,可在测量工件前对测针进行粗定位;在脱离电脑的情况下,让测针左右、上下快速移动。【技术参数】1. X轴1) 测量范围:0~200mm;2) 示值误差:±(0.8+2L/100)um,其中L为水平测量长度,单位:mm;3) 分辨率:0.01um;4) 直线度:2um/200mm5) 测量速度:0.1~5mm/s;6) 移动速度:0~30mm/s;2. 传感器Z1轴1) 测量范围:±25mm;2) 示值误差:±(1.6+|2H|/100)um,其中H为垂直测量高度,单位:mm;3) 分辨率:0.01um;3. Z轴1) 测量范围:0~450mm;2) 移动速度:0~30mm/s;4. 测量力:10~150mN;5. 爬坡能力:上坡77 o,下坡83o;6. 仪器尺寸(长×宽×高):花岗岩平板800×450×100mm 整机:850×500×1100mm;7. 仪器总重量:约150Kg;8. 使用环境:无强磁场,无振动,无腐蚀气体工作温度:20℃ ±2℃相对湿度:40-60%

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在线线材粗糙度测量系统

在线线材粗糙度测量系统

  • 品牌: 芬兰FocalSpec
  • 型号: MP 900
  • 产地:芬兰
  • 原理光谱仪将发光二极管发出的光分散成不同波长不同高度的光,这些光聚焦在同一聚焦面并照射到样品表面,通过分光仪分析样品表面所反射的光。根据反射光波长变化,判断粗糙度信息。应用电缆、金属丝、线材、管材在线粗糙度测量技术指标1.最小测量直径:1mm2.最大测量直径:不限3.样品颜色:不限(透明,半透明,不透明均可)4.表面材质:PE,PVC,PP,PU,PTEE,ETFE,FEP,PFA,SBR,EPDM,金属等5.最大进线速度:150m/min6.测量值:Ra及其他7.Ra测量范围:0.2-10μm8.测量精度:优于0.03μm9.测量速度:250测量值/s特点1.抗冲击,抗震动,免维护2.不同颜色,不同种类材料测量无需再校准3.生产线上安装简单4.占地面积小

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PGI Matrix 高速全自动高精密光学测量系统

PGI Matrix 高速全自动高精密光学测量系统

  • 品牌:
  • 型号: PGI Matrix 1/3/5
  • 产地:英国
  • PGI Matrix配有PGI技术, 快速自动的测量台, 以及全新、易用的软件界面, 能够提供高精度、快速的测量。 无论是单一透镜或是批量透镜测量加载和程序设置都非常简单, 自动定位调整能够保证高精度的测量和平衡分析。 自动去除毛刺和半径优化能够得到可重复的测量结果。 全新的PGI Matrix界面为全自动操作, 是生产车间的理想选择。 软件操作非常容易掌握, 能够为高容量应用的多部件测量提供最简易的程序设置。 快速实用的分析工具能够帮助定位调整和提高测量速度, 大大缩短了自动测量周期。 先进的非球面分析软件(AAU)对形状误差、半径、斜率误差和环带深度进行即时分析, 保证光学质量并节省时间。 独有的专利技术提供纳米级的残余形状误差分析, 先进的算法可以从许多大的衍射台阶高度中, 提供出亚微米级的透镜面形误差。 反算系数功能可对非球面和衍射面样件进行反算, 向设计师提供实际制造透镜面形(带误差)信息的反馈, 方便其对关键设计系统进行调整, 进而提高性能。 新的功能还包括自动毛刺去除、P-V/RMS半径优化、测量周期计算和分拣指示器, 能够在生产环境下确保快速设置参数、自动测量和分析过程。 全新的X轴补偿和半径补偿计算法能够对生产仪器进行快速反馈, 提高产量, 并且能够减少CNC研磨和金刚石车削的调整时间, 对长时间运转产生的温度变化进行快速补偿。 多功能模块化系统, 能够满足各种预算和技术的需求。 三种灵活的仪器配置, 帮助您更好地适应不断变化的业务需求。

