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Alpha-Step D-500台阶仪
品牌:美国KLA
型号:Alpha-Step D-500
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Alpha-Step D-600 台阶仪
品牌:美国KLA
型号:Alpha-Step D-600
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P-17 台阶仪
品牌:美国KLA
型号:P-17
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Kosaka 6寸台阶仪 ET200A
品牌:深圳科时达
型号: ET200A
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Kosaka 便携式台阶仪
品牌:深圳科时达
型号:Kosaka
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P-7 台阶仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: P-7
- 产地:美国
P-7建立在P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17的测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。
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P-170 台阶仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: P-170
- 产地:美国
P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能,适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 P-170具有先进的图案识别算法、增强的光学系统平台,这保证了性能的稳定和系统间配方的无缝移植- 这是24x7生产环境的关键要求。
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P-17 台阶仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: P-17
- 产地:美国
该系统结合了UltraLite传感器、恒力控制和超平扫描平台,因而具备出色的测量稳定性。 通过点击式平台控制、顶视和侧视光学系统以及带光学变焦的分辨率相机等功能,程序设置简便快速。 P-17具备用于量化表面形貌的各种滤镜、调平和分析算法,可以支持2D或3D测量。 并通过图案识别、排序和特征检测实现全自动测量。
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Alpha-Step D-600 台阶仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: Alpha-Step D-600
- 产地:美国
Alpha-Step D-600探针式轮廓仪支持台阶高度和粗糙度的2D及3D测量,以及翘曲度和应力的2D测量。 光学杠杆传感器技术提供分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量,与材料特性无关。 可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。 通过测量粗糙度和应力,可以对工艺进行量化,确定添加或去除的材料量,以及结构的任何变化。
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Alpha-Step D-500台阶仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: Alpha-Step D-500
- 产地:美国
Alpha-Step D-500探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 光学杠杆传感器技术提供分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量,与材料特性无关。 可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。 通过测量粗糙度和应力,可以对工艺进行量化,确定添加或去除的材料量,以及结构的任何变化。
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P-7 台阶仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: P-7
- 产地:美国
P-7建立在P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17的测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。
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三维台阶仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap
- 产地:美国
仪器简介: 该系统利用扫描探针显微镜光杠杆位移检测技术和超平整参照面-大型样品台扫描技术,并与压电陶瓷(PZT)扫描wan美结合,可以再不丧失精度的情况下,即得到超大样品整体三维轮廓图,又呈现局部三维形貌像。其中样品台扫描参考平面使用超高平坦度光学抛光平台,有效解决了以往样品台扫面,由于丝杠公差引起的测试结果有亚微米量级的误差。 三维表面形貌/轮廓仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度,台阶高度,二维粗糙度(Ra,Rq
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台阶仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-PS
- 产地:美国
台阶仪 厚度47nm 标准样品,三次重复测量结果叠加 (无任何减噪修正,原始数据输出) 500um扫描, 2um探针NanoMap-PS是一款专门为nm级薄膜测量研发的无需防震台即可测量的接触式台阶仪 AFM同款位移传感器,超高精度 压电陶瓷驱动扫描,无内源振动 自集成主动反馈式防震系统 真正无需额外辅助防震系统,实现高重复性纳米测量 纳米量级科学研究的必备产品NanoMap-PS台阶仪可以应用在半导体,光伏/太阳能,光电子,化合物半导体,OLED,生物医药,PCB封装等领域的薄膜厚度,台阶
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台阶仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap
- 产地:美国
台阶仪NanoMap-500LSNanoMap 500LS台阶仪特点 该款台阶仪是常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的wan美结合 双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到zuiyou化的小区域三维测图 针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。 在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察 针尖扫描采用双光学传感器,同时拥有宽阔测量动
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台阶仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-D(2)
