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射线检测仪

赛默飞世尔
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射线检测仪

射线检测仪概述

射线检测仪是专门检测电离辐射(X、α、β、γ)的仪器。射线检测仪是利用X射线的穿透能力,在工业上一般用于检测一些眼睛所看不到的物品内部伤断,或电路的短路等。比如说检测多层基板内部电路有无短路,X射线可心穿透基板的表面看到基板的内部电路,在X射线发生器对面有个数据接收器,自动的将接收到的辐射转换成电信号并传到扩张板中,并在电脑中转换成特定的信号,通过专用的软件将图像在显示器中显示出来,这样就可以通过肉眼观测到基板的内部结构,而不用拿万用表去慢慢测试。射线有很强的穿透性,射线探伤就是利用γ射线得穿透性和直线性来探伤的方法。射线探伤对气孔、夹渣、未焊透等体积型缺陷最敏感。
中子剂量率仪

中子剂量率仪

品牌:山西中辐
型号:NADE-201高灵敏中子周围剂量当量率仪
热释光读出器Harshaw TLD 6600

热释光读出器Harshaw TLD 6600

品牌:赛默飞
型号:Harshaw TLD 6600
AXAS-D-SDD探测器

AXAS-D-SDD探测器

品牌:Ketek
型号:AXAS-D
GE Pcbainspector PCBA检测系统

GE Pcbainspector PCBA检测系统

品牌:通用电气
型号:Pcbainspector
MONOBLOCK,一体化X射线源

MONOBLOCK,一体化X射线源

品牌:丹东奥龙
型号:XRS
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不限 中国大陆 大洋洲欧洲亚洲美洲
厂商性质
不限 生产商授权代理商一般经销商
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江苏山东上海北京安徽浙江福建广东广西海南湖北河南江西天津河北山西宁夏西藏青海陕西四川云南贵州甘肃辽宁吉林黑龙江内蒙古香港台湾澳门湖南重庆新疆
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个人中子剂量仪EPD-N2

个人中子剂量仪EPD-N2

  • 品牌: 赛默飞世尔
  • 型号: EPD-N2
  • 产地:美国
  • EPD-N2型电子个人剂量计,采用多级探测器,有出色的能量响应,适用于γ/中子混合场的测量。 技术特点: 出色的能量响应,25 KeV-10 MeV(光子),热中子-15 MeV(中子)γ/中子混合场中性能优异多级探测器直接显示中子与光子的深层剂量Hp(10)多探头技术

电子个人剂量计EPD MK2

电子个人剂量计EPD MK2

  • 品牌: 赛默飞世尔
  • 型号: EPD MK2
  • 产地:美国
  • EPD Mk2型电子个人剂量计,主要探测X、γ和β辐射,可以给出直读剂量当量Hp(10)(深层/全身)和Hp(0.07)(浅层/皮肤)的剂量数值。EPD结合了强大的辐射测量性能和先进的软硬件,符合IEC 1283, IEC 1526, ANSI 13.11, 13.27和42.20等标准。适合于单独作为剂量计使用或者作为综合剂量管理系统的组成部分使用。EPD Mk2+是唯一通过2007年IAEA所有测试项目的电子个人剂量计。 仪器简介: 仪器简介:多级探测器,出色的X、γ和β辐射响应可设置剂量和剂量率警报,并可设置声音警报高速红外通讯接口存储剂量记录、警报记录等,无电池数据可保持10年,剂量存储区带密码保护电源:AA 1.5V碱电池(可连续适用8周)或者3.6V锂电池(可连续适用5个月)

热释光读出器Harshaw TLD 5500

热释光读出器Harshaw TLD 5500

  • 品牌: 赛默飞世尔
  • 型号: Harshaw TLD 5500
  • 产地:美国
  • 仪器特点:& bull; 能自动读取高达50个剂量元件• 线性升温曲线• 加热曲线包括预热和读出后退火周期• 热气式加热,温度可达600 ℃• 光电倍增管冷却器,可降低光电倍增管的噪声,提高稳定性• 测量质量保证• 自动本底扣除• 易于操作,维护和保养• 建立校正软件技术规格:性能:每次装50个剂量元件周期:用标准TTP30秒/片发光探测系统:动态范围:7个数量级预热时间:30分钟线性:偏差小于1%暗电流:相对小于50 mGy (Cs-137)剂量元件加热系统:方法:气体加热线性升温 (TTP)高压:范围从500 V-1 200 V稳定性:±0.005%单位:nC, gU, mrad, mrem, mGy, Gy, μSv, mSv, Sv可靠性:平均无故障运行时间 (MTBF)>10,000小时内置自测和诊断功能操作温度范围:0-40 ℃贮存温度范围:-10-60 ℃

热释光读出器Harshaw TLD 6600

热释光读出器Harshaw TLD 6600

  • 品牌: 赛默飞世尔
  • 型号: Harshaw TLD 6600
  • 产地:美国
  • Harshaw TLD 6600 型热释光读出器,适用于人员剂量、环境剂量的测量,具有节省人力、节约资金等特点。技术特点:& bull; 一体化设计,可用于测量:• 全身剂量• β、光子、中子剂量• 端剂量• 环境剂量• 自动刻度,节约时间• 满足IEC、ISO、ANSI等国际标准• 自动执行质控检测程序• 故障间隔长• 没有OSL技术的缺点,如对光敏感

热释光剂量元件Harshaw TLD

热释光剂量元件Harshaw TLD

  • 品牌: 赛默飞世尔
  • 型号: Harshaw TLD
  • 产地:美国
  • 热释光剂量元件• 符合ANSI N545-1993,满足即将发布的N13.37• LiF:Mg, Cu, P材料• 测量:  ■ Hp (10)-深层剂量  ■ Hp (3)-眼晶体剂量  ■ Hp (0.07)-浅层剂量  ■ 中子剂量  ■ H* (10)-周围剂量当量  ■ H′(0.07)-定向剂量当量• 佩带方式可选肢端剂量元件肢端剂量元件用于人员肢端皮肤剂量的精确测量。技术特点• 通过ANSI N13.32-1995、DOELAP、NVLAP测试。• 适合佩带• 测量光子、β剂量• 可在读出器上读出• 42 mg/cm2窗用于光子测量  ■ TLD-100 100 mg/cm2  ■ TLD尺寸3 mm×0.4 mm中子剂量测量使用Thermo Scientific中子测量徽章后可测量热中子、快中子剂量。• 6Li/7Li剂量元件  ■ 热中子  ■ 快中子• LiF:Mg, Ti材料环境剂量监测使用Thermo Scientific环境测量徽章后可测量环境剂量。• 满足ANSI N545• LiF:Mg, Cu, P• 测量:  ■ H* (10)-周围剂量当量  ■ H′(0.07)-定向剂量当量设计巧妙,佩带方便,照射角度影响很小• 3.3 mg/cm2窗用于β测量  ■ TLD-100 H/700 H 7 mg/cm2  ■ TLD 粉末• 指环有4种颜色可选• 剂量计算软件• 满足ANSI N545• LiF:Mg, Cu, P• 测量:  ■ H* (10)-周围剂量当量  ■ H′(0.07)-定向剂量当量• 过滤膜通过100%涡流测试• 密封封装,防止污染• 条形码编号窗口透明,方便保管• 剂量元件可选择不同颜色,方便管理• 剂量计算软件• 中子测量  ■ 6Li/7Li剂量元件  ■ 热中子  ■ 快中子  ■ LiF:Mg, Ti材料

