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轮廓仪

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轮廓仪

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轮廓仪是对物体的轮廓、二维尺寸、二维位移进行测试与检验的仪器。轮廓仪主要优点是可以直接测量某些难以测量到的零件表面,如孔、槽等的表面粗糙度,又能直接按某种评定标准读数或是描绘出表面轮廓曲线的形状,且测量速度快、结果可靠、操作方便。轮廓仪广泛应用于机械加工、电机、汽配、摩配、精密五金、精密工具、刀具、模具、光学元件等行业。
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Profilm 3D光学轮廓仪

Profilm 3D光学轮廓仪

  • 品牌: 美国Filmetrics
  • 型号: Profilm 3D
  • 产地:美国
  • 供应商:优尼康科技有限公司

    Profilm3D仅用10倍物镜就提供了达到2mm的超大视场范围,同时其最大4倍光学变焦的功能缓解了不同应用时切换多个物镜的需求。这些都进一步降低了采购成本。

3D光学轮廓仪S neox

3D光学轮廓仪S neox

  • 品牌: 西班牙Sensofar
  • 型号: S neox
  • 产地:西班牙
  • 供应商:北京东方德菲仪器有限公司

    3D光学轮廓仪S neox 将共聚焦、干涉和多焦面叠加3种测量技术融合于一体,测量头内无运动部件。3D光学轮廓仪S neox 为客户展现全新的3D立体形貌。

SmartWLI 传统二维光学显微镜三维轮廓/形貌扫描升级方案

SmartWLI 传统二维光学显微镜三维轮廓/形貌扫描升级方案

  • 品牌: 德国GBS
  • 型号: SmartWLI - Microscope
  • 产地:德国
  • 供应商:WinWinTec UG

    SmartWLI传统光学显微镜升级技术 亚纳米级分辨率白光干涉技术与三维表面形貌测量传统二维光学显微镜可以升级为三维表面形貌测量装置,极大提升应用效能。图1.干涉物镜通过接合器安装于传统光学显微镜,升级后的显微镜具备高分辨三维表面形貌测量功能显微镜的重要性不只在于研究与记录,更在于产品质量监测与样品表面分析。光学显微镜已经成为许多实验室的标配设备。对于大多数样品来说,传统二维显微镜不足以获得其表面所有形貌细节。因此,三维表面形貌测量技术正逐渐成为一种重要的表征手段。 图2. 金属表面二维、三维测量结果比较 其典型应用领域包括不同表面粗糙度试样的三维表面形貌观察(如晶片结构,镜面,玻璃,金属),台阶高度测定和曲面精确测量(如微型透镜)。当前,许多研究机构都有三维表面形貌测量设备的采购需求。但事实上,只要满足下列条件,世界上多数知名品牌的传统光学显微镜都可以升级为高精度三维表面形貌测量设备:* 无限远、中间像光学系统;* 反射明场照明系统;* CCD摄像头接口;* 可更换物镜的镜筒位于德国Ilmenau的GBS公司已经成功利用其SmartWLI显微镜升级技术为蔡司、尼康、莱卡、奥林巴斯等众多品牌的传统光学显微镜完成升级工作。其基本原理为白光干涉一种成熟的三维表面形貌测量方法,测量精度可以达到亚纳米量级。同传统的单色光干涉技术大为不同,SmartWLI白光干涉技术采用相干长度达到2um的宽频带光。实际测量必须深入相干区域扫描,每隔70-80nm取样。而单色光干涉技术多用激光,相干长度达到数千米,不能用来观察纳米级的区域。当光程差接近相干长度时,干涉差变得更小。通过参考面,以设定好的步频移动被测物体,每移动一个步频,记录一个干涉图样,这样大量干涉图样就以像素为单位记录下来。若数据的采集与处理同时进行即可在数秒之内得到测量表面区域的高度信息(形貌特征)。GBS公司研发的Smart WLI软件可以对测量数据进行高速运算。三维数据的计算任务转交图形处理器(GPU)完成,一百万测量点的数据处理时间可从30秒降到1秒以内。SmartWLI显微镜升级技术特征德国GBS公司的SmartWLI 显微镜升级技术可以将传统二维显微镜升级为先进的三维表面形貌测量设备。该技术涉及硬件组件包括:* 一套基于压电效应、由电脑控制的定位系统(定位精度在纳米量级);* 一款高质量的干涉透镜;* 一款高灵敏度CCD摄像头,带有GigE接口;选件:电动XY轴平台、高性能电脑与拼接技术,可实现大表面三维形貌测量。PC配置要求:因特尔i5处理器,微软Windows操作系统,4G内存,具备高速计算能力 的英伟达图形处理器(NVIDA GPU),TFT液晶显示屏,键盘与鼠标。GBS SmartWLI显微镜升级技术选用的压电调节器由德国Piezo System Jena公司开发研制。该款MIPOS透镜调节器纵向方向(Z轴方向)扫描范围可达500 um,可选择相干透镜(物镜)的放大倍数在2.5倍到100倍之间。GBS公司开发的SmartWLI软件具备操作直观、数据分析快速、纳米级精度显示等优点,可以对采集到的三维测量数据进行基础运算。经SmartWLI软件处理后的三维测量结果,可再交由图形分析软件MountainsMap做进一步处理,最终可得到二维、三维表面形貌图像、粗糙度、台阶高度、微粒分析与报告等。 基于图形处理器GPU的高速运算功能,三维测量数据运算可以与形貌扫描同步进行。在不过度占用电脑中央处理器(CPU)与内存空间的前提下,实现大范围的三维形貌测量。显微镜升级后的主要测量参数:纵向测量范围: 最大可达400 um横向测量范围: 649 um×483 um (10倍物镜);324 um×241 um (20倍物镜) 129 um×96 um (50倍物镜) (注意:上述数据皆为估算值,实际横向测量范围需参考用户现有显微镜参数)纵向(Z轴)分辨率: <1 nm横向分辨率: 1.66 um(10倍物镜);0.96 um(20倍物镜);700 nm(50倍物镜) 扫描速度: 3.6 - 16 um/s 计算时间: 一百万测量点数据/一秒内SmartWLI显微镜升级技术的其它优势:* 无需新的设备技术,缩短培训周期;* 利用现有测量平台,节省实验室空间;* 保留原有二维测量功能,兼具三维测量能力;* 立足用户原有组件,大幅节省升级费用; (可利用组件包括:光源、镜筒、镜头旋转器、Z轴调节器、XY轴测量平台)。* 全面的三维表面形貌测量功能自动拼接技术与钻石磨削头的三维表面形貌测量升级后的显微镜可以对钻石磨削头进行纳米级分辨率的三维表面形貌测量,可得到表面钻石的形貌和体积。我们可借助本次测量实例,深入了解一种SmartWLI 显微镜升级技术独具的“自动拼接”功能 - 即将大量二维测量区域上的“干涉图样摞”再次叠加,生成更大检测区域的三维图像。软件上的“自动拼接”功能结合硬件上的电动XY轴平台,就可实现更大表面的三维形貌测量。 图3.钻石磨削头三维表面形貌测量结果 (10倍物镜,3×3阵列拼接) 图3所示为选用10倍物镜,以3×3阵列(9倍单位扫描区域),经“自动拼接”得到的三维表面形貌测量结果。借助“自动拼接”功能,可以在数分钟内实现大表面(百倍以上单位测量区域)的三维形貌测量。结语:德国GBS公司SmartWLI 显微镜升级技术为传统光学显微镜提供了一种全新的升级方式。经验丰富的GBS工程师可以为您升级现有的显微镜,培训操作人员。SmartWLI显微镜升级技术不但不会对用户现有显微镜的固有功能造成损害或限制,还可以兼容其原有软件。1) 德国GBS公司官网:www.gbs-ilmenau.de2) 德国WinWinTec公司(GBS中国市场渠道商)官网:www.winwintec.com

SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪

SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪

  • 品牌: 德国GBS
  • 型号: SmartWLI Extended
  • 产地:德国
  • 供应商:WinWinTec UG

    SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪拥有纳米级测试精度,外接PC或笔记本电脑进行实时数据分析。SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪功能全面,轻松应对各种测试环境。电动XY双轴样品台匹配自动拼接程序,应对大面积测试任务。典型应用包括科学研究、质量控制和工艺管理。德国GBS公司SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪具备如下优点: 通用型 精度高 测速快 稳定可靠 自动拼接SmartWLI- 扩展型白光干涉三维轮廓仪技术参数:花岗岩基座、脚架电动X Y双轴样品台(尺寸:226 x 232 mm2;移动范围:76 x 52mm2) 测量端配物镜转换台、同时兼容4款物镜PC界面、Windows 7系统,NVIDIA 图形处理器具备超速运算功能SmartWLI形貌测量软件、“自动拼接”功能MountainsMap三维图像处理软件 MountainsMAP分析软件作为一款高品质的表面成像与分析软件,MountainsMAP 适合实验室、研究机构及工厂各类机能表面的设计、测试或制造设备使用。MountainsMAP拥有一整套全面的解决方案,专用于表面外观及形貌的成像与分析,提供详尽的三维可视化测量报告。 SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪技术参数测量系统量测原理 白光干涉Z轴定位系统压电效应调节系统高度量测范围最大可达400 μm摄像头参数CCD摄像头;1624x 1234相素干涉物镜系统放大倍数MAG视场范围FOV (mm)横向分辨率 (um)2.5 ×, 5 ×, 10 ×, 20 ×, 50 ×, 100 ×4.12 × 3.06 mm2 - 0.103 × 0.076mm210.54 μm - 0.55 μm光源LED测试时间通常<20秒软件系统SmartWLI基于微软Win7操作系统,64位表面形貌测量软件;三维数据可通过接口直接传输至MountainsMap分析软件。MountainsMap三维数据分析软件,轮廓及三维影像结果输出、测量数据预处理及后处理、德标(DIN)欧标( EN) ISO标准粗糙度及高度测定、串行处理及测试日志。输出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF更多SmarWLI系列白光干涉三维轮廓仪产品信息,请访问www.WinWinTec.com与 www.smartWLI.de(2012年1月技术数据)SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(一)-液态轴承SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(二)-晶片SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(三) - 钻石工具SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(四)-透镜工具SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(五)-金属表面SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(六)-汽车车身表面SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(七)-粗糙度标准片SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(八) - 发动机汽缸