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日本三丰超级轮廓测量仪

日本三丰超级轮廓测量仪

  • 品牌:
  • 型号: CV-3000CNC/CV-4000CNC
  • 产地:日本
  • 【产品名称】 日本三丰CV-3000CNC/CV-4000CNC超级轮廓测量仪 型号 CV-3000CNC CV-3000CNC CV-3000CNC CV-3000CNC 货号*(100V-120V) 218-541-1 218-542-1 218-543-1 218-544-1 货号*(200V-240V) 218-541-2 218-542-2 218-543-2 218-544-2 X1轴测量范围 200mm 200mm 200mm 200mm Z2轴垂直行程 500mm 500mm 500mm 500mm Y轴工作台装置 已安装 已安装 a轴装置 已安装 已安装 花岗岩基座尺寸(WxD) 750x600mm 750x600mm 750x600mm 750x600mm 尺寸(主机、WxDxH) 800x620x1200mm 800x620x1200mm 800x620x1200mm 800x620x1200mm 重量(主机) 250kg 250kg 250kg 250kg *根据不同的交流电源电压及测量装置,可选不同的选件套装:12AAH790(公制型、UL/CSA),12AAH791(公制型、欧盟),12AAH792(公制型、BS),12AAH796(公制型、中国),12AAH797(公制型、EK),12AAH793(英制型、UL/CSA),12AAH794(英制型、欧盟),12AAH795(英制型、BS),12AAH798(英制型、中国) 型号 CV-4000CNC CV-4000CNC CV-4000CNC CV-4000CNC 货号*(100V-120V) 218-561-1 218-562-1 218-563-1 218-564-1 货号*(200V-240V) 218-561-2 218-562-2 218-563-2 218-564-2 X1轴测量范围 200mm 200mm 200mm 200mm Z2轴垂直行程 300mm 300mm 300mm 300mm Y轴工作台装置 已安装 已安装 a轴装置 已安装 已安装 花岗岩基座尺寸(WxD) 750x600mm 750x600mm 750x600mm 750x600mm 尺寸(主机、WxDxH) 800x620x1000mm 800x620x1000mm 800x620x1000mm 800x620x1000mm 型号 CV-4000CNC CV-4000CNC CV-4000CNC CV-4000CNC 货号*(100V-120V) 218-581-1 218-582-1 218-583-1 218-584-1 货号*(200V-240V) 218-581-2 218-582-2 218-583-2 218-584-2 X1轴测量范围 200mm 200mm 200mm 200mm Z2轴垂直行程 500mm 500mm 500mm 500mm Y轴工作台装置 已安装 已安装 a轴装置 已安装 已安装 花岗岩基座尺寸(WxD) 750x600mm 750x600mm 750x600mm 750x600mm 尺寸(主机、WxDxH) 800x620x1200mm 800x620x1200mm 800x620x1200mm 800x620x1200mm 重量(主机) 250kg 250kg 250kg 250kg *根据不同的交流电源电压及测量装置,可选不同的选件套装:12AAH800(公制型、UL/CSA),12AAH801(公制型、欧盟),12AAH802(公制型、BS),12AAH806(公制型、中国),12AAH807(公制型、EK),12AAH803(英制型、UL/CSA),12AAH804(英制型、欧盟),12AAH805(英制型、BS),12AAH808(英制型、中国) Contracer Extreme (超级轮廓测量仪) CV-3000CNC / CV-4000CNC 218 系列 CNC 轮廓测量仪 特点 高精度CNC 轮廓/形状测量装置。 X1, (Y) 和Z2 的驱动速度都高达200mm/s,确保实现高速定位,从而大大提高了多轮廓测量和多工件测量任务的速度。 带有轴的型号,可以通过电动旋转X1 轴连续测量水平面和倾斜面。CV- 4000CNC 系列的驱动装置集成了Laser Hologage 检测器,可以在Z 轴(垂直方向)的窄/宽范围内实现高精度和高分辨率测量。 带有Y 轴的工作台的型号可以沿着Y 轴进行多种工件定位,从而扩大了多工件测量范围。 可以通过同时控制X, Y 两轴,对斜面进行测量。 Z1 轴检测器集成了防碰撞安全装置,当主机和工件或夹具碰撞时,检测器将自动停止。 提供易于操作的遥控箱,用户可以通过这两个操纵杆选择合适的轴进行移动。在按键上标有易于理解的图形显示轴的选择状态。 通过USB 与数据处理/分析装置(选件) 进行信息交换 技术参数 X1 轴 测量范围: 200mm 分辨率: 0.05μm 检测方法: 反射型线性编码器 驱动速度: 最大 200mm/s (CNC) 0 - 50mm/s (操纵杆) 测量速度: 0.02 - 2mm/s 移动方向: 向前/向后 直线度: 2μm/200mm * 当X 轴在水平方向上 指示精度: ±(1+4L/200)μm,(20° C 时) * L 为驱动长度(mm) ??轴 倾斜角度: -45° 至 +10° 分辨率: 0.000225° 旋转速度: 1rpm Z2 轴(立柱) 垂直行程: 300mm 或 500mm 分辨率: 0.05μm 检测方法: 反射型线性编码器 驱动速度: 最大200mm/s (CNC) 0 - 50mm/s (操纵杆) Z1 轴 (检测器) 测量范围: ±25mm 分辨率: 0.2μm (CV-3000CNC), 0.05μm (CV-4000CNC) 检测方法: 线性编码器(CV-3000CNC), 激光全息测微计 (CV-40100CNC) 指示精度: ± (2+I4HI/100)μm (CV-3000CNC) (20° C 时) ± (0.8+I0.5HI/25)μm (CV-4000CNC) *H 为水平位置上的测量高度 (mm) 测针上/下运作: 弧形运动 测针方向: 向上/向下 测力: 30mN 跟踪角度: 向上: 70°、向下:70° (根据表面粗糙度,使用标准单切面测针) 测针针尖 半径:25μm、硬质合金针尖 基座尺寸(W x H): 750 x 600mm 基座材料: 花岗岩 重量: 240kg, 250kg (高立柱类型) 电源: 100 240VAC ±10%, 50/60Hz 能耗: 400W (仅限主机) 订货信息 型号 CV-3000CNC CV-3000CNC CV-3000CNC CV-3000CNC 货号*(100V-120V) 218-521-1 218-522-1 218-523-1 218-524-1 货号*(200V-240V) 218-521-2 218-522-2 218-523-2 218-524-2 X1轴测量范围 200mm 200mm 200mm 200mm Z2轴垂直行程 300mm 300mm 300mm 300mm Y轴工作台装置 已安装 已安装 a轴装置 已安装 已安装 花岗岩基座尺寸(WxD) 750x600mm 750x600mm 750x600mm 750x600mm 尺寸(主机、WxDxH) 800x620x1000mm 800x620x1000mm 800x620x1000mm 800x620x1000mm 重量(主机) 240kg 241kg 242kg 243kg