电子个人γ剂量计EPD-G

电子个人γ剂量计EPD-G

  • 品牌: 赛默飞世尔
  • 型号: EPD-G
  • 产地:美国
  • EPD-G 电子个人γ剂量计由EPD MK2电子个人剂量计改进而来,具有同样的设计。适用于无需测量β辐射的场合。Thermo Scientific EPD电子个人剂量计已经在国内外得到广泛的应用。 仪器特点: 多级探测器技术,出色的X、γ响应报警阙值(剂量、剂量率),音量均可以调节电源:AA 1.5V碱电池(可连续适用8周)或者3.6V锂电池(可连续适用5个月)无电池情况下数据可以保存10年ADS剂量管理,存储峰值剂量率与相应的时间,相应的数据存储区域设置了密码数据时间间隔可以设定,存储量最小间隔1s 技术规格:测量类型:X,γ能量响应:15keV-10000keV测量范围:剂量当量:1/64μSv->16Sv剂量率:1/64μSv/h->16Sv/h精确度:±10%(Cs-137)测量单位:Sv,Gγ,rem(带合适前缀)

美国IMI射线检测仪INSPECTOR ALERT IA-V2

美国IMI射线检测仪INSPECTOR ALERT IA-V2

MONOBLOCK,一体化X射线源

MONOBLOCK,一体化X射线源

  • 品牌: 丹东奥龙
  • 型号: XRS
  • 产地:
  • MONOBLOCK,一体化X射线源技术特点出射线角度范围。非准直X射线光束形成Ω角度的锥形。阳极层的厚度为150微米,Ω的典型值是125°。辐射光谱。射线源的原发射光谱主要取决于阳极材料和电压值。它包含强烈的典型线条和连续的轫致辐射。光谱的软射线部分能量低于5KV,也取决于阳极层的厚度和X射线光束输出角度。典型的发射光谱与钼阳极,通过半导体硅光谱仪获得展示如下图所示。阳极类型-透射式阳极层材料:金刚石,铍阳极材料:铜,钼,银,钨焦点尺寸:阳极30微米运行电压10-40kV功率:5W(金刚石涂层时12W)重量:400g尺寸:120*40*70mm射线源的重量和尺寸取决于不同的型号。图片为距离射线源0.5米距离的原射线光谱。附件附件包括-辐射过滤片-准直仪-单色仪辐射过滤片是铝箔或者是元素周期表中中间组的金属用来分别吸收软硬射线。根据预先决定好的辐射角度,限束仪提供了一个狭窄方向的锥形光束或者扇形光束。

X射线显微镜

X射线显微镜

  • 品牌:
  • 型号: FellesXRM
  • 产地:美国
  • 这是全球范围内最具性价比的成像X射线显微镜,它可以在客户现有的光学显微镜的基础上直接升级,以超低成本实现X射线显微成像系统和成像X射线显微镜功能,也可以配置整套系统,真正意义上的非侵入性内部成像。这款成像X射线显微镜帮助客户观察样品的自然状态,而不需要任何样品制备工作。它可以与世界上任何商用的倒置显微镜匹配,轻松升级到X射线显微成像系统。该X射线显微成像系统配备具有美国专利的单晶闪烁体技术,以超低价格提供超低分辨率。成像X射线显微镜参数:10-50KVp X射线源3微米分辨率样品尺寸科大 60x60x60mm无限的有效视场瞬时视场(FOV)高达10mm(取决于物镜)X射线单元重量:<10kgX射线单元尺寸:350x150x200mmX射线显微成像系统主要应用:微小动物研究组织样品研究SEM样品准备纳米科学材料科学刑侦分析失效分析印刷电路板检测集成电路分析制药研究

美国IMI射线检测仪inspector射线检测仪

美国IMI射线检测仪inspector射线检测仪

美国SE射线检测仪inspector USB

美国SE射线检测仪inspector USB

美国SE射线检测仪inspector EXP

美国SE射线检测仪inspector EXP

  • 品牌: 美国SE
  • 型号: inspector EXP
  • 产地:美国
  • 便携外置传感探头的辐射监测仪,可通过软件连接电脑进行监测,数据可保存在电脑里。

山西中辐射线检测仪MPR200-EG便携式环境γ测量仪

山西中辐射线检测仪MPR200-EG便携式环境γ测量仪

  • 品牌: 山西中辐
  • 型号: MPR200-EG便携式环境γ测量仪
  • 产地:太原
  • MPR200-EG便携式环境γ测量仪是一款用于监测放射性区域等多种场所中X、γ射线的辐射剂量率。采用NaI晶体作为探测器,探头内置信号处理电路及存储器,可自动存储探头数据信息。主机可设置探头参数、测量模式、刻度因子、报警阈值等参数信息。该仪器具有剂量率测量范围宽、能量响应好等特性。配有便携式仪器箱,携带方便,易于操作。可广泛应用于医疗卫生、医院放射科、环保、冶金、石油、化工、放射性实验室、商检等需进行辐射环境与辐射防护检测的场所。

中子剂量率仪

中子剂量率仪

  • 品牌: 山西中辐
  • 型号: NADE-201高灵敏中子周围剂量当量率仪
  • 产地:太原
  • NADE-201型高灵敏度中子周围剂量当量率仪,是一款由中国辐射防护研究院自主研制的,用于监测核电站、核动力装置、加速器等核设施周边辐射场中子剂量当量(率)的高性能仪器。特点: 1、 独特的低能补偿设计,能响特性好 2、 采用高性能He-3正比计数器,灵敏度高; 3、 人体功能学把手设计; 4、 后倾面板设计,便于观察; 5、 中英文双语操作界面; 6、 结构紧凑重量轻 7、 可连续工作24小时以上

山西中辐射线检测仪PDS103中子个人剂量仪

山西中辐射线检测仪PDS103中子个人剂量仪

  • 品牌: 山西中辐
  • 型号: PDS103中子个人剂量仪
  • 产地:太原
  • 1.探测器:PIPS半导体探测器 2.辐射类型:中子 3.测量范围: 1μSv ~ 999.9mSv 剂量当量率 1μSv/h ~ 520mSv/h 4. 固有误差:≤±15% 5.能量范围: 0.025eV ~ 14MeV

