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Alpha-Step D-500台阶仪
品牌:美国KLA
型号:Alpha-Step D-500
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Alpha-Step D-600 台阶仪
品牌:美国KLA
型号:Alpha-Step D-600
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P-17 台阶仪
品牌:美国KLA
型号:P-17
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Kosaka 6寸台阶仪 ET200A
品牌:深圳科时达
型号: ET200A
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Kosaka 便携式台阶仪
品牌:深圳科时达
型号:Kosaka
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布鲁克第十代台阶仪DektakXT
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: DektakXT
- 产地:德国
布鲁克DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供无与伦比的重现性,重现性低于4A。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年 Dektak 技术创新的顶峰,更加巩固了其行业领先地位。通过整合其行业领先产品,DektakXT实现了最高性能。操作简易,从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术突破到第十代 Dektak 台阶仪能够在微电子,半导体,太阳能、超高亮度发光二极管(LED)、医学、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。DektakXT 利用独特的直接驱动扫描样品台,将测
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二手 Bruker Dektak XT 台阶仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Dektak XT
- 产地:德国
德国布鲁克DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以到5Å。台阶仪这项性能的到了过去四十年Dektak技术,更加巩固了其行业。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)的技术,使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度
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KLA晶圆探针式轮廓仪/台阶仪P-7
- 品牌:美国KLA
- 型号: P-7
- 产地:美国
传感器具有动态力控制,良好的线性,和精确的垂直分辨率等特性友好的用户界面和自动化测量可以适配大学、研发、生产等不同应用场景。KLA是半导体在线检测设备市场较大的供应商,在半导体、数据存储、 MEMS 、太阳能、光电子以及其他领域中有着不俗的市占率。P-7是KLA公司的第八代探针式台阶仪系统,作为晶圆探针式轮廓仪/台阶仪历经技术积累和不断迭代更新,集合众多技术优势。二、 功能晶圆探针式轮廓仪/台阶仪设备特点: 台阶高度:几纳米至1000um 微力恒力控制:0.
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KLA高精度台阶仪Alpha-Step D-600
- 品牌:美国KLA
- 型号: D-600
- 产地:美国
Alpha-Step高精度台阶仪/轮廓仪D-600 包括一个 200 毫米电动载物台,具有 150 x 178 毫米 X-Y 运动范围。 新的测序软件具有手动纠偏对齐和对样本多达 1000 个位置的编程功能。 该系统具有先进的光学元件、具有 4 倍数码变焦的高分辨率 500万像素相机和增强的视频控制功能,可实现高度通用的样品可视化。一、功能 设备特点 电动载物台 台阶高度:几纳米至1200μm 低触力:0.
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探针式轮廓仪 HRP®-260 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-260
- 产地:美国
HRP®-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至300微米的台阶高度测量功能。 P-260配置支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D及3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 HRP-260配置的功能与P-260相同,并增加了可以生产类似AFM扫描结果的高分辨率平台。 HRP平台具有先进的图案识别算法,可增强系统间程序的移植,这是24x7生产环境的关键要求。
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探针式轮廓仪 Tencor™ P-170 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-170
- 产地:美国
Tencor P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能,适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 Tencor P-170具有先进的图案识别算法、增强的光学系统和先进的平台,这保证了性能的稳定和系统间配方的无缝移植- 这是24x7生产环境的关键要求
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探针式轮廓仪 Tencor™ P-17 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-17
- 产地:美国
Tencor P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。
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探针式轮廓仪 Tencor™ P-7 Stylus Profiler
- 品牌:美国KLA
- 型号: Tencor™ P-7
- 产地:美国
Tencor P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。
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KLA 台阶仪 P17
- 品牌:美国KLA
- 型号: P17
- 产地:美国
设备特点 台阶高度:几纳米至1000μm 微力恒力控制:0.03至50mg 样品全直径扫描,无需图像拼接 视频:500万像素高分辨率彩色摄像机 圆弧校正:消除由于探针的弧形运动引起的误差 软件:简单易用的软件界面 生产能力:通过测序、图案识别和SECS/GEM实现全自动化 主要应用 台阶高度:2D和3D台阶高度 纹理:2D和3D粗糙度和波纹度 形状:2D和3D翘曲和形状 应力:2D和3D薄膜应力 缺陷复检:2D和3D缺陷表面形貌 工业应用 半导体和化合物半导体 LED:发光二极管 太阳能 MEMS:微机电系统 数据存储 汽车 医疗设备
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KLA 台阶仪 P7
- 品牌:美国KLA
- 型号: P7
- 产地:美国
设备特点 台阶高度:几纳米至1000um 微力恒力控制:0.03mg至50mg 样品全直径扫描,无需图像拼接 视频:500万像素高分辨率彩色摄像机 圆弧矫正:消除由于探针的弧形运动引起的误差 生产能力:通过测序,模式识别和SECS/GEM实现全自动化 主要应用 薄膜/厚膜台阶 刻蚀深度测量 光阻/光刻胶台阶 柔性薄膜 表面粗糙度/波纹度表征 表面曲率和轮廓分析 薄膜的2D Stress量测 表面结构分析 表面3D轮廓成像 缺陷表征和分析 其他多种表面分析功能
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布鲁克台阶仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: DektakXT
- 产地:德国
德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。
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[公开招标]预算703万元 湖南科技大学采购原位拉曼光谱仪
湖南科技大学公开招标原位拉曼光谱仪,基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪,台阶仪、热台偏光显微镜,项目编号:湘财采计[2024]000546号
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