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表面粗糙度仪

表面粗糙度仪

  • 品牌:
  • 型号: SJ-210
  • 产地:日本
  • SJ-210表面粗糙度仪 SJ-210新款表面粗糙度仪 178-561-01DC ■ 对应各国的粗度规格表示机。 ■ 大型LCD屏幕窗口,易于清晰读取。 ■ 使用触控式面板(具抗污性),操作简易。 ■ 可将数据储存于记忆卡(选购品)。 ■ 任意长度设定机能。 ■ 仅按PRINT键即可藉由内藏式打印机打印出量测之结果(可选择不同之打印方式)。 ■ 内藏充电电池,本体携带方便也可收置检出器。 ■ 拥有丰富的参数:自动校正机能、统计处理、合否判定机能、客户自行编辑设计机能判定机能 平移范围 12.5mm(5") 测量范围 300μm(±150μm)[12000μinch(±6000μinch)] 驱动/检测元件 探测仪:178-390/178-395 测头:金刚石 测量力:4mN/0.75mN 探测方式:微感应 评定轮廓 P,R 估计参数 Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Sm,S,Pc,P3z,mr 数字过滤 2CR-75%,2CR-75% PC,Gaussian-50% 截至 λC 0.25,0.8,2.5mm 波长 λS 2.5,8μm 取样长度(L) 0.25,0.8,2.5mm 显示 LCD 打印机 ---- 放大 垂直 ---- 倍数 水平 ---- 数据输出 通过RS232C 接口/SPC输出 电源 通过AC适配器/电池(可充电) 尺寸 62×156.5×52mm 重量 0.48kg