盖格计数器/电离室探测器/正比计数器/中子束探测器/气体采样计数器/硼内衬探测器/反符合探测器

盖格计数器/电离室探测器/正比计数器/中子束探测器/气体采样计数器/硼内衬探测器/反符合探测器

  • 品牌: 美国LNDINC
  • 型号: To be confirmed
  • 产地:美国
  • Geiger-Mueller Tubes 盖格管计数器 Thin Wall Beta-Gamma Gamma Detectors Energy Compensated GM Detectors QPL Qualified GM Detectors Cross Reference Chart to Other Mfg. Products Tube Types by Increasing Gamma Sensitivity Thin Window Alpha-Beta-Gamma Detectors Pancake Style Mica Window Tubes End Window Tubes Ionization Chambers 电离室探测器 End Window Beta-Gamma Ionization Chambers Gamma Ionization Chambers Neutron Sensitive Ionization Chamber X-Ray Proportional Counters X射线正比计数器 Cylindrical End Window Proportional Counters Cylindrical Side Window Proportional Counters Quadrilateral Side Window Proportional Counters Large Area Beta-Gamma Proportional Counters Pancake Style Proportional Counters Flow Proportional Counters Position Sensitive Proportional Counters Neutron Detectors 中子束探测器 BF3 Detectors 三氟化硼中子束探测器 Neutron Beam Monitors Cylindrical BF3 Neutron Detectors Quadrilateral BF3 Neutron Detectors Spherical BF3 Neutron Detectors He3 Detectors 氦三中子束探测器 Cylindrical He3 Neutron Detectors Quadrilateral He3 Neutron Detectors Spherical He3 Neutron Detectors Position Sensitive He3 Neutron Detectors Fission Chambers 裂变室中子束探测器 Cylindrical Neutron Counters Neutron Beam Monitors Boron Lined Detectors 硼内衬中子束探测器 B10 Lined Neutron Ion Chambers B10 Lined Neutron Proportional Counters B10 Lined Gamma Compensated Neutron Ion Chambers Proton Recoil Counters反冲质子和中子束计数器 Cylindrical Proton Recoil Detectors Spherical Proton Recoil Detectors Special Products Gas Sampling Counters 气体采样计数器 Anti-coincidence Detector反符合中子束探测器 Please don't hesitate to contact us if you have any question. 如有什么问题,请你及时联系我们,所有的产品都按照出厂价销售和供货,质量保证其为12个月。

探测器

探测器

  • 品牌: 美国Instec
  • 型号: XR-100SDD
  • 产地:美国
  • 仪器简介: XR-100SDD 硅漂移探测器(SDD)是Amptek 公司X 光探测器系列的最新成员,是一代革命性的产品。它 性能高、尺寸小、低成本,使它成为OEM 制造商的理想选择,用于生产从手持式到台式分析仪器。硅漂 移探测器(SDD)实现了极高计数率下优异的能量分辨率。同其它Amptek 公司生产的探测器一样,它被封 装在TO-8 外壳内,所以它的波形因数可直接转换为现有系统所用,兼容Amptek 公司生产的所有配件。 规格: Detector Type Silicon Drift Detector (SDD) Detector Size 25 mm2 Silicon Thickness 500 m, See efficiency curves Collimator Multilayer, click here for more information Energy Resolution @ 5.9 keV (55Fe) 125 - 140 eV FWHM at 11.2 peaking time Peak to Background 8200:1 (ratio of counts from 5.9 keV to 2 keV) Background Counts <3 x 10-3/s, 2 keV to 150 keV Detector Be Window Thickness 0.5 mil (12.5 m), See transmission curves Collimator Internal MultiLayer Collimator (ML). Click here for more information. Charge Sensitive Preamplifier Amptek custom reset preamplifier. Gain Stability <20 ppm/°C (typical) XR100SDD Case Size 3.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x 2.9 cm) Click here for mechanical dimensions XR100SDD Weight 4.4 ounces (125 g) Total Power <1 Watt Warranty Period 1 Year Typical Device Lifetime 5 to 10 years, depending on use Operation conditions 0°C to +50°C Storage and Shipping Long term storage: 10+ years in dry environment Typical Storage and Shipping: -20°C to +50°C, 10 to 90% humidity non condensing 主要特点: 高计数率:500,000 CPS 在 5.9 keV 峰处分辨率可达136 eV 半峰宽 (FWHM) 高峰强:背噪 (P/B) 比:7000:1 7 mm2 × 450 μm 无需液氮

X-射线结构分析

X-射线结构分析

  • 品牌: 奥地利安东帕
  • 型号: SAXSpace纳米结构分析仪
  • 产地:奥地利
  • SAXSpace纳米结构分析仪(X-射线结构分析)使用小角和广角X-射线散射(SAXS/WAXS) 方法研究纳米结构,研究对象包括蛋白质、食品、药品、聚合物和纳米复合材料、纳米粒子和催化剂等。样品:液体、固体、粉末、薄膜、纤维、膏状体、纳米结构表面粒径、体积:最大 100 nm(间距 200 nm),最小 10 μL温度范围:-150 °C到300 °C

AXAS-D-SDD探测器

AXAS-D-SDD探测器

  • 品牌: 德国Ketek
  • 型号: AXAS-D
  • 产地:德国
  • AXAS-D系列产品特点能够提供与VITUS系列探测器探头匹配的一体化数字信号处理系统,集成有脉冲恢复型超低噪声、超高计数率、电荷灵敏前置放大器与数字脉冲处理器DPP。 探测器的有效探测面积7mm2到50mm2可选 高度集成化设计,紧凑型外形,便于集成 集成了温控电路,供电电路,使用方便 用户可以定制封装探测器的FINGER的长度,标准长度为100mm,另有多种长度可选 德国ketek是世界上最早生产硅漂移探测器的公司产品具备高能量分辨、高计数率、高稳定性、兼容性强、操作简便等优点,多次随美国火星探测器登陆火星,为人类获取了许多火星主要成分的第一手资料。目前仍有7年前发射到火星的ketek探测器可以正常工作。能谱图样 Typical spectrum of a 30mm KETEK VITUS SDD in AXAS-D, taken with KETEK DPP Software at 8s shaping time.AXAS-D系列可选特性VITUS SDDGuaranteed FWHM [Mn Kα]Finger length [mm]Upper energy limitsH7, H7LE*, H15LE*, H20, H30, H50 * with low-energy windowPremium Class ≤ 133 eV* Standard Class ≤ 139 eV* ≤ 136 eV and ≤ 144 eV for H15LE50, 100, 160, 200, 30020 keV or 30 keV

AXAS-A-SDD探测器

AXAS-A-SDD探测器

  • 品牌: 德国Ketek
  • 型号: AXAS-A
  • 产地:德国
  • AXAS-A系列产品特点集成了VITUS系列的SDD探测器的分析系统,使用了脉冲复位机制的前置放大器,从而保证了探测器能够在高计数率下工作 集成供电高压电路,温控电路,用户只需使用±12V电源即可,使用方便 用户可以定制封装探测器的FINGER的长度,标准长度为100mm,另有多种长度可选 高度集成化设计,外形紧凑,便于集成 德国ketek是世界上最早生产硅漂移探测器的公司产品具备高能量分辨、高计数率、高稳定性、兼容性强、操作简便等优点,多次随美国火星探测器登陆火星,为人类获取了许多火星主要成分的第一手资料。目前仍有7年前发射到火星的ketek探测器可以正常工作。能谱图样 AXAS-A系列可选特性VITUS SDDGuaranteed FWHM [Mn Kα]Fingerlength [mm]Upperenergy limitsH7, H7LE*, H15LE*, H20, H30, H50 * with low-energy windowPremium Class ≤ 133 eV* Standard Class ≤ 149 eV* ≤ 136 eV and ≤ 144 eV for H15LE50, 100, 160, 200, 30020 keV or 30 keV

