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德国布鲁克 非接触光学轮廓仪ContourGT 3D
品牌:德国布鲁克
型号:ContourGT 3D
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基恩士 3D 轮廓测量仪 VR-6000 系列
品牌:日本基恩士
型号:VR-6000
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Profilm 3D光学轮廓仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Profilm 3D
- 产地:美国
Profilm3D仅用10倍物镜就提供了达到2mm的视场范围,同时其zuida4倍光学变焦的功能缓解了不同应用时切换多个物镜的需求。这些都进一步降低了采购成本。
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Profilm 3D光学轮廓仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Profilm 3D
- 产地:美国
Profilm3D仅用10倍物镜就提供了达到2mm的视场范围,同时其zuida4倍光学变焦的功能缓解了不同应用时切换多个物镜的需求。这些都进一步降低了采购成本。
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Contour 高精度三维形貌计量光学轮廓仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: GT100,200,500
- 产地:美国
Contour 高精度三维形貌计量光学轮廓仪WM融合了高级表征、可定制选项和易用性,可以提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。它的操作和分析软件系统提供了更易于使用的界面和简洁的功能,可以访问多种预编程滤镜和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半导体,眼科,YL设备,MEMS和摩擦学等领域的测量分析。
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NPflex 大样品计量检测光学轮廓仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: NPflex
- 产地:美国
布鲁克的NPflex 大样品计量检测光学轮廓仪为精密制造业带来的检测性能,实现更快的试产扩量时间,提高了产品质量和生产力。基于白光千涉的原理,这套非接触系统提供了诸多先进的优点,远超通常接触式坐标测量仪(CMM)和工业级探针式轮廓仪的测量技术所能提供的。这些测量优势包括高分辨的三维图像,进行快速丰富的数据采集,帮助用户更深入地了解部件的性能和功能。
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布鲁克3D光学轮廓仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Contour GT
- 产地:美国
3D光学轮廓仪突破了一般的表征技术,为您提供 逼真成像与可信测量数据的结合 --为研发决定提供定量、重复可靠的表面数据 --所有三维光镜能提供的ZJ横向、纵向分辨率的结合 简易直观的操作界面提供良好的用户体验 --用户友好的软件界面提供简化的表征与分析 --灵活的样品台与夹具配合您的应用需求。
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DektakXT台阶仪,表面轮廓仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: DektakXT
- 产地:美国
精确 快速 操作简单
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KLA Zeta™-20 光学轮廓仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta™-20
- 产地:美国
Zeta™-20光学轮廓仪Zeta™-20是一个高度集成的光学轮廓显微镜,可在紧凑、耐用的包装下提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™ 技术,可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-20 3D显微镜支持研发和生产环境,具有多模光学器件、易于使用的软件和性价比高等优势。Zeta-20HR 提供专业的太阳能电池量测解决方案。产品说明Zeta-20台式光学轮廓仪是一款非接触式3D显微镜及表面形貌测量系统。该 3D 光学量测系统由已获得的 ZDot 技术及多模式光学组件提
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三维表面形貌仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap 1000WLI
- 产地:美国
仪器简介: 提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。
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双模式表面三维轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-D(0)
- 产地:美国
仪器简介:NanoMap-D双模式扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图, 轮廓线等3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面4、薄膜和厚膜的台阶高度测量5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量6、微电子表面分析和MEMS表征主要特点: 包含接触式和非接触式两种扫描方式 高精度&
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三维轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-D
- 产地:美国
仪器简介: NanoMap-D扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以 用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。 1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等 2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图, 轮廓线等 3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面 4、薄膜和厚膜的台阶高度测量 5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量
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Zygo 3D光学轮廓仪NewView™ 9000
- 品牌:美国Zygo
- 型号: ZYGO NewView™ 9000
- 产地:美国
NewView™ 9000 3D光学轮廓仪提供了强大、多功能的非接触式光学表面分析。它可以简单和快速地测量各种表面类型,包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和阶梯式的表面。所有的测量都是无损、快速、无需样品制备的。 ZYGO相干扫描干涉技术(CSI)是系统的核心技术,在所有放大倍数下实现亚纳米的精度,并且能够快速准确的测试各种样品表面,为客户提供高投资回报率的体验。
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ZYGO 3D表面轮廓仪Nexview™ NX2
- 品牌:美国Zygo
- 型号: Nexview™ NX2
- 产地:美国
Nexview™ NX2 光学轮廓仪是为更高应用需求设计的,集超精密、先进算法、应用灵活性和自动化为一体,优异展现了ZYGO相干扫描干涉(CSI)技术的能力。 Nexview™ NX2 光学轮廓仪采用的是非接触式测量技术,具有亚纳米测量精度(所有放大倍数下),可以更快更好地测量各种样品表面,是一款具有非常高投资回报率的产品。满足各种应用需求,包括平面度,粗糙度和波纹度,薄膜,台阶高度,适用于几乎任何材质表面,因此Nexview NX2是一款不容错过的产品。 Nexview NX2作为新一代的旗舰机型,提供更大范围可分辨特征来实现让用户的计量更好、更快和更可靠.
