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德国布鲁克 非接触光学轮廓仪ContourGT 3D
品牌:德国布鲁克
型号:ContourGT 3D
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基恩士 3D 轮廓测量仪 VR-6000 系列
品牌:日本基恩士
型号:VR-6000
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德国布鲁克 非接触光学轮廓仪ContourGT 3D
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourGT 3D
- 产地:德国
产品介绍:ContourGT表面计量系列产品用于生产和研发的非接触式三维光学轮廓仪业界zui高垂直分辨率ji高的可靠性和zui好的测量重复性zui高的表面测量和分析速度zui强的使用性,操作简便,分析功能强大30年技术革新,实现非接触式表面测量技术高峰ContourGT系列结合先进的64位多核操作和分析处理软件,ZG技术白光干涉仪(WLI)硬件和前所未有的操作简易性,推出历年来来zui先进的3D光学表面轮廓仪系统。第十代光学表面轮廓仪拥有超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有业界z
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基恩士 3D 轮廓测量仪 VR-6000 系列
- 品牌:日本基恩士
- 型号: VR-6000
- 产地:日本
多功能轮廓测量仪可消除死角,测量光泽面
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Profilm 3D光学轮廓仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Profilm 3D
- 产地:美国
Profilm3D仅用10倍物镜就提供了达到2mm的视场范围,同时其zuida4倍光学变焦的功能缓解了不同应用时切换多个物镜的需求。这些都进一步降低了采购成本。
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布鲁克光学轮廓仪ContourX-200
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourX-200
- 产地:其它
ContourX-200光学轮廓仪融合了高级表征、可定制选项和易用性,可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统,配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。ContourX-200还配有业界先进的操作和分析软件Vision64。VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能,可访问多种预编程滤镜和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半导体,眼科,医疗设备,MEMS和摩擦学等领域的测量分析。
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Bruker - 光学轮廓仪/台阶仪/FTIR
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Ultima系列
- 产地:德国
产品简介Ultima活体多光子显微镜系列快速、灵活的活体深层成像平台更深 (970um)、更快 (45FPS@12KHz)、更清楚、并适合大动物成像。 Ultima活体多光子显微镜应用:• 活体成像• 神经的在体成像• 行为模式的在体成像• 光激活Ultima IntraVital 主要用于从小鼠到猕猴的活体成像,提供了优异的成像深度和成像速度。Ultima IntraVital拥有以下特质:• 高速3D成像• 误差小于20 nm的光刺激jing准控制• 物镜下适合对大动物进行操作的
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德国布鲁克 非接触光学轮廓仪ContourGT 3D
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourGT 3D
- 产地:德国
产品介绍:ContourGT表面计量系列产品用于生产和研发的非接触式三维光学轮廓仪业界zui高垂直分辨率ji高的可靠性和zui好的测量重复性zui高的表面测量和分析速度zui强的使用性,操作简便,分析功能强大30年技术革新,实现非接触式表面测量技术高峰ContourGT系列结合先进的64位多核操作和分析处理软件,ZG技术白光干涉仪(WLI)硬件和前所未有的操作简易性,推出历年来来zui先进的3D光学表面轮廓仪系统。第十代光学表面轮廓仪拥有超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有业界z
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德国布鲁克 光学轮廓仪NPFLEX 3D
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: NPFLEX 3D
- 产地:德国