VIAMP-SDD探测器

VIAMP-SDD探测器

  • 品牌: 德国Ketek
  • 型号: VIAMP
  • 产地:德国
  • VIAMP系列产品特点VIAMP系列是KETEK推出的用软线连接硅漂移探测器探头与前置放大器的探测器模块,该探测器能够匹配VITUS系列的H7到H50型探头。客户可以根据自身的需要选择不同的封装方式。 德国ketek是世界上最早生产硅漂移探测器的公司产品具备高能量分辨、高计数率、高稳定性、兼容性强、操作简便等优点,多次随美国火星探测器登陆火星,为人类获取了许多火星主要成分的第一手资料。目前仍有7年前发射到火星的ketek探测器可以正常工作。使用条件PARAMETERTYPICALMAXIMUM RATINGSPositive Supply+5V / 25mA DC+4.9V to +5.4V 30mVpp RippleNegative Supply-5V / 15mA DC-4.9V to -5.4V 30mVpp RippleHV Bias Supply -140V / 1mA DC<0.1% 30mVpp RippleSignal PolarizationpositiveRamp Threshold(positive) +1.8V+1.6V to +2.0VRamp Threshold(negative)-1.8V-1.0V to -2.5VPreamp Gain3mV/keV <10%others on request<10%Tec Supply1.7V / 280mA @ -35°C3.6V / 700mA 30mVpp RippleTEC T70k@ 20°C Heat Sink Temp.Temp. Diode Slope2.35mV/K@ 1A Current操作示意图探测器引脚定义 Pin #DescriptionPin 1TEC Return (GND)Pin 2TEC SupplyPin 3+5V DCPin 4-5V DCPin 5Signal Return (GND)Pin 6Signal OutPin 7Temperature DiodePin 8GNDPin 9n.c.Pin 10Bias Voltage (HV)

VITUS-SDD探测器

VITUS-SDD探测器

  • 品牌: 德国Ketek
  • 型号: VITUS
  • 产地:德国
  • 德国ketek是世界上最早生产硅漂移探测器的公司产品具备高能量分辨、高计数率、高稳定性、兼容性强、操作简便等优点,多次随美国火星探测器登陆火星,为人类获得了许多火星上物质主要成分的第一手资料。目前仍有7年前发射到火星的ketek探测器可以正常工作。VIRUS系列产品性能参数VITUS Silicon Drift DetectorsPremium ClassStandard ClassTypeActive Area (mm)WindowCoolingPerformance Max T @ 30°C heat sinkGuaranteedFWHM @ 8s PT [eV]GuaranteedP/BTyp. FWHM @ 100kcps dead time <50% [eV]GuaranteedFWHM @ 8s PT [eV]Guaranteed P/BTyp. FWHM @ 100kcps dead time <50% [eV]H778m Be75≤ 133> 15,000≤ 139≤ 149> 6,000≤ 149H20208m Be75≤ 133> 15,000≤ 139≤ 149> 6,000≤ 149H30308m Be75≤ 133> 15,000≤ 139≤ 149> 6,000≤ 149H505012.5m Be75≤ 133> 15,000≤ 139≤ 149> 6,000≤ 149H808025m Be75≤ 136> 10,000≤ 144≤ 160> 5,000≤ 180R1009225m Be75≤ 136> 400≤ 144≤ 160> 400≤ 180VITUS Silicon Drift Detectors with low-energy windowPremium ClassStandard ClassTypeActive Area (mm)WindowCoolingPerformance Max T @ 20°C heat sinkGuaranteedFWHM @ 8s PT [eV]GuaranteedP/BTyp. FWHM @ 100kcps dead time <50% [eV]GuaranteedFWHM @ 8s PT [eV]Guaranteed P/BTyp. FWHM @ 100kcps dead time <50% [eV]H7LE7AP3.3 low-energy window55≤ 133> 10,000≤ 139≤ 139> 6,000≤ 144H15LE15AP3.3 low-energy window55≤ 136> 10,000≤ 139≤ 144> 6,000≤ 144

Shasta系列高压电源

Shasta系列高压电源

  • 品牌: 牛津仪器
  • 型号: Shasta
  • 产地:美国
  • 牛津仪器推出新型的Shasta系列X射线管高压电源,电源设计更稳定,并且优化了接地线的灯丝,灯丝具有多功能性,能够连接任何一种X射线管。Shasta系列高压电源牛津仪器推出新型的Shasta系列X射线管高压电源,电源设计更稳定,并且优化了接地线的灯丝,灯丝具有多功能性,能够连接任何一种X射线管。通过闭环发射控制电路实现低波动,Shasta系列高压电源具有更高的射束电流和更好的稳定性。可以通过本地和远程控制,方便的设定电压和发射电流。数字界面可选,数据接口有USB和RS232两种,也可实现偏压聚焦控制。设计紧凑的Shasta系列高压电源适用于各种OEM应用,包括:x射线荧光光谱仪X射线衍射仪医学成像工业检验无损检测

AMPTEK-超快型X射线/X光硅漂移探测器

AMPTEK-超快型X射线/X光硅漂移探测器

  • 品牌: 美国阿美特克
  • 型号: Fast SDD
  • 产地:美国
  • 下一代硅漂移探测器 (Next Generation SDD)超快型硅漂移探测器 (Super Fast SDD) 10倍通量 & 不损失任何分辨率 能量分辨率(FWHM,[eV])峰化时间(微秒)125813511450.2图1. 能量分辨率和峰化时间曲线 图2. 不同峰化时间条件下超快型硅漂移探测器的输出计数率和输入计数率的关系 图3. 不同峰化时间条件下超快型硅漂移探测器的能量分辨率和输入计数率的关系 图4. 一秒钟采集结果的定量分析1(样品为316型不锈钢-NIST 3155) 而以下表格则显示了图4中数据的定量分析结果。 元素合格浓度Super SDD仅需1秒V0.050.16±0.28Cr18.4518.32±0.80Mn1.630.0±0.55Fe64.5165.89±1.64Co0.10.00±0.40Ni12.1812.56±0.47Cu0.170.19±0.02Mo2.382.34±0.08 图5. 1.2Mcps输入计数率(ICR)情况下测量锰(Mn)样品 图6. 一秒钟采集结果的定量分析2(样品为焊锡)更多信息请关注AMPTEK英文官方网站:www.amptek.com。