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ZYGO 3D表面轮廓仪ZeGage Pro
- 品牌:美国Zygo
- 型号: ZeGage Pro
- 产地:美国
可直接用于生产的三维光学轮廓仪系统。 ZeGage™ Pro 和 ZeGage™ Pro HR 三维光学轮廓仪可对多种类型表面的微米和纳米级特征进行非接触式测量和表征,实现制造环境中的质量控制和过程监控。 我们行业领先的 ZeGage Pro 系列由于其卓越的性能、易用性、灵活性和精度为台式工业非接触表面轮廓仪设立了行业标准。ZeGage Pro 在 ZYGO 专有 CSI 技术的基础上,采用一系列创新的技术,可实现精确、可靠、简单和省心的表面测量。 独有的功能包括 SureScan™ 抗振计量技术、零件查找和智能设置,可简化零件设置并优化测量。 快速、轻松地测量各种表面和部件从未像现在这样简单。
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轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-500LS
- 产地:美国
轮廓仪NanoMap-500LS接触式三维表面台阶仪NanoMap-500LSNanoMap 500LS探针三维台阶仪特点常规的探针轮廓仪和扫描探针显微镜技术的wan美结合 双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到zuiyou化的小区域三维测图 针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。 接触式探针轮廓仪在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察 针尖扫描
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三维表面轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-LT
- 产地:美国
NanoMap-1000WLI非接触式三维高清图像的光学轮廓仪白光干涉仪器 - 白光干涉带来了高的分辨率、 400万像素的图像、大的扫描范围,可定制的波长范范围,使用户可以轻松灵活的的到任何表面形貌。提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频
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三维轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap - D
- 产地:美国
三维轮廓仪NanoMap-D NanoMap-D三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。该款仪器可以看做是表面研究的万用表,采用接触式和非接触式功能集于一身的设计特点,弥补两种模式的局限,发挥表面形貌仪的测量极限。光学非接触式有速度快,直接三维成象,不破坏样品等特点。探针接触模式方便快捷,制样简单,测量材料广泛。两种模式相结合可以对更多形状、性状、材质的试样进行表面形貌的研究。该轮廓仪测量表面可以覆盖90%以上材料表面。
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spip三维图形分析软件
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: SPIP
- 产地:美国
扫描探针图像处理软件,SPIP 多年来,SPIP扫描探针图像处理软件,已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。 SPIP图像处理软件是一个模块化的软件包,提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。 无论您是一个ZS用户或刚刚学习图像分析的入门新手,使用SPIP图像处理软件,您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。 SPIP图像分析软件被用于,包括半导体物理,化学,生物学检验,计量,纳米技术等各种
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美国Rtec非接触式光学轮廓仪/形貌仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: UP - WLI
- 产地:美国
美国Rtec公司的WLI非接触式光学轮廓仪测量系统沿着纵轴捕获一系列位置的光强数据。通过白光干涉图的形状,干涉图的局部相位或者是二者的结合来确定表面位置。本公司还有激光共焦,白光共焦,拉曼光谱仪等,可以把这些设备自由组合在一起,以实现客户的不同需求 WLI有如下特点快速直观的操作 较高的计算程序,精确的高测量速度和简便的操作软件,使用户能够快速的分析和创建报告多个物镜 该WLI-1000 带有6物镜转轮,包括多个物镜:长焦,短焦,不同数值孔径,投射
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美国Rtec变焦轮廓仪\形貌仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: MFT-VF
- 产地:美国
产品介绍:美国Rtec公司变焦式三维形貌仪是微纳米级质量保证的光学三维粗糙度轮廓仪,其原理是采用目前世界领xian的自动变焦(Focus-Variation)技术。该技术将小景深的光学系统与垂直扫描wan美地结合在一起。产品特点: 能够同时测量表面形貌和粗糙度 能够测量小半径和小角度 能够测量超过80°的斜面 可获得真实的表面颜色信息 具有较高的测量速度 适用于苛刻环境下的检测(有噪音或振动) 提供360°的
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轮廓仪/粗糙度仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: UP-Roughness
- 产地:美国
美国Rtec公司的UP系列三维轮廓仪/粗糙度仪测量系统沿着纵轴捕获一系列位置的光强数据。通过白光干涉图的形状,干涉图的局部相位或者是二者的结合来确定表面位置。本公司还有激光共焦,白光共焦,拉曼光谱仪等,可以把这些设备自由组合在一起,以实现客户的不同需求WLI1000有如下特点快速直观的操作较高的计算程序,精确的高测量速度和简便的操作软件,使用户能够快速的分析和创建报告多个物镜该WLI-1000 带有6物镜转轮,包括多个物镜:长焦,短焦,不同数值孔径,投射镜头等电子器件先进的控制器,低机械