- 产地:美国
台阶仪NanoMap-D是一款兼备了白光干涉非接触式和探针接触式的台阶仪。NanoMap-D三维台阶仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。该款仪器可以看做是表面研究的万用表,采用接触式和非接触式功能集于一身的设计特点,弥补两种模式的局限,发挥表面形貌仪的测量极限。光学非接触式有速度快,直接三维成象,不破坏样品等特点。探针接触模式方便快捷,制样简单,测量材料广泛。两种模式相结合可以对更多形状、性状、材质的试样进行表面形貌的研究。台
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台阶仪台阶测量仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-500LS
- 产地:美国
台阶仪NanoMap-500LS接触式三维表面台阶仪NanoMap-500LSNanoMap 500LS探针三维台阶仪特点 常规的探针台阶仪和扫描探针显微镜技术的wan美结合 双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到zuiyou化的小区域三维测图 针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。 接触式探针台阶仪在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样
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台阶仪台阶测量仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMapD(2)
- 产地:美国
NanoMap-D 台阶仪NanoMap-D三维台阶仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。该款仪器可以看做是表面研究的万用表,采用接触式和非接触式功能集于一身的设计特点,弥补两种模式的局限,发挥表面形貌仪的测量极限。光学非接触式有速度快,直接三维成象,不破坏样品等特点。探针接触模式方便快捷,制样简单,测量材料广泛。两种模式相结合可以对更多形状、性状、材质的试样进行表面形貌的研究。台阶仪又名三维表面形貌或轮廓仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合
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台阶仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: Nanomap-LS
- 产地:美国
台阶仪, NanoMap-LS接触式三维表面台阶仪NanoMap-LSNanoMap -LS探针接触式 台阶仪特点探针台阶仪是利用探针扫描样品表面,仪器记录探针随样品表面高低起伏状态,整合数据得到台阶高度,表面形貌,沟槽深度等特征。双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到zuiyou化的小区域三维测图针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从150mm X 150m 。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。接触式探针台阶仪在扫描过程中结合彩色光学
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全自动 台阶仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-LS(3)
- 产地:美国
台阶仪, NanoMap-LS 接触式三维表面台阶仪NanoMap-LS 探针接触式 台阶仪特点:探针台阶仪是利用探针扫描样品表面,仪器记录探针随样品表面高低起伏状态,整合数据得到台阶高度,表面形貌,沟槽深度等特征。双模式操作(针尖扫描和样品台扫描)针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从150mm X 150m样品台扫描扫描范围到100mm纳米级抛光光学参考平晶实时彩色光学照相机直接观测双光学传感器 纵向测量范围最大至1000um,最小到分辨率0.1nm恒定微力接触 最小0.03mg简
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美国Rtec台阶仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: UP-Dual
- 产地:美国
美国Rtec台阶仪特点:一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪+高精度原子力显微镜白光干涉白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描,对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式,能够高精度测量粗糙或者光滑的样品表面。 **的技术来实现高Z向分辨率 白光干涉法和相移两种模式实现Z方向的高分辨率。 快速图像处理系统达到400万像素 四色LED相机 更大的垂直测量范围达10毫米 150 mmx150mm马达控制平台。 样品粗糙度,粗糙表面高度抛光后的光洁度以及表面结构测量,如陶瓷、塑料和辊钢。 SPIP专业数据分析
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Rtec UP 台阶仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: UP-DUAL MODE
- 产地:美国
美国Rtec双模式台阶仪特点:一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪+高精度原子力显微镜白光干涉白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描,对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式,能够高精度测量粗糙或者光滑的样品表面。 **的技术来实现高Z向分辨率 白光干涉法和相移两种模式实现Z方向的高分辨率。 快速图像处理系统达到400万像素 四色LED相机 更大的垂直测量范围达10毫米 150 mmx150mm马达控制平台。 样品粗糙度,粗糙表面高度抛光后的光洁度以及表面结构测量,如陶瓷、塑料和辊钢。 SPIP专业数
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印刷表面粗糙度(PPS)
- 品牌:美国TMI
- 型号:
- 产地:美国
仪器简介:JohnParker’s博士发明的测试 方法,PPS采用微处理机控制, 可以快速,准确测试出纸张在 印刷过程各种条件下的表面粗糙度。 试样夹在高灵敏度测试头和特殊设 计的背衬组件之间。测试气流通过 纸张表面阻力直接由内部计算成粗糙度以微米为结果单位显示。 zuixin型的设备扩展了夹样压力范围和测试能力,双面同时测试提高了功效。大容量信息的提供为我们节约了时间,**的模拟了印刷过程,节约了印刷成本。 技
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KLA晶圆探针式轮廓仪/台阶仪P-7
- 品牌:美国KLA
- 型号: P-7
- 产地:美国
传感器具有动态力控制,良好的线性,和精确的垂直分辨率等特性友好的用户界面和自动化测量可以适配大学、研发、生产等不同应用场景。KLA是半导体在线检测设备市场较大的供应商,在半导体、数据存储、 MEMS 、太阳能、光电子以及其他领域中有着不俗的市占率。P-7是KLA公司的第八代探针式台阶仪系统,作为晶圆探针式轮廓仪/台阶仪历经技术积累和不断迭代更新,集合众多技术优势。二、 功能晶圆探针式轮廓仪/台阶仪设备特点: 台阶高度:几纳米至1000um 微力恒力控制:0.