AMPTEK-X射线/X光硅PIN探测器XR-100CR(X-RAY/Silicon-PIN/S

AMPTEK-X射线/X光硅PIN探测器XR-100CR(X-RAY/Silicon-PIN/S

  • 品牌: 美国阿美特克
  • 型号: XR-100CR
  • 产地:美国
  • XR-100CR型X射线硅漂移探测器 145eV的能量分辨率! 全固态设计! 热电致冷技术无需液氮! XR-100CR型硅PIN探测器及配套电源PX5 XR-100在火星探测器上的应用 XR-100探头组件示意图 XR-100CR系列产品由高性能X射线探头,前置放大器(前放)和致冷系统组成,首次采用热电致冷技术保持硅PIN光电二极管的低温工作环境,另外在两级热电致冷器上还安装了输入场效应管(FET)和新型温度反馈控制电路,这样探头组件的温度可保持在约零下55摄氏度左右,并可通过组件内置的温度传感器显示实时温度。探头采用TO-8封装,并利用不透光和不透气(真空封装适用)的薄铍(Be)窗以实现封装后的软X射线探测。 XR-100CR系列产品无需采用昂贵的低温制冷系统即可获得非常优越的性能,它标志着X射线探测器生产技术上的一个突破。 产品特性: 1.硅PIN光电二极管探头; 2.两级热电致冷器; 3.探头温度实时显示; 4.铍(Be)窗; 5.多层准直器; 6.密封封装(TO-8); 7.检测范围宽,适于多种应用; 8.操作简单,易上手。 应用范围: 1. X射线荧光分析; 2. RoHS/WEE标准检测; 3.便携式设备; 4. OEM应用; 5.核医疗学; 6.高校和科研院所教学研究; 7.艺术和考古学; 8.生产过程监控; 9.穆斯堡尔谱仪; 10.航空及宇航应用; 11.核电站辐射监控; 12.有毒物垃圾场检测; 13.粒子诱发X射线荧光分析(PIXE)。 配件: 1. MP1型X射线荧光分析系统装配平台 2.真空应用相关配件; 3.准直套装(高通量应用); 4.实验室XRF开发套装; XRF设备由此开始 ... ... 图1. 6mm2/500μm尺寸硅PIN探测器测得的55Fe能谱 利用硅PIN探测器测量55Fe(5.9keV的峰)能谱时的能量分辨率为145eV到230eV不等(半高全宽,FWHM),具体分辨率和探测器类型以及成形时间(shaping time)常数有关,详情可参见选购指南。 简要理论说明 入射的X射线会和硅原子相互作用,X射线能量每损失3.62eV就会在硅晶体产生一个电子-空穴对。随着入射能量的不同,能量损失或以光电效应为主,或以康普顿散射(Compton scattering)为主。而探测器吸收X射线能量并产生电子-空穴对的几率(即探测效率)随着硅的厚度增大而变大。 为提高电子-空穴队收集效率,需要在硅晶体上加约100到200伏的电压,而具体大小则取决于硅的厚度。在室温下工作时,该偏压对半导体而言过高,很可能漏电甚至击穿硅晶体。但在XR-100CR型探测器中首次应用了热电制冷技术,保证探头在低温下工作,这样漏电流大大减少,从而可以实现在高偏压下的正常工作。另外高偏压还能降低探测器的电容,进而降低系统噪声。 热电制冷器同时对硅探测器以及场效应晶体管(为电荷敏感前置放大器提供输入)进行冷却。对场效应管的冷却能减少它的漏电流,同时能增加跨导(transconductance),二者都能减少系统的电子学噪声。 实际上光电二极管探测器无法直接光学自复位,因此XR-100CR系列产品应用一种新颖的反馈控制方法来实现电荷敏感前置放大器的自复位。没有继续采用传统产品中的复位晶体管,而是通过发射一个精确的电荷脉冲到场效应管中来实现自复位,其中利用了到探测器的高压连接和探测器电容。该方法避免了自复位晶体管的噪声问题,系统的能量分辨率进一步提高。 利用热电制冷的探测器内部元件的温度会随着室温的变化而改变,故为即时监控这些元件的温度,在硅基底上还安装了一个用于温度监控的二极管芯片。低于-20oC的情况下,XR-100CR的性能在几摄氏度的范围内都不会有明显变化,故在通常室温条件下使用时无需采用闭合环路的温度反馈控制电路,但在OEM手持式X射线荧光谱仪设备应用中则强烈推荐使用温度反馈控制电路。主动温度控制(ATC)模块在PX2CR中是可选的,而在PX5中是默认标配的。 产品参数 常规参数 探头类型 硅PIN探测器(Si-PIN) 硅基底尺寸 6-25mm2 硅基底厚度 300或500μm 准直器 多层准直器 能量分辨率(@55Fe, 5.9keV峰) 145-230eV FWHM (取决于探测器类型和成形时间常数) 本底计数 <3x10-3/s,(对应2-150keV峰值,7mm2/300μm探测器) 铍(Be)窗厚度 1mil (25μm)或0.5mil (12.5μm) 电荷敏感型前置放大器 Amptek定制设计(通过高压连接复位) 增益稳定性(温飘) <20ppm/oC (一般情况下) 外壳尺寸 3 x 1.75 x 1.13 inch, 7.6 x 4.4 x 2.9 cm 重量 4.9 ounces (139g) 总功率 <1W 保修期 一年 产品寿命 五到十年,因具体应用而异 环境温度 0~+40oC 仓储和物流要求 长时间仓储:干燥条件下存放十年以上 一般仓储/物流:-20到+50oC,10%到90%湿度(无冷凝器) TUV Certification Certificate #: CU 72072412 01 Tested to: UL 61010-1: 2004 R7 .05 CAN/CSA-C22.2 61010-1: 2004 输入参数 前置放大器电源 电压正负8到9V,电流15mA,噪声峰峰值小于50mV 探头电源 电压100到200V,电流1μA(因探头种类而异); 输入需要非常稳定:<0.1%的波动。 