ContoruGT 系列光学轮廓仪

ContoruGT 系列光学轮廓仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: ContoruGT 系列
  • 产地:德国
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    ContourGT 系列产品结合先进的64位,多核心运作及分析软件,专利的白光干涉仪(WLI)硬件,以有前所未具简易操作度,为目前所开发量先进的3D光学表面轮廓仪。

多功能摩擦磨损试验机

多功能摩擦磨损试验机

Bruker ContourGT 非接触3D光学轮廓仪

Bruker ContourGT 非接触3D光学轮廓仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: ContourGT
  • 产地:德国
  • 供应商:北京亿诚恒达科技有限公司

    ContourGT 非接触3D光学轮廓仪 ContourGT表面计量系列产品用于生产和研发的非接触式三维光学轮廓仪业界最高垂直分辨率极高的可靠性和最好的测量重复性最高的表面测量和分析速度最强的使用性,操作简便,分析功能强大30年技术革新,实现非接触式表面测量技术高峰ContourGT系列结合先进的64位多核操作和分析处理软件,专利技术白光干涉仪(WLI)硬件和前所未有的操作简易性,推出历年来来最先进的3D光学表面轮廓仪系统。第十代光学表面轮廓仪拥有超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有业界最高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中,最广泛使用和最直观的3D表面计量平台。业界最高的垂直分辨率,最强大的测量性能0.5倍至200倍的放大倍率,在极宽的测量范围内,对样品表面形状和纹理进行表征。任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程提供了无以伦比的测量灵活性。高分辨率摄像头可选配件,提高了横向分辨率和GR&R测量的重复性。多核处理器下运行的Vision64? 软件,大大提高三维表面测量和分析速度新的软件设计使数据处理速度提高几十倍。多核处理器和64位软件使数据分析速度提高十倍。无以伦比的无缝拼接能力,可以把成千上万个数据拼接成一张连续的完美图像  测量硬件的独特设计增强生产环境中的可靠性和重复性高亮度的双LED照明专利技术提高测量质量。最佳化的硬件设计提高了仪器对震动的容忍度和GR&R测量的能力。专利的自动校准能力确保了仪器与仪器之间的相关性,测量准确度和重复性。高度直观的用户界面,拥有业界最强的操作简便和分析功能强大优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程,从而提高仪器和操作者效率独特的可视化操作工具为用户提供易于学习和使用的数据分析选项用户可自行设置数据输出的界面 三十年技术创新,迎来第十代全新产品我们的干涉仪是世界上第一个包含了著名的垂直扫描干涉技术(VSI模式),扫描头倾斜调整,专利的自动校准和双LED照明等革新技术。ContourGT系列既结合了这些已被证实的设计功能,又在硬件上进行了大量的改进,从而给用户提供了目前世界上最精确的、重复性最好的光学轮廓仪性能。 Bruker的光学轮廓仪具有已被证实的,将近三十年的优越性能运行跟踪记录,从研究型实验室到生产型工厂的上万台安装记录。 ContourGT-X光学轮廓仪配备有一体式的气动平台和双层金属铸件,此两种设计都是为了隔离震动以避免干扰测量效果,从而获得快速、精确的、可通过GRR测试的测量结果。OMM结合了Bruker专利的双LED照明光源技术,在任何样品任意放大倍数下均可提供卓越的照明强度和均匀性。OMM还能在整个10mm测量量程内提供无以伦比的准确性和可重复性。马达驱动的多放大倍率检测器可包含最大三个视场目镜,以最大化放大倍率的灵活性和稳定性。ContourGT系列可选择型号中,具有包含Bruker专利技术的内置一级标准自校准功能的能力,使得闭环扫描的性能最大化。此模块包含一个参考信号,在仪器启动时对系统进行自校准,然后连续监控并校正每次测量,以保证绝对的精确度和卓越的重复性。Bruker的倾斜调整支架设计可使得OMM倾斜,而不是样品倾斜。这样,被测量的样品将总处于聚焦位置,并且在测量的视野中,确保了操作的一致性和简易性。*这些选项仅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型号上具有。在ContourGT-X型号中具有全自动的8英寸或12英寸样品台。两种样品台均配备有0.5um重复性的编码器。ContourGT-K1型具有可选的6英寸马达驱动样品台。还可选配具有Z方向聚焦旋钮的XY操纵杆。选配的马达驱动塔台可安装最多4个干涉物镜,从1倍至100倍。塔台设计确保了当您切换物镜时,您的测试点始终处于聚焦和中心位置。在防震台的后面配备有一个LED光源以帮助样品聚焦和确保操作可观度。辅助操作灯泡*塔台自动样品台倾斜调整支架*自校准功能*光学计量模块(OMM)卓越的震动隔离性能*

DektakXT探针式表面轮廓仪/台阶仪

DektakXT探针式表面轮廓仪/台阶仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: DektakXT
  • 产地:美国
  • 供应商:北京亿诚恒达科技有限公司

    DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5?。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰,更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT一定能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)的技术突破,使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。DektakXT 完美设计探针系统的评价体系受三个因素影响:能否重复测量,数据采集和分析速度快慢,操作的难易程度。这些因素直接影响了数据的质量和操作效率。DektakXT利用全新结构和和最佳软件来实现可重复、时间短、易操作这三个必要因素,达到最佳的仪器使用效果。强化操作的可重复性 Delivering Repeatable MeasurementsDektakXT在设计上的几个提高,使其在测量台阶高度重复性方面具有优异的表现,台阶高度重复性可以到达5?.使用single-arch结构比原先的悬臂梁设计更坚硬持久不易弯曲损坏,而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响。同时,Bruker还对仪器的智能化电子器件进行完善,提高其稳定性,降低温度变化对它的影响,并采用先进的数据处理器。在控制器电路中使用这些灵敏的电子元器件,会把可能引起误差的噪音降到最低,DektakXT的系统因此可以更稳定可靠的实现对高度小于10nm的台阶的扫描。Single-arch结构和智能器件的联用,大大降低了扫描台的噪音,增强了稳定性,使其成为一个极具竞争力的台阶仪(表面轮廓仪)。提高数据采集和分析速度 SpeedingUp Collectionand Analysis利用独特的直接扫描平台,DektakXT通过减少从得到原始数据到扣除背底噪音所需要的时间,来提高扫描效率。这一改进,大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描的扫描速度。在保证质量和重复性的前提下,可以将数据采集处理的速度提高40%。另外,DektakXT采用Bruker 64-Bit数据采集分析同步操作系统Vision64,它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度,并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描时的数据分析处理效率。Vision64还具有最有效直观的用户界面,简化了实验操作设置,可以自动完成多扫描模式,使很多枯燥繁复的实验操作变得更快速简洁。完善的操作和分析系统 PerfectingOperationand Analysis与DektakXT的创新性设计相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析软件。Vision64提供了操作上最实用简洁的用户界面,具备智能结构,可视化的使用流程,以及各种参数的自助设定以满足用户的各种使用要求,快速简便的实现各种类型数据的采集和分析。DektakXT 技术参数—台阶高度重复性5?—Single-arch设计大大提高了扫描稳定性—前置敏化器件,降低了噪音对测量的干扰—新的硬件配置使数据采集能力提高了40%—64-bit,这一Vision64同步数据处理软件,使数据分析速度提高了十倍。功能卓越,操作简易—直观的Vision64用户界面操作流程简便易行—针尖自动校准系统让用户更换针尖不再是难事台阶仪(表面轮廓仪)领域无可撼动的世界领先地位—布鲁克的台阶仪,体积轻巧,功能强大。—单传感器设计提供了单一平面上低作用力和宽扫描范围

Bruker - 光学轮廓仪/台阶仪/FTIR

Bruker - 光学轮廓仪/台阶仪/FTIR

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: Ultima活体多光子显微镜系列
  • 产地:德国
  • 供应商:香港电子器材有限公司