产品介绍:NPFLEX 三维表面测量系统针对大样品设计的非接触测试分析系统灵活测量大尺寸、特殊角度的样品gao效的三维表面信息测量垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节快速获取测量数据,测试过程迅速gao效NPFLEX 为大尺寸工件精密加工提供准确测量布鲁克的NPFLEXTM 3D表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测能力,实现更快的测量时间,提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理,这套非接触系统提供的技术性能超出了传统的的接触式坐标测量仪(CMM)和工业级探针式轮廓
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德国布鲁克 探针式表面轮廓仪DektakXT
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: DektakXT
- 产地:德国
产品介绍:布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰,更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT一定能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)的技术突破,使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度
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Profilm 3D光学轮廓仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Profilm 3D
- 产地:美国
Profilm3D仅用10倍物镜就提供了达到2mm的视场范围,同时其zuida4倍光学变焦的功能缓解了不同应用时切换多个物镜的需求。这些都进一步降低了采购成本。
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Bruker - 光学轮廓仪/台阶仪/FTIR
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Ultima活体多光子显微镜系列
- 产地:德国
产品简介Ultima活体多光子显微镜系列快速、灵活的活体深层成像平台更深 (970um)、更快 (45FPS@12KHz)、更清楚、并适合大动物成像。 Ultima活体多光子显微镜应用:• 活体成像• 神经的在体成像• 行为模式的在体成像• 光激活Ultima IntraVital 主要用于从小鼠到猕猴的活体成像,提供了优异的成像深度和成像速度。Ultima IntraVital拥有以下特质:• 高速3D成像• 误差小于20 nm的光刺激jing准控制• 物镜下适合对大动物进行操作的
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日本三丰轮廓仪
- 品牌:日本三丰
- 型号: CV-1000/CV-2000
- 产地:日本
【产品名称】 日本三丰CV-1000/CV-2000轮廓仪 特点 大幅度提高了驱动速度 (X 轴:80mm/s, Z2 轴:20mm/s),近一步降低了总测量时间。为了在一定时段内维持仪器的直线度规格,三丰公司采用了具有的耐摩擦 性及稳定性的高硬度陶瓷导轨。大量的外周设备选件支持 CNC 模式,从 而可以很容易实现 CNC 测量。驱动装置 (X 轴) 和立柱 (Z2 轴) 中集成了高 精度线性编码器 (Z2 轴为 ABS 型),从而提 高了在垂
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日本三丰超级轮廓测量仪
- 品牌:日本三丰
- 型号: CV-3000CNC/CV-4000CNC
- 产地:日本
【产品名称】 日本三丰CV-3000CNC/CV-4000CNC超级轮廓测量仪 型号 CV-3000CNC CV-3000CNC CV-3000CNC CV-3000CNC
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TRACEiT® 便携式表面三维形貌仪
- 品牌:德国INNOWEP
- 型号: TRACEiT®
- 产地:德国
TRACEIT便携式三维形貌仪 我公司设计了世界上第一台便携式光学三维形貌仪,10秒钟即可精确测量材料表面的三维轮廓,粗糙度Ra/Rq/Rz,孔隙率,有效接触面积,并同时原位记录材料表面的视觉图像。我公司有两款便携式三维形貌仪(TRACEiT-MICRO和TRACEiT-MIDI),其快速,便捷,准确的测量方法几乎可以在任何地点进行测量,广泛应用于产品的质量检验和研发中。 应用领域 对文物清洗效果
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usurf explorer光学轮廓仪
- 品牌:德国Nanofocus
- 型号: usurf explorer
- 产地:德国
产品介绍 μsurf系列产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。 NanoFocus μsurf explorer机台功能齐
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移动式3D测量系统
- 品牌:德国Nanofocus