制冷器电源 最大电压4V,噪声峰峰值小于100mV,最大电流350mA 注意:XR-100CR探测器自身包含温度控制器 输出参数 复位输出波形 XR100CR的输出在+5和-5V之间; 复位周期会随探测器类型和计数率不同而变化。 前置放大器灵敏度 一般为1mV/keV(不同探测器可能略有不同) 前置放大器极性 负脉冲信号输出(最大负载为1k欧姆) 前端放大器反馈 经过探测器电容复位 温度显示灵敏度 PX2CR中770mV相当于-50oC; 利用PX5可通过软件直接读取温度(单位:开尔文)。 XR-100CR 连接器接口 前置放大器输出 同轴电缆BNC接头 功率和信号 六针雷莫(LEMO)接头(Part# ERA.1S.306.CLL) 互连电缆 单独使用XR100CR:六针雷莫接头(Part# FFA.1S.306.CLAC57)到九针D型接口;配套使用PX5:六针雷莫到六针雷莫接头;长均五英尺。 六针LEMO接头针脚输出 针脚1 温度监控二极管 针脚2 探测器正偏压(高压),最大为+100~200V 针脚3 前置放大器-9V电源 针脚4 前置放大器+9V电源 针脚5 致冷器电源返回 针脚6 致冷器电源输入(电压范围:0~+4V,电流350mA) 外壳 接地和屏蔽 选配组件 1. 其他厚度的Be窗可特别订购(0.3mil到7.5um); 2. 高通量应用时候的准直器套件; 3. 真空应用相关配件; 4. OEM应用; 5. X-123配置。 图2a. X-123配置,包含探测器,前置放大器,数字处理器及电源的一体化设计。 图2b. 探测器,前置放大器及封装。 图3. XR100CR探测器加长选项 XR100CR的数字脉冲处理器和电源模块 XR-100CR系列产品的电源由PX5(数字脉冲处理器和电源模块组合)提供,而PX5自身的直流输入来源于交流电适配器。PX5提供了数字脉冲处理放大器(0.2~100us峰化时间),多道分析功能以及探测器所需的所有电源。 XR-100CR/PX5的组合系统能确保开机1分钟后稳定工作。 图4. 采用XR100CR和PX5搭建的典型系统的框图。 AMPTEK公司能提供不同的探测器和前置放大器配置以满足不同需要,其对应的针脚输出和电压类型不一样。 图5. 硅PIN和硅漂移探测器的分辨率和峰化/成形时间关系曲线 图6. 不同峰化时间下探测器能量分辨率和输入计数率(ICR)关系,对应XR100CR和PX5情况 图7. 不同峰化时间下的PX5输出能力 准直器的使用 为提高能谱测量的质量,绝大部分Amptek生产的探测器都带有内部准直器。 探测器有效面元(active volume)边缘部分和X射线的相互作用会因不完全电荷收集产生一些小脉冲信号,进而影响测得的能谱数据。而且这些信号可能正处在用户所关心的元素所在的能量范围,降低了信噪比。而内部准直器则可以限制X射线只能打到有效面元内,这就避免了噪声信号的产生。 不同类型的探测器中准直器的应用各有优点:提高峰本比(P/B);消除边界效应;消除假尖峰信号。 真空环境中的应用 XR-100CR型产品可以工作在10-8托的真空环境到大气压下工作,而真空环境应用有如下两种方案: 1) XR-100CR的探头和前放均置于真空室内部: a. 为保证XR-100CR的正常工作,需避免器件过热,并做好输入的1W功率的良好导热;即利用XR-100CR封装上的四个安装孔,根据具体真空室位形设计散热,将器件热量传导到真空室壁上; b. 在CF(Conflat Flange)刀口法兰上利用可选的真空馈通端子(如9DVF型,九接口)连接XR-100CR和真空室外的PX5电源。 2) XR-100CR全部置于真空室外:需利用可选的真空探测器延长组件(如EXV9型,长9英寸)和标准CF刀口法兰窗口(通过O型金属环密封)配套。 效率曲线 图8(线性坐标). XR-100CR型探测器的对应完全能量沉积的内禀探测效率。 该效率对应X射线能进入该探测器前端并通过光电效应沉积所有能量到探测器上的概率。 图9(对数坐标). 考虑各种效应后的收集效率,其中也包含了光电效应的概率影响。 光电效应在低能段主导,而该效应对应了能量的完全沉积,但在超过40keV后,康普顿(Compton)散射效应逐渐显著,不是所有能量均沉积在探测器上。 上面两图同时考虑了铍窗(包括保护层)对X射线透过率的影响以及光子与硅探测器之间的相互作用。曲线的低能部分由铍窗的厚度决定,而高能部分则取决于硅探测器的有效探测厚度。选用特定的铍窗,可使90%的能量为2到3keV的入射光子到达探测器;选用特定的探测器,可接收到90%的9到12keV 的光子。 传输效率文件:包含传输效率方面系数和常见问题解答的.zip格式文件,仅提供基本信息,不能作为定量分析依据。 XR-100在探路者(PathFinder)计划中在火星着陆!!! 得益于该系列产品的独特设计和可靠性,XR-100在探路者计划中被选中,用于岩石和土壤成分分析。 来自火星的第一个岩石元素成分能谱 图10. 承蒙芝加哥大学提供。 完整的XRF系统 图11. 完整的X射线荧光谱仪系统 图12. XR100CR和Mini-X安装在MP1平台上示意图 完整的X射线荧光谱仪系统包括: 1. XR-100CR型X射线探测器; 2. PX5型数字脉冲处理器,多道分析模块和电源; 3. Mini-X型USB控制X射线管; 4. XRF-FP定量分析软件; 5. MP1型XRF系统装配平台。 更多信息请关注AMPTEK英文官方网站:www.amptek.com。