    产品简介Ultima活体多光子显微镜系列快速、灵活的活体深层成像平台更深 (970um)、更快 (45FPS@12KHz)、更清楚、并适合大动物成像。  Ultima活体多光子显微镜应用:• 活体成像• 神经的在体成像• 行为模式的在体成像• 光激活Ultima IntraVital 主要用于从小鼠到猕猴的活体成像,提供了优异的成像深度和成像速度。Ultima IntraVital拥有以下特质:• 高速3D成像• 误差小于20 nm的光刺激精准控制• 物镜下适合对大动物进行操作的无障碍空间• 样品保持静止,显微镜和扫描单元可XY方向精确平移• 可无缝整合第三方行为控制和电生理记录设备• 可灵活升级透射光路和桥式载物台Ultima InVitro采用经典的正置或倒置显微镜设计,主要用于脑片等组织切片、培养细胞的观察,或小鼠的在体观察。典型的Ultima InVitro应用包括神经信号传导、组织结构性质变化、蛋白运输和细胞内离子动态观察。Ultima Investigator采用正置显微镜设计,是最具性价比的Ultima多光子显微镜系统。功能强大的基础配置:Investigator配备了科学家进行大多数研分所需要的一切配置,包括扫描振镜、正置显微镜平台、电动Z调焦装置、激光导入和整形光路、两个荧光通道光路/PMT、模拟输入和输出电路、高性能工作站,以及全功能的Prairie View软件。灵活的升级配置:Ultima Investigator提供了大量 升级选项,用来满足最具挑战性的实验需求。Prairie View软件 (一键设定的成像模式)• 线扫成像• ROI成像• 全视野光激光• 点状或者螺旋状光刺激• 延时体成像• Z轴层切• 多维成像• 大视野拼图成像 Vutara 350 超高分辨率显微镜世界上最快的超高分辨率显微镜活细胞、高速、超高分辨率、3D成像分辨率20nm@XY, 50nm@Z,采用单分子定位技术,单层扫描时间10秒钟。 升级选项包括:• 激光器• 多色成像模块• 活细胞培养装置• 物镜• 全内反射成像模块(TIRF)Vutara SRX软件功能:实时渲染微管结构的超高分辨率图像结果。不同颜色表示不同的Z轴位置信息。Z轴定位信息 (共测量28个TetraSpeck荧光微珠,12nm的定位精度)。不同通道的共定位精度为:X=6nm,Y=4nm,Z=5nm。高速灵敏 并行处理超高速三维空间颗粒追踪单分子定位Opterra II 多点扫描激光共聚焦显微镜灵活高速定量的细胞成像系统应用:• 提供了扫描速度、分辨率和检测灵敏度的最灵活选择• 最佳的视场均一性,更适合定量分析• 最低的光漂白/光毒性,无论再敏感的样品均可进行三维的动态成像 海绵胚胎,40倍物镜,561nm激光激发,采集56个Z轴切片,切片间隔2微米,完成整个Z轴序列耗时一分钟。胰腺瘤切片,3D大视野拼图,六十倍物镜成像视野。2mmx1.5mm小鼠输卵管切片。Dimension FASTSCAN 原子力显微镜 (新一代高成像速度AFM)Dimension FastScan™ 原子力显微镜(AFM)将AFM的性能应用在高分子、半导体、能源、数据存储及材料领域等奈米级研究。在不损失超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。当您对样品进行扫描时,无论设置实验参数为扫描速度 > 125Hz,还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像,都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。Dimension FastScan™ 原子力显微镜(AFM)是Dimension家族产品中的最新成员,以世界上最广泛使用的AFM平台为基础,Dimension FastScan™ 的温度补偿定位传感器使Z 轴的的噪音水平达到亚-埃米级,X-Y 方向达埃米级,在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍,自动激光调节和检测器调节,智能进针,大大缩短了实验时间。在大样品台、90 微米扫描范围系统的仪器当中,这种表现是非常突出的,优于绝大部分的开环、高分辨率AFM 系统的噪音水平。Dimension FastScan™ AFM具有对大样品的自动成像能力,使之在半导体和数据存储设备的制造过程中广泛使用,它能够测量直径达200 mm的样品上测量100多个区域。它具有原子力显微镜和扫描穿隧式显微镜的全部配置,可以在三维尺寸上探测缺陷、测量表面粗糙度和其他特征,测量过程对样品无损伤并且无需对样品进行预处理和修饰。(1)Scanning Capacitance Microscopy (SCM)扫瞄电容式显微镜主要利用样品(一般为半导体)表面多数载子(电子或电洞)的变化来成像,于针尖和样品之间施加一交流偏压,针尖在样品表面进行扫瞄,藉由一超高灵敏度、高频震荡电路来监测针尖和样品之间的电容改变。SCM普遍运用于半导体制程中分析二维掺杂量分布和缺陷。    (2)Conductive AFM (C-AFM) 导电式原子力显微镜之电流主要分析中、低导电度半导体的导电度变化。 CAFM 作为一般用途的量测时,使其电流范围可从fA到mA,并使用导电探针,在一般操作下会施加直流偏压于针尖上而让样品接地。当运用z回授讯号来产生接触式AFM影像时,电流会流通针尖和样品,藉以产生导电性的AFM影像。    (3)Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM)扫描扩展电阻式显微镜专利之扫描扩展电阻式显微镜Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM)是从Contact mode AFM衍生出的第二成像机种,主要作为半导体材料中二维载子浓度分布(电阻)成像之用。当施加直流偏压于针尖和样品之间,同时间一导电探针以接触方式扫描样品,并以10pA到0.1mA的对数电流放大器来量测针尖和样品之间所产生的电流。  右图为InP异质结构的SSRM影像,右图为Contact mode AFM影像(扫描范围为7mm) 由Lucent Technologies提供。在SSRM影像中的对比清楚地呈现异质结构的不同区域:锌掺杂p-型层和S掺杂的n-型层。(4)Surface Potential表面电位 Surface Potential (SP)表面电位成像,是从Tapping Mode衍生出的第二成像模式,利用样品表面的静电位来成像。当针尖于Lift Mode 下行经样品表面上方,由于针尖和样品表面各个位置的电位是不同的,所以悬臂和针尖会有一作用力,藉由变换针尖上的电压使得针尖上的电位和样品的表面电位维持一致来抵销作用力, SP影像用来侦测和定出接触电位的差异(CPD)。 右图为CD-RW Tapping mode量测图而左图为Surface Potential影像,只有在Surface Potential的影像中可呈现出bit(5µm扫瞄范围) 。。ContourGT 产品系列 - 表面量测系统- 供生产QC/QA及研发使用的非接触型光学轮廓仪ContourGT™ 系列产品结合先进的64位、多核心运作及分析软件、专利的白光干涉仪(WLI)硬件,以及前所未具简易操作度、为目前所开发最先进的3D光学表面轮廓仪。ContourGT 系列产品中包含有旗舰级ContourGT-X、进阶级ContourGT-I及入门等级的桌上型K0。每款机型可提供多种加工与制造业市场上各种应用范围 (包括高亮度LED、 太阳能、眼科、 半导体及医疗装置等)。 NPFLEX为大尺寸工件精密加工提供非接触准确测量。ContourGT-K0ContourGT-IContourGT-XNPFLEXBump球高度、圆度测量打线后的芯片铜线封装–打线最深测量及铝溅高测量Laser Marking 最深测量Contour GT-I配备倾斜调整支架、自动样品台和多物镜自动塔台,实现全面、精准的表面测量任务,满足科研和生产各领域检测需求。Contour GT-I采用Bruker专利的抗震测量技术,及节省空间高稳定性的基座设计,保证在生产车间测试环境条件非常苛刻的情况下,也能完成准确高效的产品测量。配AFM功能以实现1万倍放大倍数UMT机械性能测试仪CETR-UMT是唯一一个能够在单一平台实现所有三种检测类型的仪器,主要包括球-盘,针-盘,盘-盘,环-盘和四球的旋转运动;线性运动的球-盘,针-盘,盘-盘,环-盘及交叉柱;和密封轴承的快-环。盘 / 盘模块配备1000˚C高温腔的盘/盘模块配备300˚C高温腔的往复式模块纳米压痕模块* UMT-1 纳米材料和薄膜的纳米级,微米级力学综合性能测试,载荷范围:1微牛顿 - 10牛顿* UMT-2 显微材料和涂层的微米级力学综合性能测试,载荷范围:1毫牛顿 - 200牛顿* UMT-3 金属,陶瓷材料和润滑油宏观尺度力学性能测试,载荷范围:0.1牛顿 - 1000牛顿傅氏转换红外线光谱分析仪系统 (FTIR)- 利用红外线光谱经傅利叶转换进而分析杂质浓度的光谱分析仪器技术参数:1. 分辨率: 0.5cm -1,可升级至0.25cm -12. 信噪比优于40,000:1 (一分钟测试)3. 专利ROCKSOLID干涉仪,抗震性能优,免维护4. 可以连接红外显微镜、热失重,气相色谱、振动园二色5. 远红外、中红外、近红外多波段测量​

smartWLI Prime白光干涉三维轮廓仪

smartWLI Prime白光干涉三维轮廓仪

SmartWLI-Double Z-axis双轴三维形貌轮廓仪

SmartWLI-Double Z-axis双轴三维形貌轮廓仪

  • 品牌: 德国GBS
  • 型号: SmartWLI-Prime Double Z-axis
  • 产地:德国
  • 供应商:WinWinTec UG

    SmartWLI-Prime双轴三维形貌轮廓仪配备0.1nm高分辨率的小量程Z轴和小于100nm分辨率的大量程Z轴 2015年11月,德国WinWinTec公司再次向市场推出了一款由我公司代理的SmartWLI品牌的三维相貌轮廓仪,该产品将两种Z轴方向的移动控制模式整合在一起,是两种模式一体化,可以实现两种Z轴移动模式的自由切换,测量范围从nm水平到mm水平,实现纳米分辨率到亚微米分辨率,可测量不同类型的产品,适用于大轮廓形貌到微小形貌的多种应用需求。v产品特点 1.两种Z轴移动控制模式,压电陶瓷马达控制小量程和步进电机控制大量程,整体测量范围实现0.1nm~100mm; 2.小量程Z轴实现最大400um的测量范围,测量分辨率在PSI模式下0.1nm; 3.大量程Z轴实现最大100mm的测量范围,测量分辨率小于100nm; 4.Z轴方向移动的实现自动控制,通过相关软件和控制手柄可自动对焦,同时Z轴采用自动拼接技术,实现整体全自动测量; 5.标配压电陶瓷马达控制的Z轴测量头,样品垂直方向测量最大高度:400um,测量分辨率PSI模式:0.1nm,VSI模式:1nm; 6.可选配不同放大倍数的标准干涉物镜(2.5X,5X,10X,20X,50X,100X);配置控制和快速采集信号采集软件SmartWLI_VIS。