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KLA高精度台阶仪Alpha-Step D-600
- 品牌:美国KLA
- 型号: D-600
- 产地:美国
Alpha-Step高精度台阶仪/轮廓仪D-600 包括一个 200 毫米电动载物台,具有 150 x 178 毫米 X-Y 运动范围。 新的测序软件具有手动纠偏对齐和对样本多达 1000 个位置的编程功能。 该系统具有先进的光学元件、具有 4 倍数码变焦的高分辨率 500万像素相机和增强的视频控制功能,可实现高度通用的样品可视化。一、功能 设备特点 电动载物台 台阶高度:几纳米至1200μm 低触力:0.
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探针式轮廓仪 HRP®-260 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-260
- 产地:美国
HRP®-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至300微米的台阶高度测量功能。 P-260配置支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D及3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 HRP-260配置的功能与P-260相同,并增加了可以生产类似AFM扫描结果的高分辨率平台。 HRP平台具有先进的图案识别算法,可增强系统间程序的移植,这是24x7生产环境的关键要求。
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探针式轮廓仪 Tencor™ P-170 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-170
- 产地:美国
Tencor P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能,适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 Tencor P-170具有先进的图案识别算法、增强的光学系统和先进的平台,这保证了性能的稳定和系统间配方的无缝移植- 这是24x7生产环境的关键要求
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探针式轮廓仪 Tencor™ P-17 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-17
- 产地:美国
Tencor P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。
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探针式轮廓仪 Tencor™ P-7 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-7
- 产地:美国
Tencor P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。
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台阶仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: D600
- 产地:美国
Alpha-Step D-600 探针式轮廓仪能够测量从几纳米到 1200微米的2D和3D台阶高度。D-600 还支持2D和3D的粗糙度测量,以及用于研发和生产环节的2D翘曲度和应力测量。D-600 包含一个带有200 毫米样品载台的电动样品台和具有增强影像控制的高级光学器件。
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探针式轮廓仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: D500
- 产地:美国
Alpha-Step D-500探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量,与材料特性无关。 可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。 通过测量粗糙度和应力,可以对工艺进行量化,确定添加或去除的材料量,以及结构的任何变化。
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KLA 台阶仪 D-600
- 品牌:美国KLA
- 型号: D-600
- 产地:美国