- 型号: usurf mobile
- 产地:德国
n产品介绍μsurf系列产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。NanoFocus μsurf mobile移动式3D测量系
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激光扫描轮廓仪
- 品牌:德国Nanofocus
- 型号: uscan custom
- 产地:德国
n产品介绍μscan系列机台采用模块化设计,特点是快速测量、不接触、不破坏、自动化。主要应用于材料表面的三维轮廓测量,粗糙度测量,宽度,高度,角度,半径、粗糙度等二维、三维数据分析。能直接测量较大面积的样品,而不用通过拼接。μScan的中心部件扫描模块(x/y方向样品扫描)可以和不同的传感器(Z方向测量)连用,如Confocal point sensor(CF)、Autofocus sensor(AF)、Chromatic white light sensor(CLA)、Holographic senso
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SmartWLI大视场便携式白光干涉三维轮廓仪
- 品牌:德国GBS
- 型号: SmartWLI PortableLA
- 产地:德国
SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术技术特点:5cm直径视场(光斑),800μm垂直测量高度,无需拼接即可在短时间内(通常1分钟)完成大区域面积的三维形貌(轮廓)的测量任务!SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪,专用于车身、印刷滚筒、太阳能电池等工业产品的表面形貌测量与分析。仪器采用白光干涉测量原理,操作简单, 可轻放于样品表面执行测量任务。特有的三脚螺纹支架结构,便于测量弯曲表面。系统内置三束激光校准系统,便于迅速锁定测量区域。外接笔记本电脑完成
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SmartWLI 标准型白光干涉三维轮廓仪
- 品牌:德国GBS
- 型号: SmartWLI Basic
- 产地:德国
SmartWLI 标准型白光干涉三维轮廓仪--非接触三维表面形貌测量技术 白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。 德国SmartWLI标准型白光干涉三维轮廓仪结构紧凑,精度高,测速快,满足不同领域用户的测量需求,广泛应用于科学研究、质量管理与工艺控制。 德国SmartWLI标准型白光干涉三维轮廓仪具备如下优点: 1.结构紧凑 2.精度高 3.测速快 4.稳定耐用 5.经济实惠MountainsMAP表面分析软件与三维可视化测量报告作为一款高品质的
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SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪
- 品牌:德国GBS
- 型号: SmartWLI Extended
- 产地:德国
SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪拥有纳米级测试精度,外接PC或笔记本电脑进行实时数据分析。SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪功能全面,轻松应对各种测试环境。电动XY双轴样品台匹配自动拼接程序,应对大面积测试任务。典型应用包括科学研究、质量控制和工艺管理。德国GBS公司SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪具备如下优点: 通用型 精度
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SmartWLI 便携式白光干涉三维轮廓仪
- 品牌:德国GBS
- 型号: SmartWLI Portable
- 产地:德国
SmartWLI便携式白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。SmartWLI - 便携式白光干涉三维轮廓仪,专用于大尺寸部件表面形貌测量与分析。仪器操作简单,测量时放置于样品表面;独有的三脚支架结构,方便曲面部件测量;外接笔记本电脑完成数据分析,测量结果立体直观呈现。SmartWLI - 便携式白光干涉三维轮廓仪外形紧凑、结构稳固,轻松应对多种测量环境;测速快,精度高,为工业用户提供zuiyou化的产品表面形
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SmartWLI 传统二维光学显微镜三维轮廓/形貌扫描升级方案
- 品牌:德国GBS
- 型号: SmartWLI - Microscope
- 产地:德国
SmartWLI传统光学显微镜升级技术 亚纳米级分辨率白光干涉技术与三维表面形貌测量传统二维光学显微镜可以升级为三维表面形貌测量装置,极大提升应用效能。图1.干涉物镜通过接合器安装于传统光学显微镜,升级后的显微镜具备高分辨三维表面形貌测量功能显微镜的重要性不只在于研究与记录,更在于产品质量监测与样品表面分析。光学显微镜已经成为许多实验室的标配设备。对于大多数样品来说,传统二维显微镜不足以获得其表面所有形貌细节。因此,三维表面形貌测量技术正逐渐成为一种重要的表征手段。 图2.