SmartWLI 便携式白光干涉三维轮廓仪

SmartWLI 便携式白光干涉三维轮廓仪

  • 品牌: 德国GBS
  • 型号: SmartWLI Portable
  • 产地:德国
  • 供应商:WinWinTec UG

    SmartWLI便携式白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。SmartWLI - 便携式白光干涉三维轮廓仪,专用于大尺寸部件表面形貌测量与分析。仪器操作简单,测量时放置于样品表面;独有的三脚支架结构,方便曲面部件测量;外接笔记本电脑完成数据分析,测量结果立体直观呈现。SmartWLI - 便携式白光干涉三维轮廓仪外形紧凑、结构稳固,轻松应对多种测量环境;测速快,精度高,为工业用户提供最优化的产品表面形貌测量条件,适用于产品工艺控制与质量管理。SmartWLI便携式白光干涉三维轮廓仪具备如下优点:灵活便携精度高测速快稳定可靠 SmartWLI便携式白光干涉三维轮廓仪技术参数测量系统量测原理 白光干涉Z轴定位系统压电效应调节系统高度量测范围最大可达400 μm干涉物镜系统放大倍数10×20×视场范围(μm2)480 × 360320 × 240最小可分辨横向宽度(μm)1.200.90工作距离(mm)7.44.7注:上述数据皆为估算值。垂直分辨率小于1 nm光源系统LED外观尺寸270 mm(高)× 127 mm (宽) × 165 mm(长)毛重3 Kg 约值,取决于具体配置。操作界面笔记本电脑、Windows 7操作系统、DVD刻录。量测时间通常小于1分钟软件系统SmartWLI基于微软Win7操作系统,64位表面形貌测量软件、三维数据可通过接口直接传输至MountainsMap分析软件。MountainsMap三维数据分析软件,轮廓及三维影像结果输出、测量数据预处理及后处理、德标(DIN)欧标( EN) ISO标准粗糙度及高度测定、串行处理及测试日志。输出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF

SmartWLI 标准型白光干涉三维轮廓仪

SmartWLI 标准型白光干涉三维轮廓仪

  • 品牌: 德国GBS
  • 型号: SmartWLI Basic
  • 产地:德国
  • 供应商:WinWinTec UG

    SmartWLI 标准型白光干涉三维轮廓仪--非接触三维表面形貌测量技术 白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。 德国SmartWLI标准型白光干涉三维轮廓仪结构紧凑,精度高,测速快,满足不同领域用户的测量需求,广泛应用于科学研究、质量管理与工艺控制。 德国SmartWLI标准型白光干涉三维轮廓仪具备如下优点: 1.结构紧凑 2.精度高 3.测速快 4.稳定耐用 5.经济实惠MountainsMAP表面分析软件与三维可视化测量报告作为一款高品质的表面成像与分析软件,MountainsMAP适合实验室、研究机构及工厂各类机能表面的设计、测试或制造设备使用。MountainsMAP拥有一整套全面的解决方案,专用于表面外观及形貌的成像与分析,提供详尽的三维可视化测量报告。SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(一) - 液态轴承SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(二) - 晶片SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(三) - 钻石工具SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(四) - 透镜工具SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(五) - 金属表面SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(六) - 汽车车身表面SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(七) - 粗糙度标准片SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(八) - 发动机汽缸

SmartWLI大视场便携式白光干涉三维轮廓仪

SmartWLI大视场便携式白光干涉三维轮廓仪

  • 品牌: 德国GBS
  • 型号: SmartWLI PortableLA
  • 产地:德国
  • 供应商:WinWinTec UG

    SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术技术特点:5cm直径视场(光斑),800μm垂直测量高度,无需拼接即可在短时间内(通常1分钟)完成大区域面积的三维形貌(轮廓)的测量任务!SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪,专用于车身、印刷滚筒、太阳能电池等工业产品的表面形貌测量与分析。仪器采用白光干涉测量原理,操作简单, 可轻放于样品表面执行测量任务。特有的三脚螺纹支架结构,便于测量弯曲表面。系统内置三束激光校准系统,便于迅速锁定测量区域。外接笔记本电脑完成数据分析,测量结果立体直观呈现。SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪方便携带、易于运输。现场安装与启动几分钟内即可完成。适用于工业产品表面快速、纳米级精度测量。SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪具备如下优点:灵活便携操作简单厘米级视场纳米级精度典型应用领域包括:质量管理工艺控制产品研发 SmartVIS 3D测量软件 欧元硬币表面三维形貌测量图数据分析与结果输出:样品表面三维形貌图解表示几何分析(长度、角度、面积测量;不规则区域、坑洞体积;样品表面台阶高度与侧面轮廓剖面图)粗糙度分析(样品粗糙度与表面波度)材料属性分析(材料摩擦磨损实验测定)区域计算与轮廓参数(满足ISO 25178 : Sa, Sz… 与ISO 4287 : Ra, Rz…标准要求) SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪技术参数测量系统量测原理 白光干涉Z轴定位系统压电效应调节系统高度量测范围最大可达800 μm摄像头参数CCD摄像头;1624x 1234相素校平系统三束激光干涉物镜系统视场范围(mm2)35 x 35最小可分辨横向宽度(um)28工作距离(mm)10垂直分辨率小于10nm光源系统LED外观尺寸295 mm(高)× 180 mm (宽) × 245 mm(长)支架高度调节范围(三脚螺纹支架)大约5-30 mm毛重约3.5 Kg 操作界面笔记本电脑、Windows 7操作系统量测时间通常小于1分钟工作温度10-35℃推荐工作温度18-22℃软件系统SmartWLI基于微软Win7操作系统,64位表面形貌测量软件、三维数据可通过接口直接传输至MountainsMap分析软件。MountainsMap三维数据分析软件,轮廓及三维影像结果输出、测量数据预处理及后处理、德标(DIN)欧标( EN) ISO标准粗糙度及高度测定、串行处理及测试日志。输出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF 车身部件表面三维形貌测试结果 印刷行业:激光凹版容积 (油墨消耗)工艺控制产品研 注塑行业:注塑机的校准 硅晶片表面波纹度与粗糙度测试 其它测试结果欣赏 其它测量结果欣赏

NanoSystem 非接触式3D轮廓仪 NVM­6000P

NanoSystem 非接触式3D轮廓仪 NVM­6000P

  • 品牌: 韩国Nano System
  • 型号: NVM-6000P
  • 产地:韩国
  • 供应商:安柏来科学仪器(上海)有限公司

    产品描述NVM-6000P是专用型设备,用于基板表面形貌的测量。基板上的Via Hole,Pad形状,pattem形貌和表面形貌等11个项目可以进行自动测量。在高速测量下仍具有优秀的重复性和准确性,支持用户设定测量条件和测量数据自动保存及分析功能。产品规格扫描范围:0-180um(270um可选)垂直分辨率:WSI:0.5nm台阶高度重复性:0.5%(1σ)横向分辨率:0.2-4um(取决于物镜和FOV)工作台面:510X405mm(程控)尺寸:1200(w)X1250(D)X1900(H)应用领域Nano View系列为LCD(液晶显示器)、IC Package(芯片封装)、Substrate(基板)、Build-up PCB(积层板)、MEMS(微机电系统),Engineering Surfaces(工程表面)等等领域提供纳米级别精度的量测。

NanoSystem 非接触式3D轮廓仪  Nano View­3000

NanoSystem 非接触式3D轮廓仪 Nano View­3000

  • 品牌: 韩国Nano System
  • 型号: Nano View-3000
  • 产地:韩国
  • 供应商:安柏来科学仪器(上海)有限公司

    产品描述Nano View-3000是高端机型,包括:非接触3D形貌测量,更广的测量范围(5mm可选),自动聚焦功能(可选),拼接和线路纵断面等功能。产品规格干涉物镜:5物镜可选(程控)扫描范围:0-180um(270um,5mm可选)垂直分辨率:WSI:0.5nm,PSI :0.1nm横向分辨率:0.2-4um(取决于物镜和FOV)倾斜度:±6°工作平台:NV-P2020 200X200mm(程控)NV-P4050400X500mm(程控)应用领域Nano View系列为LCD(液晶显示器)、IC Package(芯片封装)、Substrate(基板)、Build-up PCB(积层板)、MEMS(微机电系统),Engineering Surfaces(工程表面)等等领域提供纳米级别精度的量测。

NanoSystem 非接触式3D光学轮廓仪 Nano View­2000

NanoSystem 非接触式3D光学轮廓仪 Nano View­2000

  • 品牌: 韩国Nano System
  • 型号: Nano View-2000
  • 产地:韩国
  • 供应商:安柏来科学仪器(上海)有限公司

    产品描述Nano View-2000是经济型机型,通过非接触式的方法对0.1nm-270nm的3维表面形貌进行高进度和高速测量。利用物镜转台可方便的进行放大倍数的转换。使用拼接功能可分析宽广的表面。产品规格干涉物镜:5个物镜可选扫描范围:0-180um(270um,5mm可选)垂直分辨率:WSI:0.5nm,PSI :0.1nm倾斜台:±6°Z轴行程:100mm(手动)工作台面:100X100mm(程控)应用领域Nano View系列为LCD(液晶显示器)、IC Package(芯片封装)、Substrate(基板)、Build-up PCB(积层板)、MEMS(微机电系统),Engineering Surfaces(工程表面)等等领域提供纳米级别精度的量测。