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美国Rtec光学轮廓仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: UP-
- 产地:美国
美国Rtec公司生产的UP系列光学轮廓仪测量系统沿着纵轴捕获一系列位置的光强数据。通过白光干涉图的形状,干涉图的局部相位或者是二者的结合来确定表面位置。本公司还有激光共焦,白光共焦,拉曼光谱仪等,可以把这些设备自由组合在一起,以实现客户的不同需求光学轮廓仪UP有如下特点快速直观的操作较高的计算程序,精确的高测量速度和简便的操作软件,使用户能够快速的分析和创建报告多个物镜该UP 带有6物镜转轮,包括多个物镜:长焦,短焦,不同数值孔径,投射镜头等电子器件先进的控制器,低机械噪声,自校准系统,
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美国Rtec三维轮廓仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: UP 系列
- 产地:美国
双模式三维轮廓仪特点:一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪+高精度原子力显微镜白光干涉白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描,对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式,能够高精度测量粗糙或者光滑的样品表面。**的技术来实现高Z向分辨率白光干涉法和相移两种模式实现Z方向的高分辨率。快速图像处理系统达到400万像素四色LED相机更大的垂直测量范围达10毫米150 mmx150mm马达控制平台。样品粗糙度,粗糙表面高度抛光后的光洁度以及表面结构测量,如陶瓷、塑料和辊钢。SPIP专业数据分析软件原子力显微镜探
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探针式轮廓仪/三维形貌仪
- 品牌:美国AEP
- 型号: NANOMAP 500LS
- 产地:美国
NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪,既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌,又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理,在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学,工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。美
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光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
- 品牌:美国AEP
- 型号: NANOMAP D
- 产地:美国
NANOMAP D光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领xian供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪集白光干涉非接触测量法和大面积SPM扫描探针接触式高精度扫描成像于一个测量平台。是目前功能最全面,技术zuixianjin的表面三维轮廓测量显微镜。既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既
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Filmetrics Profilm3D 光学轮廓仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Profilm3D
- 产地:美国
Filmetrics Profilm3D 光学轮廓仪
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Dektak 8 探针轮廓仪(台阶仪) Dektak 8 探针轮廓仪(台阶仪)
- 品牌:
- 型号: DEKTAK 8
- 产地:美国
仪器简介:Dektak8台阶式探针轮廓仪,结构紧凑,可提供很高的重复性和精度。独特的XY方向定位系统可移动到8x8inch区域的任何位置。它不仅能测量台阶高度和表面纹理,还能测量金属蚀刻速率的均匀性、焊点高度、纤维光学元件和显微透镜。全程程序控制的Dektak8系统对于MEMS,纳米技术和半导体应用都非常方便。技术参数:台阶高度重复性: 7.5,1σ在1um标准台阶上 最大晶圆尺寸:200mm 最大样品厚度:25.4mm (1 in.) 每次扫描数据点:最多可达60,0
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WYKO NT9300 光学轮廓仪 WYKO NT9300 光学轮廓仪
- 品牌:
- 型号: NT9300
- 产地:美国
仪器简介:Wyko NT9300采用了Veeco第九代光学轮廓探测技术,在0.1nm到10mm的垂直扫描范围内提供了快速、高精度的三维表面形貌测量功能,是大范围表面测量、数据缝合以及不规则样品测量的理想设备。ZL的双路LED照明源显著提高了光强并延长了光源器件的使用寿命,使操作者的各种测量应用都能获得**效果。无论操作者经验水平如何,XYZ三向可编程控制马达驱动的工作台系统以及Veeco独有的Tip/Tilt倾斜测量装置都使得测量工作变得异常轻松。业内领xian的Wyko Vision软件系统为用户提供了
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WYKO NT9800 光学轮廓仪 WYKO NT9800 光学轮廓仪
- 品牌:
- 型号: NT9800
- 产地:美国