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SmartWLI-Double Z-axis双轴三维形貌轮廓仪
- 品牌:德国GBS
- 型号: SmartWLI-Prime Double Z-axis
- 产地:德国
SmartWLI-Prime双轴三维形貌轮廓仪配备0.1nm高分辨率的小量程Z轴和小于100nm分辨率的大量程Z轴 2015年11月,德国WinWinTec公司再次向市场推出了一款由我公司代理的SmartWLI品牌的三维相貌轮廓仪,该产品将两种Z轴方向的移动控制模式整合在一起,是两种模式一体化,可以实现两种Z轴移动模式的自由切换,测量范围从nm水平到mm水平,实现纳米分辨率到亚微米分辨率,可测量不同类型的产品,适用于大轮廓形貌到微小形貌的多种应用需求。v产品特点 1.两种Z轴移动控制模式,压电陶瓷马达
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smartWLI Prime白光干涉三维轮廓仪
- 品牌:德国GBS
- 型号: smartWLI Prime
- 产地:德国
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美国Rtec非接触式光学轮廓仪/形貌仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: UP - WLI
- 产地:美国
美国Rtec公司的WLI非接触式光学轮廓仪测量系统沿着纵轴捕获一系列位置的光强数据。通过白光干涉图的形状,干涉图的局部相位或者是二者的结合来确定表面位置。本公司还有激光共焦,白光共焦,拉曼光谱仪等,可以把这些设备自由组合在一起,以实现客户的不同需求 WLI有如下特点快速直观的操作 较高的计算程序,精确的高测量速度和简便的操作软件,使用户能够快速的分析和创建报告多个物镜 该WLI-1000 带有6物镜转轮,包括多个物镜:长焦,短焦,不同数值孔径,投射
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KOSAKA LAB ET 4000台阶仪(探针接触式轮廓仪/微细形状测定机)
- 品牌:日本KOSAKA
- 型号: ET4000
- 产地:日本
产品介绍 株式会社小坂研究所(KOSAKA)是于 1950 年创立的公司,也是日本第一家发表光学干杠杆表面粗糙度计,是一家具有悠久历史与技术背景的专业厂商,主要有测定/自动/流体三大部门。其中测定部门为代表性单位且在日本精密测定业占有一席无法被取代的地位。ET4000系列中,有ET4000A(多动能、自动化、可添加一款3D软件,扫出测量表面的3D形貌) ,ET4000L(完全自动化的,针对体积较大的样品可与大型精密贵重玻璃或晶片尺寸样品) ,ET4000M(Y轴方向手动移动、性价比高、易于使用
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SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪
- 品牌:深圳中图仪器
- 型号: SJ5701-200
- 产地:深圳
SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪性能特点:1、 高精度、高稳定性、高重复性:满足被测件测量精度要求:1) 选用高精度光栅测量系统和高精度电感测量系统,测量精度高;2) 自主研发高精度研磨导轨系统,导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作;3) 高性能直线电机驱动系统,保证测量稳定性高、重复性好;2、 智能化管理与检测软件系统:仪器操作界面友好,操作者很容易即可基本掌握仪器操作,使用简便。1) 10多年积累的实用检定软件设计经验,向客户提供简洁、实用、快速的操作体验;2) 功能强大、自动处理数据、打印各种
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探针式轮廓仪/三维形貌仪
- 品牌:美国AEP
- 型号: NANOMAP 500LS
- 产地:美国
NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪,既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌,又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理,在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学,工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。美
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光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
- 品牌:美国AEP
- 型号: NANOMAP D
- 产地:美国
NANOMAP D光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领xian供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪集白光干涉非接触测量法和大面积SPM扫描探针接触式高精度扫描成像于一个测量平台。是目前功能最全面,技术zuixianjin的表面三维轮廓测量显微镜。既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既
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多功能摩擦磨损试验机
- 品牌:美国AEP
- 型号: UT-3000