汽车气缸专用非接触三维表面测量系统

汽车气缸专用非接触三维表面测量系统

  • 品牌: 德国Nanofocus
  • 型号: NanoFocus usurf cylinder
  • 产地:德国
  • 供应商:上海巨纳科技有限公司

    产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。德国μsurf cylinder机台是世界上唯一的一款专为测量桶状内壁设计的非接触式三维表面测量仪,并拥有超高光学分辨率和最全面广泛的三维表面形貌分析能力,被世界顶级的汽车厂商所应用。产品特点:耐用可靠无损测量光学分辨率高速度快,数秒内完成测量真实的3D数据产品功能:纹理分析(角度分析)粗糙度计算符合DIN EN ISO标准计算三维表面粗糙度参数磨损分析,缺陷检测和体积参数应用领域:3D表面形貌2D的纵深形貌轮廓(纵深、宽度、曲率、角度)表面粗糙度有利于提高成形性,改善外观以及涂漆性能,降低磨损,提高效率usurf cylinder是一款为汽车行业度身定做的机台设备,该产品还可以根据客户需求进行自动编程,实现全自动化的拼接测量,并且自动生成测试报告和相关数据。目前大众、奔驰、宝马等汽车行业巨头都在使用该设备,由于精度高,操作简便,又是基于发动机引擎定制的机台,可操作性很强,钢桶内壁的测量始终是一个技术难关,现在usurf cylinder的研发顿时解决了这个技术难题,使得发动机技术部门的工程师只需要进行几步简单的操作即可完成测量。

激光扫描轮廓仪

激光扫描轮廓仪

  • 品牌: 德国Nanofocus
  • 型号: uscan custom
  • 产地:德国
  • 供应商:上海巨纳科技有限公司

    n产品介绍μscan系列机台采用模块化设计,特点是快速测量、不接触、不破坏、自动化。主要应用于材料表面的三维轮廓测量,粗糙度测量,宽度,高度,角度,半径、粗糙度等二维、三维数据分析。能直接测量较大面积的样品,而不用通过拼接。μScan的中心部件扫描模块(x/y方向样品扫描)可以和不同的传感器(Z方向测量)连用,如Confocal point sensor(CF)、Autofocus sensor(AF)、Chromatic white light sensor(CLA)、Holographic sensor(CP)等。目前主配的是连接CF4激光共聚焦传感器。CF4激光共聚焦传感器内,被照亮的小孔成像在被测量的表面,激光光束经由物镜迅速上下移动聚焦于待测物上,只有当焦平面和真实表面的点配对的时候,探测器才记录到一个表面信号。因此物镜得通过小的垂直步位移动,使信号通过位移传感器的位置移动被测出。根据特殊的内插技术,该系统的精度能达到10nm以下。n应用ü集成电路封装和表面贴装:快速获得封装翘曲变形、引线共面性、粗糙度、焊料的体积、引线轮廓。ü厚膜混合电路:膜厚度的自动化测量ü精密部件:测量精密五金配件、塑料、半导体材料的轮廓、粗糙度等n技术参数1.测量原理:非接触,激光共聚焦2.扫描模块:2.1XY方向测量范围50X50mm/100X100mm/150X100mm/200X200mm(可选),马达驱动2.2XY方向平台分辨率0.5um2.3Z方向位移范围100mm2.4最大测量速度50mm/S.3.传感器模块3.1共聚焦传感器,激光光源1.5μm spot size,1 kHz data rate3.2Z方向分辨率0,02um3.3XY方向分辨率1um,可连续一次扫描成像,最大范围达到200mmX200mm3.4工作距离4mm3.5Z方向测量范围1mm4系统配置4.1计算机:高性能计算机控制系统;4.2配有专业工作台,尺寸L1000 x H750 x W800 (mm)4.3可为CF传感器选配离轴摄像头(10X),最大视野8 x 6 mm24.4功能全面的软件4.5数据分析:轮廓测量、宽度,高度,角度,半径、粗糙度等二维、三维数据分析设备咨询联系人:Ronnie Chen电话:+86-13651969369 +86-21-61533166

移动式3D测量系统

移动式3D测量系统

  • 品牌: 德国Nanofocus
  • 型号: usurf mobile
  • 产地:德国
  • 供应商:上海巨纳科技有限公司

    n产品介绍μsurf系列产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。NanoFocus μsurf mobile移动式3D测量系统,适用于对大型样品的测量,所以可以在很多恶劣的环境下进行使用,并且不会影响到使用寿命。当人们还在为测量物体太过于庞大而一筹莫展时,μsurf mobile移动式3D测量系统的横空出世彻底解决了人们的这个困惑,该机台不需要移动庞大的被测物体,只需要带着便捷的μsurf mobile,放在被测物体上,就可以在短时间内得出精确的三维表面形貌。n应用μsurf系列用来测量表面物理形貌,进行微纳米尺度的三维形貌分析,如3D表面形貌、2D的纵深形貌、轮廓(纵深、宽度、曲率、角度)、表面粗糙度等。μsurf mobile主要对大型样品进行测试,在以下几个行业中被众多知名企业广泛使用:ü汽车行业ü印刷和造纸行业ü钢铁行业n技术参数LED光源:λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h测量时间:5~10秒测量原理:非接触、共聚焦、可移动,可以检测大型的物体X/Y方向移动范围:50mmX50mm,马达驱动,X/Y方向分辨率:0.3μmZ方向移动范围:35mmZ方向测量范围:250μm,Z方向分辨率:< 10nm物镜:10X、20X、50X、100X(可选)计算机:高性能计算机控制系统,功能强大且全面的软件,有拼接功能工作电源:90-265 V, 50-60 Hz, input < 50 W(也可用电池做电源)材质:钢铁、橡胶、大理石外型尺寸:380*110*115mm重量:5.5KG(不含防震拉杆箱)洁净室等级: Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)设备咨询联系人:Ronnie Chen电话:+86-13651969369 +86-21-61533166

太阳能电池3D显微镜

太阳能电池3D显微镜

  • 品牌: 德国Nanofocus
  • 型号: μsurf solar
  • 产地:德国
  • 供应商:上海巨纳科技有限公司

    产品介绍usurf系列产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间内(约几秒)精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。NanoFocus usurf solar太阳能电池3D显微镜,可以对太阳能电池片进行自动化测量,广泛适用于单晶、多晶和薄膜太阳能电池片,一分钟内可以自动测量12个区域,是质量检验和生产控制中的最有效的光学三维表面测量和分析工具。可以进行太阳能电池片栅线的3D形貌表征、高宽比测量,制绒后3D形貌表征(单晶金字塔大小、数量、角度、比表面积,多晶腐蚀坑形貌、密度),粗糙度分析,以及减反射层腐蚀表面的测量,薄膜小孔的检测和自动分析。 作为太阳能行业必要设备,usurf solar太阳能电池3D显微镜从硬件到软件均是针对太阳能行业定制开发出来的,其测量样品的平台带有真空吸盘,可以承受210mmX210mm的样品,能确保太阳能电池片移动时不破坏。适用usurf solar有利于控制生产工艺,提高效率,是质量的可靠保证。技术参数 LED光源:λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 测量时间:2~10秒 测量原理:非接触、共聚焦 X/Y方向:平台移动范围200mmX200mm,马达驱动,最大移动速度40 mm/s,X/Y方向分辨率:0.3μm Z方向测量范围:500μm,Z方向分辨率:1nm 物镜:10X、20X、50X、100X(可选) 离轴摄像头(10X),最大视野8 x 6 mm2(选配) 计算机:高性能计算机控制系统,功能强大且附带全面解决方案的自动化软件 工作电源:100-240V, 50-60Hz,input: 550 VA 材质:钢铁、橡胶、大理石 洁净室等级: Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)

usurf custom光学轮廓仪

usurf custom光学轮廓仪

  • 品牌: 德国Nanofocus
  • 型号: usurf custom
  • 产地:德国
  • 供应商:上海巨纳科技有限公司

    产品介绍 usurf系列产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。 NanoFocus μsurf custom三维共聚焦表面测量系统,可以根据客户的具体需求进行样品平台和软件的定制,功能齐全,可以自动测量,能精确捕捉样品的三维结构和微纳米尺度的复杂几何形状,并拥有超高光学分辨率和最全面广泛的三维表面形貌分析处理能力。该机台还配备了整合计算机和测量系统的工作台,可以将一些测试报告等资料放在工作台的抽屉里,便捷可靠。应用 usurf系列用来测量表面物理形貌,进行微纳米尺度的三维形貌分析,如3D表面形貌、2D的纵深形貌、轮廓(纵深、宽度、曲率、角度)、表面粗糙度等。 精密部件:检测对表面磨损,表面粗糙度,表面微结构有要求的零部件,比如发动机汽缸、刀口等; 生命科学:测量stents支架上镀层厚度等 微电子机械系统:微型器件的检测,医药工程中组织结构的检测,如基因芯片等 半导体:检测微型电子系统,封装及辅助产品结构设计 太阳能:太阳能电池片栅线的3D形貌表征、高宽比测量,制绒后3D形貌表征(单晶金字塔大小、数量、角度,多晶腐蚀坑形貌、密度),粗糙度分析等 纸张:纸张、钱币表面三维形貌测量 LED:用于蓝宝石衬底的测量,抽检PSS ICP后的WAFER的3D形貌技术参数 LED光源:λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 测量时间:2~10秒 测量原理:非接触、共聚焦 X/Y方向:平台移动范围:100mmX100mm/200mmX200mm/300mmX300mm(大小可选),马达驱动,X/Y方向分辨率:0.3μm Z方向测量范围:350μm,Z方向分辨率:< 1nm 物镜:10X、20X、50X、100X(可选) 离轴摄像头(10X),最大视野8 x 6 mm2(选配) 计算机:高性能计算机控制系统,功能强大且全面的软件,有拼接功能 配有专业工作台:尺寸1550x800x750 mm (LxWxH) 工作电源:100-240V, 50-60Hz,input: 550 VA 材质:钢铁、橡胶、大理石 重量:约150KG+80KG 洁净室等级: Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)