设备特点 台阶高度:几纳米至1200μm 低触力:0.03至15mg 视频:500万像素高分辨率彩色摄像头 梯形失真校正:消除侧视光学系统引起的失真 圆弧校正:消除由于探针的弧形运动引起的误差 紧凑尺寸:小占地面积的台式探针式轮廓仪 软件:用户友好的软件界面 主要应用 台阶高度:2D台阶高度和3D台阶高度 纹理:2D粗糙度和波纹度 形式:2D翘曲和形状 应力:2D薄膜应力 应用领域 大学,研究实验室和研究所 半导体和复合半导体 SIMS:二次离子质谱 LED:发光二极管 太阳能 MEMS:微电子机械系统 汽车 医疗设备
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KLA 台阶仪 P17
- 品牌:美国KLA
- 型号: P17
- 产地:美国
设备特点 台阶高度:几纳米至1000μm 微力恒力控制:0.03至50mg 样品全直径扫描,无需图像拼接 视频:500万像素高分辨率彩色摄像机 圆弧校正:消除由于探针的弧形运动引起的误差 软件:简单易用的软件界面 生产能力:通过测序、图案识别和SECS/GEM实现全自动化 主要应用 台阶高度:2D和3D台阶高度 纹理:2D和3D粗糙度和波纹度 形状:2D和3D翘曲和形状 应力:2D和3D薄膜应力 缺陷复检:2D和3D缺陷表面形貌 工业应用 半导体和化合物半导体 LED:发光二极管 太阳能 MEMS:微机电系统 数据存储 汽车 医疗设备
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KLA 台阶仪 P7
- 品牌:美国KLA
- 型号: P7
- 产地:美国
设备特点 台阶高度:几纳米至1000um 微力恒力控制:0.03mg至50mg 样品全直径扫描,无需图像拼接 视频:500万像素高分辨率彩色摄像机 圆弧矫正:消除由于探针的弧形运动引起的误差 生产能力:通过测序,模式识别和SECS/GEM实现全自动化 主要应用 薄膜/厚膜台阶 刻蚀深度测量 光阻/光刻胶台阶 柔性薄膜 表面粗糙度/波纹度表征 表面曲率和轮廓分析 薄膜的2D Stress量测 表面结构分析 表面3D轮廓成像 缺陷表征和分析 其他多种表面分析功能
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KLA 台阶仪 D-500
- 品牌:美国KLA
- 型号: D-500
- 产地:美国
台阶高度:几纳米至1200μm 低触力:0.03至15mg 视频:500万像素高分辨率彩色摄像头 梯形失真校正:消除侧视光学系统引起的失真 圆弧校正:消除由于探针的弧形运动引起的误差 紧凑尺寸:小占地面积的台式探针式轮廓仪 主要应用 台阶高度:2D台阶高度 纹理:2D粗糙度和波纹度 形式:2D翘曲和形状 应力:2D薄膜应力 应用领域 大学,研究实验室和研究所 半导体和复合半导体 SIMS:二次离子质谱 LED:发光二极管 太阳能 MEMS:微电子机械系统 汽车 医疗设备
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KLA 台阶仪 D-300
- 品牌:美国KLA
- 型号: D-300
- 产地:美国
Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量,与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行测量。通过测量粗糙度和应力,可以对工艺进行量化,确定添加或去除的材料量,以及结构的任何变化。 设备特点 台阶高度:几纳米至1000μm 低触力:0.5至15mg 视频:500万像素率彩色摄像头 梯形失真校正:消除侧视光学系统引起的失真 圆弧校正:消除由于探针的弧形运动引起的误差 紧凑尺寸:小占地面积的台式探针式轮廓仪 主要应用 台阶高度:2D台阶高度 纹理:2D粗糙度和波纹度 形式:2D翘曲和形状 应力:2D薄膜应力 应用领域 半导体和复合半导体 SIMS:二次离子质谱 LED:发光二极管 太阳能 MEMS:微电子机械系统 汽车 医疗设备
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美国KLA台阶仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: P7
- 产地:美国
KLA-Tencor先进的探针式台阶仪,可精确测量纳米级至2毫米台阶高度,并可分析薄膜表面粗糙度、波纹度、应力,集高测量精度、多功能性和经济性于一体,是生产线及材料分析等应用领域的理想选择。因其具有6.0A (1σ)或0.1%台阶高度重复性以及亚埃级的分辨率,是目前商业化仪器里(经市场验证)特别高精度的台阶仪产品。 1. D系列台阶仪:Alpha-Step D-600 Stylus Profiler KLA-Tencor A
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[公开招标]预算703万元 湖南科技大学采购原位拉曼光谱仪
湖南科技大学公开招标原位拉曼光谱仪,基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪,台阶仪、热台偏光显微镜,项目编号:湘财采计[2024]000546号
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