仪器简介:Wyko NT9800 光学轮廓仪在0.1nm 到 10mm 的垂直扫描范围内提供了非接触式高速高精度三维表面测量工能,纵向分辨率可达0.1nm。NT9800 采用了VeecoZL的内部实时激光参考信号进行持续的自校准,减小了通常情况下使用标准块校准设备的需要,并且能够补偿工作环境下系统产生的热漂误差。作为业内领xian的第九代Wyko NT系列光学轮廓仪产品,NT9800 具有最高的自动化水平,友好的用户界面,以及业内**的Wyko Vision分析软件系统。众多先进技术的集成、经过长期实用验
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Wyko NT9100 光学轮廓仪 Wyko NT9100 光学轮廓仪
- 品牌:
- 型号: NT9100
- 产地:美国
仪器简介: NT9100光学轮廓仪是一款使用便利、性能卓越,性价比高的非接触无损伤三形貌维测量仪器。Wykozuixin的第九代系统采用独有的双LED照明光源ZL技术,能够更好的检测超光滑表面及非常粗糙的表面;它的测量范围可达亚纳米级粗糙度到毫米级的台阶高度。作为第九代白光干涉仪的桌面机台,NT 9100同样具有大机台才有的优点:简单易用的操作方式、快速数据获取能力、强大的软件功能及埃级的重现性等。同时,可选配的X-Y自动平台,使NT9100具有程序化处理样品的功能。 &
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NPFLEX 3D 光学轮廓仪
- 品牌:
- 型号: NPFLEX 3D
- 产地:美国
NPFLEX 三维表面测量系统 针对大样品设计的非接触测试分析系统 灵活测量大尺寸、特殊角度的样品 高效的三维表面信息测量 垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节 快速获取测量数据,测试过程迅速高效 NPFLEX 为大尺寸工件精密加工提供准确测量 布鲁克的NPFLEXTM 3D表面测量系统为精密制造业带来
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ContourGT 非接触3D光学轮廓仪
- 品牌:
- 型号: ContourGT
- 产地:美国
ContourGT表面计量系列产品 用于生产和研发的非接触式三维光学轮廓仪 业界最高垂直分辨率 极高的可靠性和**的测量重复性 最高的表面测量和分析速度 的使用性,操作简便,分析功能强大 30年技术革新,实现非接触式表面测量技术高峰 ContourGT系列结合先进的64位多核操作和分析处理软件,ZL
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探针接触式三维轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap500LS
- 产地:美国
仪器简介: 该系统利用扫描探针显微镜光杠杆位移检测技术和超平整参照面-大型样品台扫描技术,并与压电陶瓷(PZT)扫描wan美结合,可以再不丧失精度的情况下,即得到超大样品整体三维轮廓图,又呈现局部三维形貌像。其中样品台扫描参考平面使用超高平坦度光学抛光平台,有效解决了以往样品台扫面,由于丝杠公差引起的测试结果有亚微米量级的误差。 三维表面形貌/轮廓仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度,台阶高度,二维粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),三维粗
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Veeco/Wyko NT1100 表面轮廓仪/粗糙度仪 白光干涉仪 销售维修
- 品牌:美国Veeco
- 型号: NT1100
- 产地:美国
Veeco/Wyko NT1100 表面轮廓仪/粗糙度仪 白光干涉仪 销售维修 产品信息 品牌:Wyko 型号:NT1100
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美国KLA(科磊)光学轮廓仪Zeta-20
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-20-18604053809
- 产地:美国
Zeta™-20是一个高度集成的光学轮廓显微镜,可在紧凑、耐用的包装下提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™技术,可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-20 3D显微镜支持研发和生产环境,具有多模光学器件、易于使用的软件和性价比高等优势。 18604053809
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美国KLA(科磊)光学轮廓仪P3D
- 品牌:美国KLA
- 型号: P3D
- 产地:美国
2D价格、3D性能 Profilm3D是经济实惠、最先进的光学轮廓仪。使用行业标准的白光干涉仪 (WLI) 和可选的相移干涉仪 (PSI) 来生成高质量的表面轮廓和无限深度的真彩色图像。 王树刚 18604053809
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光学轮廓仪 Zeta-388 Optical Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Zeta-388
- 产地:美国
Zeta-388支持3D量测和成像功能,并提供整合隔离工作台和晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送系统,可实现全自动测量。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。Zeta-388具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、低拥有成本,以及SECS / GEM通信,适用于研发及生产环境。
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[公开招标]预算198万元 武汉工程大学采购手持拉曼光谱仪
武汉工程大学公开招标手持拉曼光谱仪、超微型地物光谱仪,多功能全光谱近红外光谱分析仪,3D轮廓扫描仪、桌面式反射光谱测试仪,教学光纤光谱仪,项目编号:ZB0103-202404-ZCHW0407
- 轮廓仪
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