usurf explorer光学轮廓仪

usurf explorer光学轮廓仪

  • 品牌: 德国Nanofocus
  • 型号: usurf explorer
  • 产地:德国
  • 供应商:上海巨纳科技有限公司

    产品介绍 μsurf系列产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。 NanoFocus μsurf explorer机台功能齐全,结构紧凑,性价比高,并拥有超高光学分辨率和最全面广泛的三维表面形貌分析能力。 应用 μsurf系列用来测量表面物理形貌,进行微纳米尺度的三维形貌分析,如3D表面形貌、2D的纵深形貌、轮廓(纵深、宽度、曲率、角度)、表面粗糙度等。 精密部件:检测对表面磨损,表面粗糙度,表面微结构有要求的零部件,比如发动机汽缸、刀口等; 生命科学:测量stents支架上镀层厚度等 微电子机械系统:微型器件的检测,医药工程中组织结构的检测,如基因芯片等 半导体:检测微型电子系统,封装及辅助产品结构设计 太阳能:电池片栅线的3D形貌表征、高宽比测量,制绒后3D形貌表征(单晶金字塔大小、数量、角度,多晶腐蚀坑形貌、密度),粗糙度分析等 纸张:纸张、钱币表面三维形貌测量技术参数 LED光源:λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 测量时间:5~10秒 测量原理:非接触、共聚焦 X/Y方向,平台移动范围:50mmX50mm,马达驱动,分辨率:0.3μm Z方向测量范围:250μm,分辨率:2nm 物镜:10X、20X、50X、100X(可选) 计算机:高性能计算机控制系统,功能全面的软件,有拼接功能, 工作电源:100-240V, 50-60Hz, input<45W 材质:钢铁、橡胶、大理石 外型尺寸:710x270x330 mm (HxWxD) 重量:28KG 洁净室等级: Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)

布鲁克Contour Elite 三维光学显微镜

布鲁克Contour Elite 三维光学显微镜

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: Contour Elite
  • 产地:美国
  • 供应商:德国布鲁克AXS有限公司北京代表处

    可信计量、逼真成像、清晰结果?逼真成像与可信测量数据的结合?简易直观的操作界面提供良好的用户体验?更快速地解决复杂研究和生产要求下的各种挑战布鲁克Contour Elite三维光学显微镜在已经业界广泛使用的技术领先的平台上,进一步增强Vision64软件的用户易用性,创新性加入全新的成像软硬件,拓展高保真成像能力。在要求极高的研发、质量控制领域,Contour Elite可为用户提供高速、准确和重复性极佳的测量结果。同时,它为用户提供在通常共聚焦显微镜下能得到的成像与显示效果,如彩色影像等。建立在Wyko专有白光干涉仪基础上,历经三十多年软硬件的积累与创新,布鲁克Contour Elite系统提供了直观可视化的操作界面,丰富的用户自定义方式,自动化程序控制功能,以及最快速、广泛适用的表面三维形貌的高保真成像与准确测量,来保证各种领域研发、生产应用的测试需求。Contour Elite K高稳定性,具备一定防震性能设计的桌面式型号Contour Elite I全自动,有集成防震垫设计的桌面式型号Contour Elite X全自动,集成落地式防震台的型号

ContourGT 非接触3D光学轮廓仪

ContourGT 非接触3D光学轮廓仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: ContourGT
  • 产地:美国
  • 供应商:德国布鲁克AXS有限公司北京代表处

    ContourGT表面计量系列产品 用于生产和研发的非接触式三维光学轮廓仪 业界最高垂直分辨率 极高的可靠性和最好的测量重复性 最高的表面测量和分析速度 最强的使用性,操作简便,分析功能强大 30年技术革新,实现非接触式表面测量技术高峰 ContourGT系列结合先进的64位多核操作和分析处理软件,专利技术白光干涉仪(WLI)硬件和前所未有的操作简易性,推出历年来来最先进的3D光学表面轮廓仪系统。第十代光学表面轮廓仪拥有超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有业界最高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中,最广泛使用和最直观的3D表面计量平台。 业界最高的垂直分辨率,最强大的测量性能 0.5倍至200倍的放大倍率,在极宽的测量范围内,对样品表面形状和纹理进行表征。 任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程提供了无以伦比的测量灵活性。 高分辨率摄像头可选配件,提高了横向分辨率和GR&R测量的重复性。 多核处理器下运行的Vision64 软件,大大提高三维表面测量和分析速度 新的软件设计使数据处理速度提高几十倍。 多核处理器和64位软件使数据分析速度提高十倍。 无以伦比的无缝拼接能力,可以把成千上万个数据拼接成一张连续的完美图像 测量硬件的独特设计增强生产环境中的可靠性和重复性 高亮度的双LED照明专利技术提高测量质量。 最佳化的硬件设计提高了仪器对震动的容忍度和GR&R测量的能力。 专利的自动校准能力确保了仪器与仪器之间的相关性,测量准确度和重复性。 高度直观的用户界面,拥有业界最强的操作简便和分析功能强大 优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程,从而提高仪器和操作者效率 独特的可视化操作工具为用户提供易于学习和使用的数据分析选项 用户可自行设置数据输出的界面 三十年技术创新,迎来第十代全新产品 我们的干涉仪是世界上第一个包含了著名的垂直扫描干涉技术(VSI模式),扫描头倾斜调整,专利的自动校准和双LED照明等革新技术。 ContourGT系列既结合了这些已被证实的设计功能,又在硬件上进行了大量的改进,从而给用户提供了目前世界上最精确的、重复性最好的光学轮廓仪性能。 Bruker的光学轮廓仪具有已被证实的,将近三十年的优越性能运行跟踪记录,从研究型实验室到生产型工厂的上万台安装记录。 卓越的震动隔离性能* ContourGT-X光学轮廓仪配备有一体式的气动平台和双层金属铸件,此两种设计都是为了隔离震动以避免干扰测量效果,从而获得快速、精确的、可通过GRR测试的测量结果。 光学计量模块(OMM) OMM结合了Bruker专利的双LED照明光源技术,在任何样品任意放大倍数下均可提供卓越的照明强度和均匀性。OMM还能在整个10mm测量量程内提供无以伦比的准确性和可重复性。马达驱动的多放大倍率检测器可包含最大三个视场目镜,以最大化放大倍率的灵活性和稳定性。 自校准功能* ContourGT系列可选择型号中,具有包含Bruker专利技术的内置一级标准自校准功能的能力,使得闭环扫描的性能最大化。此模块包含一个参考信号,在仪器启动时对系统进行自校准,然后连续监控并校正每次测量,以保证绝对的精确度和卓越的重复性。 倾斜调整支架* Bruker的倾斜调整支架设计可使得OMM倾斜,而不是样品倾斜。这样,被测量的样品将总处于聚焦位置,并且在测量的视野中,确保了操作的一致性和简易性。 *这些选项仅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型号上具有。 自动样品台 在ContourGT-X型号中具有全自动的8英寸或12英寸样品台。两种样品台均配备有0.5um重复性的编码器。ContourGT-K1型具有可选的6英寸马达驱动样品台。还可选配具有Z方向聚焦旋钮的XY操纵杆。 塔台 选配的马达驱动塔台可安装最多4个干涉物镜,从1倍至100倍。塔台设计确保了当您切换物镜时,您的测试点始终处于聚焦和中心位置。 辅助操作灯泡* 在防震台的后面配备有一个LED光源以帮助样品聚焦和确保操作可观度。 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑 Bruker Nano Surfaces YouKu Channel 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频,观看最新的AFM产品和相关技术进展,以及历届网络研讨会和培训资料,精彩内容持续更新中! http://i.youku.com/u/UNDU0NDQ5MTEy 布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室 电话:010-68474806 -630 传真:010-88417855 上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼 E-mail:Sales.asia@bruker-nano.com 产品咨询热线:400-890-5666 www.bruker.cn\AFM

NPFLEX 3D 光学轮廓仪

NPFLEX 3D 光学轮廓仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: NPFLEX 3D
  • 产地:美国
  • 供应商:德国布鲁克AXS有限公司北京代表处