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SmartWLI大视场便携式白光干涉三维轮廓仪

SmartWLI大视场便携式白光干涉三维轮廓仪

  • 品牌:
  • 型号: SmartWLI PortableLA
  • 产地:德国
  • SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术技术特点:5cm直径视场(光斑),800μm垂直测量高度,无需拼接即可在短时间内(通常1分钟)完成大区域面积的三维形貌(轮廓)的测量任务!SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪,专用于车身、印刷滚筒、太阳能电池等工业产品的表面形貌测量与分析。仪器采用白光干涉测量原理,操作简单, 可轻放于样品表面执行测量任务。特有的三脚螺纹支架结构,便于测量弯曲表面。系统内置三束激光校准系统,便于迅速锁定测量区域。外接笔记本电脑完成数据分析,测量结果立体直观呈现。SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪方便携带、易于运输。现场安装与启动几分钟内即可完成。适用于工业产品表面快速、纳米级精度测量。SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪具备如下优点:灵活便携操作简单厘米级视场纳米级精度典型应用领域包括:质量管理工艺控制产品研发 SmartVIS 3D测量软件 欧元硬币表面三维形貌测量图数据分析与结果输出:样品表面三维形貌图解表示几何分析(长度、角度、面积测量;不规则区域、坑洞体积;样品表面台阶高度与侧面轮廓剖面图)粗糙度分析(样品粗糙度与表面波度)材料属性分析(材料摩擦磨损实验测定)区域计算与轮廓参数(满足ISO 25178 : Sa, Sz… 与ISO 4287 : Ra, Rz…标准要求) SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪技术参数测量系统量测原理 白光干涉Z轴定位系统压电效应调节系统高度量测范围最大可达800 μm摄像头参数CCD摄像头;1624x 1234相素校平系统三束激光干涉物镜系统视场范围(mm2)35 x 35最小可分辨横向宽度(um)28工作距离(mm)10垂直分辨率小于10nm光源系统LED外观尺寸295 mm(高)× 180 mm (宽) × 245 mm(长)支架高度调节范围(三脚螺纹支架)大约5-30 mm毛重约3.5 Kg 操作界面笔记本电脑、Windows 7操作系统量测时间通常小于1分钟工作温度10-35℃推荐工作温度18-22℃软件系统SmartWLI基于微软Win7操作系统,64位表面形貌测量软件、三维数据可通过接口直接传输至MountainsMap分析软件。MountainsMap三维数据分析软件,轮廓及三维影像结果输出、测量数据预处理及后处理、德标(DIN)欧标( EN) ISO标准粗糙度及高度测定、串行处理及测试日志。输出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF 车身部件表面三维形貌测试结果 印刷行业:激光凹版容积 (油墨消耗)工艺控制产品研 注塑行业:注塑机的校准 硅晶片表面波纹度与粗糙度测试 其它测试结果欣赏 其它测量结果欣赏

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WYKO NT9300 光学轮廓仪 WYKO NT9300 光学轮廓仪

WYKO NT9300 光学轮廓仪 WYKO NT9300 光学轮廓仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: NT9300
  • 产地:美国
  • 仪器简介:Wyko NT9300采用了Veeco第九代光学轮廓探测技术,在0.1nm到10mm的垂直扫描范围内提供了快速、高精度的三维表面形貌测量功能,是大范围表面测量、数据缝合以及不规则样品测量的理想设备。专利的双路LED照明源显著提高了光强并延长了光源器件的使用寿命,使操作者的各种测量应用都能获得最佳效果。无论操作者经验水平如何,XYZ三向可编程控制马达驱动的工作台系统以及Veeco独有的Tip/Tilt倾斜测量装置都使得测量工作变得异常轻松。业内领先的Wyko Vision软件系统为用户提供了超过200种的分析功能和自动测量控制功能。NT9300集先进的硬件结构与软件系统于一身,是一款满足实验室科研以及工业生产批量自动化在线检测应用需要的高性能表面检测设备。技术参数:1、纵向扫描范围:0.1nm~10mm (标配) 2、最大扫描速度:24um/s 3、样品台尺寸:200mm XY自动样品台(标配)主要特点:1. 非接触测量 2. 重复性高 3. 测量精度高

