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德国布鲁克 非接触光学轮廓仪ContourGT 3D
品牌:德国布鲁克
型号:ContourGT 3D
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基恩士 3D 轮廓测量仪 VR-6000 系列
品牌:日本基恩士
型号:VR-6000
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KLA Zeta™-20 光学轮廓仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta™-20
- 产地:美国
Zeta™-20光学轮廓仪Zeta™-20是一个高度集成的光学轮廓显微镜,可在紧凑、耐用的包装下提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™ 技术,可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-20 3D显微镜支持研发和生产环境,具有多模光学器件、易于使用的软件和性价比高等优势。Zeta-20HR 提供专业的太阳能电池量测解决方案。产品说明Zeta-20台式光学轮廓仪是一款非接触式3D显微镜及表面形貌测量系统。该 3D 光学量测系统由已获得的 ZDot 技术及多模式光学组件提
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光学轮廓仪 Zeta-388 Optical Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-388
- 产地:浦东新区
Zeta-388支持3D量测和成像功能,并提供整合隔离工作台和晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送系统,可实现全自动测量。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。Zeta-388具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、低拥有成本,以及SECS / GEM通信,适用于研发及生产环境。
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光学轮廓仪 Zeta-300 Optical Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-300
- 产地:浦东新区
Zeta-300支持3D量测和成像的功能,并提供整合隔离工作台和灵活的配置,可用于处理更大的样品。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。Zeta-300具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本,适用于研发及生产环境。
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光学轮廓仪 Zeta-20 Optical Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-20
- 产地:浦东新区
Zeta-20是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜,可以提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。 Zeta-20具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本,适用于研发及生产环境。
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探针式轮廓仪 HRP®-260 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: HRP®-260
- 产地:浦东新区
HRP®-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至300微米的台阶高度测量功能。 P-260配置支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D及3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 HRP-260配置的功能与P-260相同,并增加了可以生产类似AFM扫描结果的高分辨率平台。 HRP平台具有先进的图案识别算法,可增强系统间程序的移植,这是24x7生产环境的关键要求。
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探针式轮廓仪 Tencor™ P-170 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-170
- 产地:浦东新区
Tencor P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能,适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 Tencor P-170具有先进的图案识别算法、增强的光学系统和先进的平台,这保证了性能的稳定和系统间配方的无缝移植- 这是24x7生产环境的关键要求。
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探针式轮廓仪 Tencor™ P-17 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-17
- 产地:浦东新区
Tencor P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。
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探针式轮廓仪 Tencor™ P-7 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-7
- 产地:浦东新区
Tencor P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。
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探针式轮廓仪 Alpha-Step® D-500 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Alpha-Step® D-500
- 产地:浦东新区
Alpha-Step D-500探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D台阶高度。 D-500还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 D-500包括一个手动140毫米平台和先进的光学系统以及加强视频控制。
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光学轮廓仪 Profilm3D
- 品牌:美国KLA
- 型号: Profilm3D
- 产地:浦东新区
Filmetrics® Profilm3D®和Filmetrics Profilm3D-200光学轮廓仪采用白光干涉测量(WLI)技术,是经济实用的非接触式3D表面形貌测量系统。Profilm3D系列可以测量从纳米到毫米级的表面特征,并生成高分辨率3D表面数据和TotalFocus™图像(景深等于垂直扫描距离的彩色3D图像)。Profilm3D的菜单设置简单而灵活,可进行单次多点扫描或自动多点测量,非常适合研发和量产应用。
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美国KLA(科磊)光学轮廓仪Zeta-20
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-20-18604053809
- 产地:美国
Zeta™-20是一个高度集成的光学轮廓显微镜,可在紧凑、耐用的包装下提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™技术,可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-20 3D显微镜支持研发和生产环境,具有多模光学器件、易于使用的软件和性价比高等优势。 18604053809
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美国KLA(科磊)光学轮廓仪P3D
- 品牌:美国KLA
- 型号: P3D
- 产地:美国
2D价格、3D性能 Profilm3D是经济实惠、最先进的光学轮廓仪。使用行业标准的白光干涉仪 (WLI) 和可选的相移干涉仪 (PSI) 来生成高质量的表面轮廓和无限深度的真彩色图像。 王树刚 18604053809
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光学轮廓仪 Zeta-388 Optical Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-388
- 产地:美国
Zeta-388支持3D量测和成像功能,并提供整合隔离工作台和晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送系统,可实现全自动测量。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。Zeta-388具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、低拥有成本,以及SECS / GEM通信,适用于研发及生产环境。
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光学轮廓仪 Zeta-300 Optical Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-300
- 产地:美国
Zeta-300支持3D量测和成像的功能,并提供整合隔离工作台和灵活的配置,可用于处理更大的样品。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。Zeta-300具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本,适用于研发及生产环境。
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光学轮廓仪 Zeta-20 Optical Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-20
- 产地:美国
Zeta-20是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜,可以提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。 Zeta-20具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本,适用于研发及生产环境.
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探针式轮廓仪 Alpha-Step® D-600 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Alpha-Step® D-600
- 产地:浦东新区
Alpha-Step D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D和3D台阶高度。 D-600还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D和3D测量。 D-600包括一个电动200毫米样品卡盘和先进的光学系统以及加强视频控制。
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[公开招标]预算198万元 武汉工程大学采购手持拉曼光谱仪
武汉工程大学公开招标手持拉曼光谱仪、超微型地物光谱仪,多功能全光谱近红外光谱分析仪,3D轮廓扫描仪、桌面式反射光谱测试仪,教学光纤光谱仪,项目编号:ZB0103-202404-ZCHW0407
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