    NPFLEX 三维表面测量系统 针对大样品设计的非接触测试分析系统 灵活测量大尺寸、特殊角度的样品 高效的三维表面信息测量 垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节 快速获取测量数据,测试过程迅速高效 NPFLEX 为大尺寸工件精密加工提供准确测量 布鲁克的NPFLEXTM 3D表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测能力,实现更快的测量时间,提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理,这套非接触系统提供的技术性能超出了传统的的接触式坐标测量仪(CMM)和工业级探针式轮廓仪的测量技术。测量优势包括获得高分辨的三维图像,进行快速丰富的数据采集,帮助用户更深入地了解部件的性能和功能。积累几十年的干涉技术和大样本的仪器设计的经验,NPFLEXTM是第一个可以灵活地测量大尺寸样品的光学测量系统,而且能够高效快捷地获得从微观到宏观等不同方面的样品信息。 其灵活性表现在可用于测量表征更大的面型和更难测的角度样品 创新性的空间设计使得可测零件(样品)更大、形状更多 开放式龙门、客户定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测部位 高效的三维表面信息测量 每次测量均可获得完整表面信息,并可用于多种分析目的 更容易获得更多的测量数据来帮助分析 垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节 干涉技术实现每一个测量象素点上的亚纳米级别垂直分辨率 工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据,为日渐苛刻的加工工艺提供保障 测量数据的快速获取保证了测试的迅速和高效 最少的样品准备时间和测量准备时间 比接触法测量(一条线)更大的视场(一个面)获得表面更多的数据 为客户量身订做最合适的仪器配置 NPFLEX在基本配置的基础上,还有很多备选的配件和配置方案, 满足不同客户的测量需求: 可选的摇摆测量头可轻松测量想测的样品部位,测量样品的侧壁、倾斜表面以及斜面边缘,重复性好。 获得研发大奖的透过透明介质测量模块(Through Transmissive Media,TTM)模块,,结合环境测试腔,可以穿透5cm厚的色散材料,可对样品进行加热或者冷却,进行原位测量。 可选的折叠镜头能够测量碗状样品的侧壁和底部孔洞。 纳米级分辨率的三维表面信息测量 大家对很多样品的表面性质感兴趣,但是要获得这些品性质,需要检测大量的样品表面定量信息。许多应用在航空航 天,汽车,医疗植入产业的大尺寸样品,往往只能借助于二维接触式检测工具进行表征,获得的只是一条线测量数据。二维扫描能够提供样品的表面轮廓,但是无法深入研究样品表面更精确的纹理细节信息。NPFLEX测试系统采用白光干涉原理,在每一个测量点可以实现表面形貌的三维信息收集,且具有亚纳米级的垂直分辨率。所收集的数据不受探针曲率半径的局限,高效的三维表面信息测量可获取除表面粗糙度以外的多种分析结果,更多的测量数据来帮助分析样品性质。 快速获取数据,保证测试迅速高效 NPFLEX三维测量系统,能够灵活高效的获取大量测试数据。大大缩短了样品制备时间和测量方案设置时间,操作者可以快速更换样品,而且无需全面掌握样品形状和表面形貌的前提下,对样品的不同表面进行测量。仅需要不到15秒的时间,就可以出色地完成一个测量点的数据采集和分析工作。自动对焦,光强调节以及其他配套软件功能,大大节约了测试分析时间,而且可以根据操作者的实验需求,量身定做最优化的实验方案,而不影响数据的精度和质量。利用NPFLEX可以高效、快捷、灵活、准确地获得大型零部件的高精度测量结果,提供一站式的测量解决方案。 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑 Bruker Nano Surfaces YouKu Channel 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频,观看最新的AFM产品和相关技术进展,以及历届网络研讨会和培训资料,精彩内容持续更新中! http://i.youku.com/u/UNDU0NDQ5MTEy布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室 电话:010-68474806 -630 传真:010-88417855 上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼 E-mail:Sales.asia@bruker-nano.com 产品咨询热线:400-890-5666 www.bruker.cn\SOM

Wyko NT9100 光学轮廓仪 Wyko NT9100 光学轮廓仪

Wyko NT9100 光学轮廓仪 Wyko NT9100 光学轮廓仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: NT9100
  • 产地:美国
  • 供应商:德国布鲁克AXS有限公司北京代表处

    仪器简介: NT9100光学轮廓仪是一款使用便利、性能卓越,性价比高的非接触无损伤三形貌维测量仪器。Wyko最新的第九代系统采用独有的双LED照明光源专利技术,能够更好的检测超光滑表面及非常粗糙的表面;它的测量范围可达亚纳米级粗糙度到毫米级的台阶高度。作为第九代白光干涉仪的桌面机台,NT 9100同样具有大机台才有的优点:简单易用的操作方式、快速数据获取能力、强大的软件功能及埃级的重现性等。同时,可选配的X-Y自动平台,使NT9100具有程序化处理样品的功能。 技术参数: 1、纵向扫描范围:0.1nm~1mm (标配) 2、最大扫描速度:24um/s 3、样品台尺寸:100mm 主要特点: 1. 非接触测量 2. 重复性高 3. 测量精度高

WYKO NT9800 光学轮廓仪 WYKO NT9800 光学轮廓仪

WYKO NT9800 光学轮廓仪 WYKO NT9800 光学轮廓仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: NT9800
  • 产地:美国
  • 供应商:德国布鲁克AXS有限公司北京代表处

    仪器简介:Wyko NT9800 光学轮廓仪在0.1nm 到 10mm 的垂直扫描范围内提供了非接触式高速高精度三维表面测量工能,纵向分辨率可达0.1nm。NT9800 采用了Veeco专利的内部实时激光参考信号进行持续的自校准,减小了通常情况下使用标准块校准设备的需要,并且能够补偿工作环境下系统产生的热漂误差。作为业内领先的第九代Wyko NT系列光学轮廓仪产品,NT9800 具有最高的自动化水平,友好的用户界面,以及业内最好的Wyko Vision分析软件系统。众多先进技术的集成、经过长期实用验证的测量技术核心以及适合于各种专业应用需要的软件功能,使 NT9800 成为世界上最先进的光学干涉测量设备,可满足MEMS、金属研究、材料科学、半导体、医用器械等众多领域科研和生产工作中对高精度自动化表面测量的需要。技术参数:1、纵向扫描范围:0.1nm~1mm (标配) 2、垂直扫描速度:25um/s 3、样品台尺寸:200mm主要特点:1. 非接触测量 2. 重复性高 3. 测量精度高

WYKO NT9300 光学轮廓仪 WYKO NT9300 光学轮廓仪

WYKO NT9300 光学轮廓仪 WYKO NT9300 光学轮廓仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: NT9300
  • 产地:美国
  • 供应商:德国布鲁克AXS有限公司北京代表处

    仪器简介:Wyko NT9300采用了Veeco第九代光学轮廓探测技术,在0.1nm到10mm的垂直扫描范围内提供了快速、高精度的三维表面形貌测量功能,是大范围表面测量、数据缝合以及不规则样品测量的理想设备。专利的双路LED照明源显著提高了光强并延长了光源器件的使用寿命,使操作者的各种测量应用都能获得最佳效果。无论操作者经验水平如何,XYZ三向可编程控制马达驱动的工作台系统以及Veeco独有的Tip/Tilt倾斜测量装置都使得测量工作变得异常轻松。业内领先的Wyko Vision软件系统为用户提供了超过200种的分析功能和自动测量控制功能。NT9300集先进的硬件结构与软件系统于一身,是一款满足实验室科研以及工业生产批量自动化在线检测应用需要的高性能表面检测设备。技术参数:1、纵向扫描范围:0.1nm~10mm (标配) 2、最大扫描速度:24um/s 3、样品台尺寸:200mm XY自动样品台(标配)主要特点:1. 非接触测量 2. 重复性高 3. 测量精度高

Dektak 8 探针轮廓仪(台阶仪) Dektak 8 探针轮廓仪(台阶仪)

Dektak 8 探针轮廓仪(台阶仪) Dektak 8 探针轮廓仪(台阶仪)

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: DEKTAK 8
  • 产地:美国
  • 供应商:德国布鲁克AXS有限公司北京代表处

    仪器简介:Dektak8台阶式探针轮廓仪,结构紧凑,可提供很高的重复性和精度。独特的XY方向定位系统可移动到8x8inch区域的任何位置。它不仅能测量台阶高度和表面纹理,还能测量金属蚀刻速率的均匀性、焊点高度、纤维光学元件和显微透镜。全程程序控制的Dektak8系统对于MEMS,纳米技术和半导体应用都非常方便。技术参数:台阶高度重复性: 7.5,1σ在1um标准台阶上 最大晶圆尺寸:200mm 最大样品厚度:25.4mm (1 in.) 每次扫描数据点:最多可达60,000数据点 扫描长度范围:标配最大50mm 垂直范围:标配262um;可选1mm 最大垂直分辨率:1 (6.55微米垂直范围下)主要特点:1. 台阶高度测量重复性高 2. 是功能最为强大的探针轮廓仪,可最大限度的满足各种应用需要 3. 简单易用 4. 作为一款桌面型轮廓仪,扫描范围可达200mm

纳米级三维测量仪

纳米级三维测量仪

  • 品牌: 德国Klocke Nanotechnik
  • 型号: KLOCKE
  • 产地:德国
  • 供应商:北京汇德信科技有限公司

    仪器简介: 德国Klocke Nanotechnik公司生产的纳米级三维测量仪(3D Nanofinger)俗称纳米三坐标,是一种实用的纳米精度坐标和形貌综合测量设备。由台架、控制系统、探头、针尖组成. 可测量样品外形尺寸,表面轮廓、粗糙度等,并可与超精密微加工、微组装系统组合,进行在线检测、质量控制等。系统拥有5个自由度,可以根据样品设定测量路径,测量范围达到厘米级甚至更大。现已广泛应用于超精密机械加工、MEMS器件、半导体微电子加工、光学、分子生物学和精密工程。技术参数:设备主要参数: 测量范围: X = 10, 20 or 50 mm Y = 10, 20 or 50 mm Z = 10 or 20 mm 采用花岗岩基底,XY方向行程扩展为: 100 x 100 mm2 or 350 x 350 mm2 测量特性: 运动分辨率: 1 nm 针尖分辨率: 0.5 nm 水平与竖直方向均配有操纵传感器 线形轮廓测量 样品内部与外部轮廓测量 坐标测量功能 测量用探针: 针尖型金属丝, 尖端半径 < 100 nm 钩型金属丝, 尖端半径< 100 nm 圆形针尖, 直径 0.12-0.3 mm 金刚石针尖, 如用于表面压痕 软件: 针尖自动校准与逼近 2D 和 3D 图形功能 分析软件 自动化模块选项(序列发生器)可选择的配置: 小型花岗岩平台式3D-Nanofinger 便携式3D-Nanofinger 3D-Nanofinger 模块,如集成到CNC机床内部 适合电镜中安装的3D-Nanofinger 模块 可安装到多功能检测工作台中 附件: 纳米精度自动旋转平台 摄像机 图形识别系统主要特点:1.纳米精度测量,而且是三维方向都可保持统一的精度。 2.测量量程跨越纳米到厘米,甚至分米级。 3.多功能多参数测量设备,可以涵盖三坐标、轮廓仪、形貌仪、粗糙度仪等的功能。 4.用户可以设定测量路径,这样就能沿着样品形状进行测量。适合复杂轮廓测试。 5.配合多种不同功能的探针,可以完成一般轮廓仪无法进行的结构测量。特别是结构内部。 6.用户可以根据需要灵活设置测量方法,可以进行大面积精确测量,也可以先进行大面积低精测量,然后对特定感兴趣的区域进行高精测量,以节省时间。 7.整个过程非接触的,间距可以保持在可以设定为几个纳米。适合各种固态样品测量,对材料性质没有特别要求和限制。 8.布局灵活,根据用户测试要求组成合适的系统。平台可以任意组合,探头也以改变安装方向。 9.如果和微加工设备组合,可以实现在线测量。更多信息,请查看公司网站:http://www.germantech.com.cn/new/cplook.asp?id=369