AMPTEKX射线/X光硅漂移探测器XR-100SDD

AMPTEKX射线/X光硅漂移探测器XR-100SDD

  • 品牌: 美国阿美特克
  • 型号: XR-100SDD硅漂移探测器
  • 产地:美国
  • XR-100SDD型X射线硅漂移探测器125eV的能量分辨率! 采用电冷技术;无需液氮!图1. XR-100型硅漂移探测器及配套电源PX5 图2. 硅漂移探头元件示意图 XR-100SDD系列产品由新型高性能X射线硅漂移探头,前置放大器(前放)和致冷系统组成。采用热电致冷技术保持硅漂移探头(SDD)的低温工作环境,而在两级热电致冷器上亦安装了输入场效应管(FET)和新型温度反馈控制电路,这样探头组件的温度保持在约零下55摄氏度左右,并通过组件上的温度传感器显示实时温度。探头采用TO-8封装,并利用不透光和不透气(真空封装适用)的薄铍(Be)窗以实现封装后的软X射线探测。 XR-100SDD系列产品无需采用昂贵的低温制冷系统即可获得非常优越的性能,它标志着X射线探测器生产技术上的一个突破。产品特性:1. 高计数率:500,000 CPS(每秒计数, counts per second);2. 能量分辨率:125eV(半高全宽,FWHM,对应峰值为5.9keV的情况);3. 高峰本比:20,000:1“(ratio of counts from 5.9 keV to 1 keV) (typical)” ;4. 面积25mm2,厚度500m;5. 内置多层准直器;6. 不需要液氮制冷。应用范围:1. X射线荧光分析;2. 用于RoHS/WEEE标准检测的X射线荧光谱仪;3. OEM和其他专业应用;4. 生产工艺流程反馈控制;5. 高校和科研院所实验室研究;产品参数:本产品可以适应于用户不同应用时的参数需求。I. 高能量分辨应用: 1. 超高能量分辨率:125eV(对应峰值为5.9keV的情况); 2. 峰化时间(Peaking time):11.2s; 3. 计数率:100,000 CPS; 4. 峰本比:,20,000:1;II. 快速峰化应用: 1.能量分辨率:155eV(对应峰值为5.9keV的情况); 2. 峰化时间(Peaking time):0.8s; 3. 计数率:500,000 CPS;III. 手持设备应用: 1.能量分辨率:150eV(对应峰值为5.9keV的情况); 2. 峰化时间(Peaking time):3.2s; 3. 探测器探头温度保持在250K(-24oC) 4. 计数率:200,000 CPS;XRF设备由此开始 ... ...图3. Amptek硅漂移探测器(SDD)测得的55Fe能谱 产品说明 XR-100SDD型硅漂移探测器(SDD)是Amptek公司出品的一款新型X射线探测器,它标志着X射线探测器生产工艺的变革。XR-100SDD因其体积小,性能优越且价格便宜等特点,是OEM手持式和台式X射线荧光谱仪设备的理想选择;而且它在保证优异的能量分辨的同时还能达到相当高的计数率,可以满足各种参数需求;另外封装采用和Amptek出品的其他探测器一样的T0-8型外壳,方便用户升级现有系统以及和其他Amptek产品配套。 硅漂移探测器工作原理和硅PIN(Si-PIN)光电二极管类似,但它利用单电极结构大大提升了性能。Amptek公司专门为X射线能谱测量应用优化了其所有硅漂移探测器产品。 同样的探头面积下,硅漂移探测器电容比传统硅PIN探测器电容低很多,则所需成型时间变短,电子学噪声也会大大降低。因此硅漂移探测器可以相同(较高)的计数率下得到比传统探测器好的能量分辨率。另外为引导电子移动到相当小的低电容阳极上,探测器中的电极结构是特制的。 产品参数常规参数探头类型硅漂移探测器(SDD)探头尺寸25mm2硅晶体厚度500μm准直器内置多层准直器(ML)能量分辨率(@55Fe, 5.9keV峰)125-140eV FWHM (11.2μs峰化时间)峰本比(Peak to Background)20,000:1 (5.9keV,1keV计数比)典型的铍(Be)窗厚度0.5mil (12.5μm)电荷敏感型前置放大器Amptek定制可复位放大器增益稳定性(温飘)<20ppm/ oC (一般情况下)外壳尺寸3 x 1.75 x 1.13 inch, 7.6 x 4.4 x 2.9 cm重量4.4 ounces (125g)总功率<1W保修期一年产品寿命五到十年,因具体应用而异环境温度0~+50oC仓储和物流要求长时间仓储:干燥条件下存放十年以上 仓储/物流需求:-20到+50 oC,10%到90%湿度(无冷凝器)TUV Certification Certificate #: CU 72072412 02 Tested to: UL 61010-1: 2004 R7 .05 CAN/CSA-C22.2 61010-1: 2004输出参数前置放大器电源电压正负8到9V,电流15mA,噪声峰峰值小于50mV探头电源电压-90到-150V,电流25μA; 输入需要非常稳定:<0.1%的波动。制冷器电源最大电压3.5V,最大电流350mA,噪声峰峰值小于100mV; 注意:XR-100SDD探测器自身包含温度控制器输出参数前置放大器灵敏度一般为1mV/keV(不同探测器可能略有不同)前置放大器极性正脉冲信号输出(最大负载为1k欧姆)前端放大器反馈复位温度显示灵敏度利用PX5/X-123等直接读取温度(单位:开尔文)可选配置或配件X-123SDD 硅漂移探测器(SDD)也有对应的X-123SDD谱仪配置。该集成化配置包含了X射线探头,前置放大器,DP5数字脉冲处理和多道分析模块,以及PC5电源模块。而用户仅需提供+5V的直流输入和到您的电脑的USB/RS232/以太网连接。 包含硅漂移探测器的X-123SDD谱仪产品真空配件和所有Amptek真空配件兼容OEM和所有Amptek OEM配件兼容注意事项:1. 硅漂移探测器需要负高压,而前放输出为正脉冲。这和标准Si-PIN探测器所要求的正高压,而前方输出为负脉冲正好相反;2. PX5电源模块可以输出正或负的高压。若您为XR100SDD配套订购了PX5模块,则PX5必须设置为负高压输出。在使用XR-100CR探测器时,因错误设定PX5为负高压输出导致的探测器损坏不在保修范围之内。而使用XR-100SDD探测器时,因设定PX5为正高压输出导致的探测器损坏亦不在保修范围之内。准直器的使用 为提高能谱测量的质量,绝大部分Amptek生产的探测器都带有内部准直器。 探测器有效面元(active volume)边缘部分和X射线的相互作用会因不完全电荷收集产生一些小脉冲信号,进而影响测得的能谱数据。而且这些信号可能正处在用户所关心的元素所在的能量范围,降低了信噪比。而内部准直器则可以限制X射线只能打到有效面元内,这就避免了噪声信号的产生。 不同类型的探测器中准直器的应用各有优点:提高峰本比(P/B);消除边界效应;消除假尖峰信号。真空环境中的应用 XR-100SDD型产品可以工作在10-8托的真空环境到大气压下工作,而真空环境应用有如下两种方案: 1) XR-100SDD的探头和前放均置于真空室内部: a. 为保证XR-100SDD的正常工作,需避免器件过热,并做好输入的1W功率的良好导热;即利用XR-100SDD封装上的四个安装孔,根据具体真空室位形设计散热,将器件热量传导到真空室壁上; b. 在CF(Conflat Flange)刀口法兰上利用可选的真空馈通端子(如9DVF型,九接口)连接XR-100SDD和真空室外的PX5电源。 2) XR-100SDD全部置于真空室外:需利用可选的真空探测器延长组件(如EXV9型加长管,长9英寸)和标准CF刀口法兰窗口(通过O圈密封)配套。图4. 真空条件使用中可选的延长组件图5.高采样率X射线束线系统中Amptek高性能SDD的应用(定制法兰,4个SDD探测器)其他系统说明及性能曲线 图6.SDD的能量分辨率和峰化时间曲线 图7. Si-PIN和SDD探测器的分辨率-峰化/成形时间曲线对比 图8. 对应不同峰化时间的能量分辨率和输入计数率曲线(SDD配套DP5使用) 该图也表示了最大输出计数率曲线(黑色虚线)。而系统工作参数在该曲线右边区域时,尽管输入计数率很高,但输出计数率仍会小于最大值,具体情况见下图9。 图9. 不同峰化时间下SDD的输入计数率和输出计数率曲线(输出效率) 由于SDD探测器具有更小的电容,在成型放大器中较短的成形时间即可保证较好的能量分辨率。通常使用9.6μs或更小的成形时间,这极大提高了系统的输出效率。 图10. 使用SDD得到的55Fe能谱 图11. 不同峰化时间下SDD探测器的能量分辨率和对应能量峰值曲线 图12. 综合考虑铍窗(及保护膜)的传输效率及和Si晶体的相互作用效率后不同能量的传输率曲线。 曲线的低能量部分由铍窗厚度决定(0.3mil/8μm或0.5mil/12.5μm),而高能量部分则由Si晶体有效厚度决定:500μm。传输效率文件:包含传输效率方面系数和常见问题解答的.zip格式文件,仅提供基本信息,不能作为定量分析依据。SDD应用中的各种能谱图利用高性能硅漂移探测器(Super SDD)和Mini-X型X射线管测得的不同样品的荧光能谱: 图13. SS316型不锈钢 图14. PVC样品(RoHS/WEEE标准) 图15. CaCl2溶液(800ppm Ca, 1200 ppm Cl) 图16. 含有少量KCl的原油(1100ppm)中的S元素 图17. 汽车催化剂 图18. 铂金(Pt)戒指 完整的X射线荧光谱仪(XRF)系统图19. 安装于MP1型平板上的XR100SDD探测器和Mini-X发生器 完整的XRF系统包括: 1. XR-100SDD型硅漂移探测器; 2. PX5型数字脉冲处理器,多道分析器及电源; 3. Mini-X型USB控制X射线管; 4. XRF-FP定量分析软件; 5. MP1型XRF系统安装平台。 更多信息请关注AMPTEK英文官方网站:www.amptek.com。

X射线机 ISOVOL MOBILE 160

X射线机 ISOVOL MOBILE 160

  • 品牌: 美国通用电气医疗
  • 型号: ISOVOL MOBILE 160
  • 产地:美国
  • X射线机 ISOVOL MOBILE 160此机型转为在狭窄空间条件下的应用而设计制造,适用于能源、矿山和石油化工工业的容器和管道的X射线检测ISOVOLT MOBILE配有一个小型X射线管和长达20米的高压电缆。该系统能在其他类型的工业X射线机难以达到的区域进行X射线照相行业应用:标准射线探伤,例如在油气部门制造场、发电厂、汽车部门和一般工程设计中进行的射线探伤。油气部门需要在极端条件下进行检测,例如管道检测(近海和陆上应用),其时设备必须经受住恶劣环境,例如极低或极高的环境温度,或永久暴露于盐水、沙子或泥土等。航天部门的结构完整性检测,其中特殊材料、蜂窝型材和复合材料要求管性能极其优越。马上联系我们:021-37018108,info@boyuesh.com