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SmartWLI 标准型白光干涉三维轮廓仪

SmartWLI 标准型白光干涉三维轮廓仪

  • 品牌:
  • 型号: SmartWLI Basic
  • 产地:德国
  • SmartWLI 标准型白光干涉三维轮廓仪--非接触三维表面形貌测量技术 白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。 德国SmartWLI标准型白光干涉三维轮廓仪结构紧凑,精度高,测速快,满足不同领域用户的测量需求,广泛应用于科学研究、质量管理与工艺控制。 德国SmartWLI标准型白光干涉三维轮廓仪具备如下优点: 1.结构紧凑 2.精度高 3.测速快 4.稳定耐用 5.经济实惠MountainsMAP表面分析软件与三维可视化测量报告作为一款高品质的表面成像与分析软件,MountainsMAP适合实验室、研究机构及工厂各类机能表面的设计、测试或制造设备使用。MountainsMAP拥有一整套全面的解决方案,专用于表面外观及形貌的成像与分析,提供详尽的三维可视化测量报告。SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(一) - 液态轴承SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(二) - 晶片SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(三) - 钻石工具SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(四) - 透镜工具SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(五) - 金属表面SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(六) - 汽车车身表面SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(七) - 粗糙度标准片SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(八) - 发动机汽缸

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中图仪器SJ5700轮廓测量仪

中图仪器SJ5700轮廓测量仪

  • 品牌:
  • 型号: SJ5700
  • 产地:深圳
  • 【产品概述】中图仪器SJ5700轮廓测量仪可测量各种精密机械零件的素线轮廓形状参数,角度处理(坐标角度,与Y坐标的夹角,两直线夹角)、圆处理(圆弧半径,圆心到圆心距离,圆心到直线的距离,交点到圆心的距离,直线到切点的距离)、点线处理(两直线交点,交点到直线距离,交点与交点距离,交点到圆心的距离)、直线度、凸度、对数曲线、槽深、槽宽、沟曲率半径、沟边距、沟心距、轮廓度、水平距离等形状参数。【产品结构】【性能特点】1、 高精度、高稳定性、高重复性:完全满足被测件测量精度要求。1) 选用国际领先的高精度光栅测量系统和高精度电感测量系统,测量精度高;2) 自主研发高精度研磨导轨系统,导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作;3) 高性能直线电机驱动系统,保证测量稳定性高、重复性好;2、 智能化管理与检测软件系统:仪器操作界面友好,操作者很容易即可基本掌握仪器操作,使用十分简便。1) 10多年积累的实用检定软件设计经验,向客户提供简洁、实用、快速的操作体验;2) 功能强大、自动处理数据、打印各种格式的检定报告,自动显示、打印、保存、查询测量记录;3) 测量范围广,可满足绝大多数类型的工件粗糙度轮廓测量;4) 可自动和手动选取被测段进行评定,可依据客户要求进行软件功能的定制;5) 纯中文操作软件系统,更好的为国内用户服务;6) 打印格式正规、美观。检定数据可存档,或集中打印,不占用检定操作时间;7) 本仪器采用计算机大容量数据库储存,可自动记录保存所有检定结果。3、 可进行多参数测量粗糙度自动评价,包括Ra,,Rz,Rp,Rt等4、 测量力系统: 采用音圈电机测力系统,测力可实现从10~150mN连续可调,测力分辨力可达0.2mN;避免了老式砝码加载因周围环境振动带来的测力误差,降低了测力变化引起的测量误差。5、 智能保护系统:一旦出现主机与被测工件或夹具相撞、或测针在扫描过程中出现拉力过大,仪器会停止扫描保护测量系统和测针。6、 灵活手动控制:仪器配置了操作杆,可在测量工件前对测针进行粗定位;在脱离电脑的情况下,让测针左右、上下快速移动。【技术指标】1. X轴1) 测量范围:0~200mm;2) 示值误差:±(0.8+2L/100)um,其中L为水平测量长度,单位:mm;3) 分辨率:0.01um;4) 直线度:2um/200mm5) 测量速度:0.1~5mm/s;6) 移动速度:0~30mm/s;2. 传感器Z1轴1) 测量范围:±25mm;2) 示值误差:±(1.6+|2H|/100)um,其中H为垂直测量高度,单位:mm;3) 分辨率:0.01um;3. Z轴1) 测量范围:0~450mm;2) 移动速度:0~30mm/s;4. 测量力:10~150mN;5. 爬坡能力:上坡77 o,下坡83o;6. 仪器尺寸(长×宽×高):花岗岩平板800×450×100mm 整机:850×500×1100mm;7. 仪器总重量:约150Kg;8. 使用环境:无强磁场,无振动,无腐蚀气体工作温度:20℃ ±2℃相对湿度:40-60%【应用范围】中图仪器SJ5700轮廓测量仪广泛应用于机械加工、汽车、摩托车、精密五金、精密工具、刀具、模具、光学元件等行业。适用于科研院所、大专院校、计量机构和企业计量室。在汽车、摩托车、制冷行业,可测汽车、摩托车、压缩机的活塞、活塞销、齿轮和气门顶杆的母线参数等.并可测量各种斜形零件的参数。在轴承行业,可测内外套圈的密封槽形状(角度、倒角R、槽深、槽宽等);各种滚子轴承的滚子和套圈母线的凸度、角度、对数曲线; 电机轴、圆柱销、活塞销、滚针轴承、圆柱滚子轴承、直线轴承的滚动体和套圈的直线度;球轴承沟道的沟曲率半径及沟边距;双沟轴承的沟心距;四点接触轴承(桃形沟)的沟心距和沟曲率半径等。