TRACEiT® 便携式表面三维形貌仪

TRACEiT® 便携式表面三维形貌仪

  • 品牌: 德国INNOWEP
  • 型号: TRACEiT®
  • 产地:德国
  • 供应商:奥码拓(北京)科技有限公司

    TRACEIT便携式三维形貌仪 我公司设计了世界上第一台便携式光学三维形貌仪,10秒钟即可精确测量材料表面的三维轮廓,粗糙度Ra/Rq/Rz,孔隙率,有效接触面积,并同时原位记录材料表面的视觉图像。我公司有两款便携式三维形貌仪(TRACEiT-MICRO和TRACEiT-MIDI),其快速,便捷,准确的测量方法几乎可以在任何地点进行测量,广泛应用于产品的质量检验和研发中。 应用领域 对文物清洗效果进行无损检测、评估 修复、加固效果评估 古代纸张、丝织品分析鉴定 用于考古现场记录 汽车、航空、船舶工程(皮革、纺织品、涂装、塑) TRACEiT-MICRO便携式光学三维形貌仪 基本介绍 TRACEiT-MICRO便携式光学三维形貌仪包含一个手持式光学测量头和专用便携式电脑,在5mm×5mm范围内对x及y方向各进行高达1500次的测量,从而得出平均数值及标准偏差。同时,设备的专用软件还可进一步评估特定范围内材料表面的性能。该仪器拥有封闭式设计,因此其测量结果重复性和再现性高。 设备优点 ★ 精度高 ★快速测量 ★便携式设计 ★多参数数据分析 ★重复性、再现性高 ★专利技术可同时测量三维形貌和视觉效果 技术参数 精确度 1.5m 测量面积 5mm×5mm 测量时间 10秒 Z轴测量高度 800m TRACEiT-MIDI便携式光学三维形貌仪 基本介绍 TRACEiT-MIDI便携式光学三维形貌仪包含一个手持式光学测量头,专用便携式数据采集系统,ipod操作控制系统。最大测量范围可达标准A4纸,精确度可达100um。同时,专用软件还可用来进一步评估特定区域内材料表面的性能。 设备优点 ¤ 便携式设计 ¤专利技术可同时测量三维形貌和视觉效果 ¤同时3D建模 ¤便捷使用 ¤精度高 ¤重复性、再现性高 ¤快速测量 ¤多参数数据分析:粗糙度,高度,深度等 技术指标 精确度 100m 测量面积 300mm×200mm 测量时间 10秒 Z轴测量高度 800mm 备选设备 COPRA扫描计算系统 该系统可以用来计算材料的 ☆表面结构 ☆涂层 ☆印压 ☆磨耗及磨损 ☆颗粒度及孔隙度 该扫描计算系统特别设计用来整理及评估磨损结果,亦可用于评估其他各种表面的特性。计算参数包括: 颗粒度分布(数量、面积、大小及百分比) 平均值(包含标准偏差) 孔隙度分布 灰阶表面形貌影像的高度分析 方位长度剖面 磨耗及磨损分析

三维轮廓仪

三维轮廓仪

  • 品牌: 美国AEP Technology
  • 型号: NanoMap-D
  • 产地:美国
  • 供应商:aep Technology中国办事处

    仪器简介: NanoMap-D扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以 用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。 1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等 2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图, 轮廓线等 3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面 4、薄膜和厚膜的台阶高度测量 5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量 6、微电子表面分析和MEMS表征 主要特点: 高精度 卓越的纵向分辨率:0.1 nm ( 接触式);2 nm(光学非接触式) 对周围环境和光源的强适应性 没有机械过滤 宽阔的垂直测量范围 多种选择光学头及接触式 纵向扫描范围 300 to 3900 m 图像“缝合”技术使再大的表面也能呈现在一幅图像内 试用于几乎所有的表面 透明,不透明,反射光强等多种材料 垂直台阶,高宽深比,隆起,孔洞 脆性的材料,软材料,柔性材料表面 尖锐的,坚硬的,磨损的表面 适应性强 白光光源,人体安全设计,长寿命白光LED 免维护。可以用于各种环境的实验室,甚至工业生产环境。 接触式轮廓仪和非接触式轮廓仪技术的完美结合 接触式轮廓仪针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。 在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察 针尖扫描采用双光学传感器,同时拥有宽阔测量动态范围(最大至500μm)及亚纳米级垂直分辨率 (最小0.1nm ) 软件设置恒定微力接触(0.1 to 100 [mg])

双模式表面三维轮廓仪

双模式表面三维轮廓仪

  • 品牌: 美国AEP Technology
  • 型号: NanoMap-D(0)
  • 产地:美国
  • 供应商:aep Technology中国办事处

    仪器简介:NanoMap-D双模式扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图, 轮廓线等3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面4、薄膜和厚膜的台阶高度测量5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量6、微电子表面分析和MEMS表征主要特点: 包含接触式和非接触式两种扫描方式 高精度 卓越的纵向分辨率:0.1 nm ( 接触式);2 nm(光学非接触式) 对周围环境和光源的强适应性 没有机械过滤 宽阔的垂直测量范围 多种选择光学头及接触式 纵向扫描范围 300 to 3900 m 图像“缝合”技术使再大的表面也能呈现在一幅图像内 试用于几乎所有的表面 透明,不透明,反射光强等多种材料 垂直台阶,高宽深比,隆起,孔洞 脆性的材料,软材料,柔性材料表面 尖锐的,坚硬的,磨损的表面 适应性强 白光光源,人体安全设计,长寿命白光LED 免维护。可以用于各种环境的实验室,甚至工业生产环境。 接触式轮廓仪和非接触式轮廓仪技术的完美结合 接触式轮廓仪针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到150mm。 在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察 针尖扫描采用双光学传感器,同时拥有宽阔测量动态范围(最大至500μm)及亚纳米级垂直分辨率 (最小0.1nm ) 软件设置恒定微力接触(0.1 to 100 [mg])

探针接触式三维轮廓仪

探针接触式三维轮廓仪

  • 品牌: 美国AEP Technology
  • 型号: NanoMap500LS
  • 产地:美国
  • 供应商:aep Technology中国办事处

    仪器简介: 该系统利用扫描探针显微镜光杠杆位移检测技术和超平整参照面-大型样品台扫描技术,并与压电陶瓷(PZT)扫描完美结合,可以再不丧失精度的情况下,即得到超大样品整体三维轮廓图,又呈现局部三维形貌像。其中样品台扫描参考平面使用超高平坦度光学抛光平台,有效解决了以往样品台扫面,由于丝杠公差引起的测试结果有亚微米量级的误差。 三维表面形貌/轮廓仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度,台阶高度,二维粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),三维粗糙度(Sa,Sq,Smax),划痕截面面积,划痕体积,磨损面积,磨损体积,磨损深度,薄膜应力(曲定量率半径法)等定量测量。摆脱了以往只能得到二维信息,或三维信息过于粗糙的现状。将轮廓仪带入了另一个高精度测量的新时代。主要特点: 1、常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的完美结合 2、双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到最优化的小区域三维测图 3、针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。 4、在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察 5、针尖扫描采用双光学传感器,同时拥有宽阔测量动态范围(最大至500μm)及亚纳米级垂直分辨率 (最小0.1nm ) 6、软件设置恒定微力接触 7、简单的2步关键操作,友好的软件操作界面

三维表面形貌仪

三维表面形貌仪

  • 品牌: 美国AEP Technology
  • 型号: NanoMap 1000WLI
  • 产地:美国
  • 供应商:aep Technology中国办事处

    仪器简介: 提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。 主要特点: ◆微观二维(2D)和三维(3D)形貌轮廓获取 ◆多种测量功能 将采样数据运算后,可获得精确定量的面积(空隙率,缺陷密度,磨损轮廓截面积等)、体积(孔深,点蚀,图案化表面,材料表面磨损体积以及球状和环状工件表面磨损体积等)、台阶高度、线与面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半径以及其它几何参数等测量数据。 NanoMap 光学轮廓仪在0.1nm 到 10mm 的垂直扫描范围内提供了非接触式高速高精度三维表面测量工能,纵向分辨率可达0.01nm。具有最高的自动化水平,友好的用户界面,以及业内最好的SPIP分析软件系统。众多先进技术的集成、经过长期实用验证的测量技术核心以及适合于各种专业应用需要的软件功能,使 NanoMap 成为世界上最先进的光学干涉测量设备,可满足MEMS、金属研究、材料科学、半导体、医用器械等众多领域科研和生产工作中对高精度自动化表面测量的需要。 特点: 能够同时测量形貌和粗糙度 能够测量小半径和小角度 标准真实的颜色信息 提供360°的形状和粗糙度测量 检测具有不同表面表征的表面 测量性能: 表面形貌测量 粗糙度测量 表面波纹度、轮廓度测量 体积测量与分析 二维图像-截面曲线测量 部分技术参数: 垂直分辨率:0.1nm 水平光学分辨率:3300nm 最大扫描高度:mm 最大扫描面积:mm2 应用 汽车工业 工具和刀具 造纸与印刷 刑事侦察 摩擦与腐蚀 医疗器械 微电子工业

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