- 产地:海淀区
多功能摩擦磨损测试
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Filmetrics Profilm3D 光学轮廓仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Profilm3D
- 产地:美国
Filmetrics Profilm3D 光学轮廓仪
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Dektak 8 探针轮廓仪(台阶仪) Dektak 8 探针轮廓仪(台阶仪)
- 品牌:
- 型号: DEKTAK 8
- 产地:美国
仪器简介:Dektak8台阶式探针轮廓仪,结构紧凑,可提供很高的重复性和精度。独特的XY方向定位系统可移动到8x8inch区域的任何位置。它不仅能测量台阶高度和表面纹理,还能测量金属蚀刻速率的均匀性、焊点高度、纤维光学元件和显微透镜。全程程序控制的Dektak8系统对于MEMS,纳米技术和半导体应用都非常方便。技术参数:台阶高度重复性: 7.5,1σ在1um标准台阶上 最大晶圆尺寸:200mm 最大样品厚度:25.4mm (1 in.) 每次扫描数据点:最多可达60,0
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WYKO NT9300 光学轮廓仪 WYKO NT9300 光学轮廓仪
- 品牌:
- 型号: NT9300
- 产地:美国
仪器简介:Wyko NT9300采用了Veeco第九代光学轮廓探测技术,在0.1nm到10mm的垂直扫描范围内提供了快速、高精度的三维表面形貌测量功能,是大范围表面测量、数据缝合以及不规则样品测量的理想设备。ZL的双路LED照明源显著提高了光强并延长了光源器件的使用寿命,使操作者的各种测量应用都能获得**效果。无论操作者经验水平如何,XYZ三向可编程控制马达驱动的工作台系统以及Veeco独有的Tip/Tilt倾斜测量装置都使得测量工作变得异常轻松。业内领xian的Wyko Vision软件系统为用户提供了
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WYKO NT9800 光学轮廓仪 WYKO NT9800 光学轮廓仪
- 品牌:
- 型号: NT9800
- 产地:美国
仪器简介:Wyko NT9800 光学轮廓仪在0.1nm 到 10mm 的垂直扫描范围内提供了非接触式高速高精度三维表面测量工能,纵向分辨率可达0.1nm。NT9800 采用了VeecoZL的内部实时激光参考信号进行持续的自校准,减小了通常情况下使用标准块校准设备的需要,并且能够补偿工作环境下系统产生的热漂误差。作为业内领xian的第九代Wyko NT系列光学轮廓仪产品,NT9800 具有最高的自动化水平,友好的用户界面,以及业内**的Wyko Vision分析软件系统。众多先进技术的集成、经过长期实用验
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Wyko NT9100 光学轮廓仪 Wyko NT9100 光学轮廓仪
- 品牌:
- 型号: NT9100
- 产地:美国
仪器简介: NT9100光学轮廓仪是一款使用便利、性能卓越,性价比高的非接触无损伤三形貌维测量仪器。Wykozuixin的第九代系统采用独有的双LED照明光源ZL技术,能够更好的检测超光滑表面及非常粗糙的表面;它的测量范围可达亚纳米级粗糙度到毫米级的台阶高度。作为第九代白光干涉仪的桌面机台,NT 9100同样具有大机台才有的优点:简单易用的操作方式、快速数据获取能力、强大的软件功能及埃级的重现性等。同时,可选配的X-Y自动平台,使NT9100具有程序化处理样品的功能。 &
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DektakXT探针式表面轮廓仪
- 品牌:
- 型号: DektakXT
- 产地:美国
布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰,更加巩固了其行业领xian地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT一定能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)的技术突破,使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高
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Bruker ContourGT-I 三维光学显微镜
- 品牌:
- 型号: ContourGT-I
- 产地:美国
ContourGT-I 三维光学显微镜全球首chuang的扫描头倾斜自动样品台桌面型测量系统ContourGT-I 三维光学显微镜集三十年表面测量之大成,将创新与工业界合作的经验集合到一台桌面型系统上,实现面向生产自动化需要,测量角度灵活,的成像质量,和已经验证的可定标的稳定测试性能。通过布鲁克独有的扫描头倾斜技术,该系统可解决倾斜样品台测试时引起的样品位置变化,从而轻松实现在一定角度内自动倾斜对表面特征进行测量。zuixin一代的Vision64 软件结合改进的样品台设计进一步提高了使用的方便性,更
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[公开招标]预算289.62万元 中国海洋大学采购拉曼光学显微镜
中国海洋大学公开招标拉曼光学显微镜、MEMS扫描镜,光谱仪、近红外探测器、高精度高斯计,4.4GHz射频信号发生器、光学平台,紫外光刻机、光束轮廓仪,项目编号:HYHAQD2024-0113
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