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泰勒.霍普森 Surtronic S-100 系列

泰勒.霍普森 Surtronic S-100 系列

  • 品牌:
  • 型号: S116/S128
  • 产地:英国
  • Surtronic S-100系列是超强耐用的便携式表面粗糙度测量仪, 适用于车间、工业和检测间的应用。这一系列仪器在2013年9月发布, 能够为您的粗糙度测量需求提供多种解决方案, 包括多样化的系统和应用相关的配件, 并且能够为您的特殊需求定制工装。耐冲击性橡胶化塑性整个机身, 聚脂薄膜保证了触摸屏的持久耐用性,抗磨损的齿轮和轴承坚固的不锈钢驱动机构。 大容量锂聚合物电池, 一次充电后可进行至少2000次测量。即开即用能够让仪器在待机状态下1秒即可启用测量, 充满电后待机能力长达5000个小时。任何表面, 任何高度。 包括一个50mm长的测针升降装置和直角附件,以及深达70mm的测量能力, 在不需要昂贵的垫块、支架或工装的情况下, 对最具挑战性的测量位置进行检测。 防滑的V型脚架设计使系统能够用在平滑或弯曲的平面上。 测针还能够反方向底部测量。像其它导航或智能手机一样, 拥有4.3寸大尺寸触屏, 易读性强。 一页上可显示多至7个参数。可将屏幕旋转四个方向。 轻触快捷键即可进行所有关键设置。A类型USB 2.0可连接便携式打印机或USB存储设备。 迷你USB 2.0用于充电或连接电脑传输数据。

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轮廓投影仪系列TESA SCOPE 300V

轮廓投影仪系列TESA SCOPE 300V

  • 品牌: 瑞士TESA
  • 型号: TESA SCOPE 300V
  • 产地:瑞士
  • 仪器简介:-垂直照射轮廓投影仪 -300毫米的360°旋转投影屏做了消光处理,十字线分划板有30°,60°和90°三种,并带有4个压图夹。 -内置的数字式量角器以度分秒或度的形式显示投影屏的旋转角度。 -绝对或相对角度显示模式 -轮廓照明光带有绿色滤光器,增强图像的对比度,使得测量更轻松并减少了操作者的人为误差。 -可调整的光纤表面照明可对局部补光,以达到完美的轮廓显现。 -系统带有<省电>模式,当仪器持续几分钟不使用时会自动关断照明灯,使得灯泡寿命延长5倍。 -测量台可横向和纵向移动,并配备有分辨率达0.001mm的增量式玻璃光栅的位移测量系统。 量程: 200x100标准型 300x150"Plus"型 X轴配有离合器装置,松开时可快速移动工作台。 X轴位移的旋转手柄同时适合习惯于左手或右手操作者,非常人性化。 工件重量可达20公斤也不影响精度 记录本架在侧面主要特点:专用于表面零件测量,特别是用于微机械零件的测量

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SmartWLI 便携式白光干涉三维轮廓仪

SmartWLI 便携式白光干涉三维轮廓仪

  • 品牌:
  • 型号: SmartWLI Portable
  • 产地:德国
  • SmartWLI便携式白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。SmartWLI - 便携式白光干涉三维轮廓仪,专用于大尺寸部件表面形貌测量与分析。仪器操作简单,测量时放置于样品表面;独有的三脚支架结构,方便曲面部件测量;外接笔记本电脑完成数据分析,测量结果立体直观呈现。SmartWLI - 便携式白光干涉三维轮廓仪外形紧凑、结构稳固,轻松应对多种测量环境;测速快,精度高,为工业用户提供最优化的产品表面形貌测量条件,适用于产品工艺控制与质量管理。SmartWLI便携式白光干涉三维轮廓仪具备如下优点:灵活便携精度高测速快稳定可靠 SmartWLI便携式白光干涉三维轮廓仪技术参数测量系统量测原理 白光干涉Z轴定位系统压电效应调节系统高度量测范围最大可达400 μm干涉物镜系统放大倍数10×20×视场范围(μm2)480 × 360320 × 240最小可分辨横向宽度(μm)1.200.90工作距离(mm)7.44.7注:上述数据皆为估算值。垂直分辨率小于1 nm光源系统LED外观尺寸270 mm(高)× 127 mm (宽) × 165 mm(长)毛重3 Kg 约值,取决于具体配置。操作界面笔记本电脑、Windows 7操作系统、DVD刻录。量测时间通常小于1分钟软件系统SmartWLI基于微软Win7操作系统,64位表面形貌测量软件、三维数据可通过接口直接传输至MountainsMap分析软件。MountainsMap三维数据分析软件,轮廓及三维影像结果输出、测量数据预处理及后处理、德标(DIN)欧标( EN) ISO标准粗糙度及高度测定、串行处理及测试日志。输出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF

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Filmetrics Profilm3D 光学轮廓仪

Filmetrics Profilm3D 光学轮廓仪

  • 品牌:
  • 型号: Profilm3D
  • 产地:美国
  • Filmetrics Profilm3D 光学轮廓仪

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美国Rtec变焦轮廓仪\形貌仪

美国Rtec变焦轮廓仪\形貌仪

  • 品牌:
  • 型号: MFT-VF
  • 产地:美国
  • 产品介绍:美国Rtec公司变焦式三维形貌仪是微纳米级质量保证的光学三维粗糙度轮廓仪,其原理是采用目前世界领先的自动变焦(Focus-Variation)技术。该技术将小景深的光学系统与垂直扫描完美地结合在一起。产品特点: 能够同时测量表面形貌和粗糙度 能够测量小半径和小角度 能够测量超过80°的斜面 可获得真实的表面颜色信息 具有较高的测量速度 适用于苛刻环境下的检测(有噪音或振动) 提供360°的形状和粗糙度测量 不同表面表征的检测(光滑表面或粗糙表面,样品无需专门处理) SPIP专业数据分析软件产品参数: 垂直分辨率:10nm 水平光学分辨率:300nm 水平取样距离:90nm 最大扫描高度:22mm 最大扫描面积:10000mm2产品应用: 该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学元器件、金属、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。可测透明、半透明,高漫反射、低反射率,抛光、粗糙材料等(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…) 曲率半径 三维和二维成像 薄膜厚度 台阶高度 孔洞深度 表面形貌测量 粗糙度测量 表面纹理测量 面积和体积的测量与分析

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