X射线机 ISOVOL TITAN E

X射线机 ISOVOL TITAN E

  • 品牌: 美国通用电气医疗
  • 型号: ISOVOL TITAN E
  • 产地:美国
  • X射线机 ISOVOL TITAN E全自动训机程序,也可手动扩展训机模式,全方位保护射线管。智能直观的用户界面高压输出稳定,是曝光最优化可与多种外部平台集成,例如实时成像自动检测系统射线管具有5KV至450KV宽广的高压范围及不间断工作能力行业应用:标准射线探伤,例如在油气部门制造场、发电厂、汽车部门和一般工程设计中进行的射线探伤。油气部门需要在极端条件下进行检测,例如管道检测(近海和陆上应用),其时设备必须经受住恶劣环境,例如极低或极高的环境温度,或永久暴露于盐水、沙子或泥土等。航天部门的结构完整性检测,其中特殊材料、蜂窝型材和复合材料要求管性能极其优越。马上联系我们:021-37018108,info@boyuesh.com

便携式X射线机ERESCO MF4

便携式X射线机ERESCO MF4

  • 品牌: 美国通用电气医疗
  • 型号: ERESCO MF4
  • 产地:美国
  • 便携式X射线机ERESCO MF4可靠轻便的便携式X光机在同类级别中功率输出最高,图像清晰度最好产品包括风冷、水冷、周向、定向及小焦点管头,并可不间断工作独特的功率增强模式,可节省50%曝光时间控制器和射线管头结构坚固(IP65),能够在恶劣环境中使用可与爬行器,支架,车架及其他多种附件配套使用 ERESCO MF4便携式X光机专为确保在最恶劣的条件下进行检验的可靠性而设计。利用ERESCO MF4系列产品,移动X光检验才真正更为轻便。通过使用最新的显示技术,控制和监视X射线设置的新用户界面已被充分利用,并且具有图像可视化和菜单驱动操作特性,从而可以优化生产率。 坚固的控制器和管头构造使得该设备适合于在恶劣环境中使用。由于功耗小,该设备不仅减少了能源成本,而且更易于使用便携式电源运行。 专用的大功率电子设备使其既可以单独在现场使用,也可以集成到X射线管道爬行器中。尽管重量减轻,新管头仍符合欧洲X射线规程的严格要求。 ERESCO MF4使用最新的紧凑电子设备使重量达到最小,并提供脉动极低的大功率输出以及坚固的金属陶瓷X射线管,从而生成高剂量X射线,使得曝光时间最短,因而生产率更高。优势 金属/陶瓷技术既确保了连续运行,又确保了较长的工作寿命。 MF4冷却系统有助于延长无故障运行时间,这是因为其特殊设计的铜冷却器优化了气流,从而获得最佳冷却效果。 ERESCO MF技术使得此X光机能在恒功率模式下操作, 这是因为它与其它同类X 光机不同, 可以驱动较大的管电流。因此,高达900 W的连续额定功率和高电流确保了ERESCO MF4系列X光机在200 kV到300 kV级电压下图像清晰度最好。 运行从5 kV开始,从而使小密度材料(诸如铝、复合材料和塑料)获得最佳曝光,形成高对比度图像。 ERESCO装置的大功率电子设备提供了极低的功耗(在 1 kW/h 到 2 kW/h 之间)。 全图显示画面和直观用户界面便于简化和指导操作。 机载曝光计算器用于测定最佳曝光设置并通过独特的ERESCO恒功率模式进一步缩短曝光时间。 具有多个编程和报告特性,可缩短X射线设置时间和评估时间。 微处理器平台使快速安全的单元控制能够提供智能特性,例如自动管头识别,利用事件记录、多语言用户界面和不同的曝光程序自主运行。行业应用: ERESCO MF4系列X光机在整个工业领域的应用是焊缝检测和结构完整性检验。 标准射线探伤,例如在油气部门制造场、发电厂、汽车部门和一般工程设计中进行的射线探伤。 油气部门需要在极端条件下进行检测,例如管道检测(近海和陆上应用),其时设备必须经受住恶劣环境,例如极低或极高的环境温度,或永久暴露于盐水、沙子或泥土等。 航天部门的结构完整性检测,其中特殊材料、蜂窝型材和复合材料要求管性能极其优越。ERESCO MF4 系列产品有定向发射和周向发射两种型号以及水冷、风冷两种机型,并有小焦点射线机,因此可以提供全方位解决方案,满足几乎所有客户的便携式X射线使用需求。ERESCO MF4 X光机在同类级别中功率输出最高,图像清晰度最好;较高的 X 射线剂量使曝光时间较短,并相应增大生产率;30°C 时运行占空比为100%;重量轻,设计紧凑;控制器和机头结构坚固,能够在恶劣环境中使用(IP65);更低的功耗意味着能源成本小,电池耐久性长;同时利用便携式电源或电池组实现灵活操作;机载大功率设备允许自发运行和与爬行器集成;设计范围包括风冷、水冷、周向输出和小焦点,适用于射线检验;配有多种附件,包括支架和车架,便于在曝光设置期间定位。ERESCO MF4控制装置直观菜单驱动用户界面,具有多功能键、数字键和光标键输入;透反背光图形显示器,使室内和室外操作对比度达到最佳;曝光计算器;集成实时时钟, 使高压发生器能够实现智能自动预热(考虑之前的操作时间间隔);坚固的工效学设计使设备可在不同工作位置运行;自动识别已连接X射线管头的类型和序列号;自由可配置的曝光编程模式;脱机报告生成和编程;多语言图形用户界面;轻松适应不同电源,包括便携式发电机和电池;内置故障安全警告灯;配备急停按钮,符合国际标准。马上联系我们:021-37018108,info@boyuesh.com

便携式直接数字化X射线成像DXR250C-W

便携式直接数字化X射线成像DXR250C-W

  • 品牌: 美国通用电气医疗
  • 型号: DXR250C-W
  • 产地:美国
  • 便携式直接数字化X射线成像DXR250C-W结合了GE在医疗和工业射线方便最领先的技术和经验。为适合工业射线检测的苛刻要求而专门设计的。减少曝光时间,使相关人员更安全数据传输更快,工作周期更短,优化操作安全减少准备工作时间,提高劳动生产率结构紧凑、便携新的8 x 8”探测器的重量只有3.5 公斤(7 磅),厚度仅仅25 毫米(0.98 英寸)。在必须使用非常便携的探测器和狭窄空间里使用是特别理想的。无线传输这款探测器运用无线传输和电池供电技术,现场固定面板和操作简单,极大地提高了检测工作的效率。稳定的无线传输(搭载 802.11g 无线模块,传输距离达80 米,安全模式wep2),在线监控信号强度、平板的温度和电池余量便携的access point 增加了传输距离Ad-hoc 技术提高图像传输速度可选的省电模式提高了电池的工作时间通用&便携探测器有很大的16 “x16 “成像面积,但重量仅为5 公斤(11磅),厚度仅有26 毫米(1.02“)。探测器能够适用于各种不同的射线检测应用,并覆盖中到大的物体。通过它的无线功能和便携式设计,探测器成为更适合在射线检测现场应用的通用检测设备。坚固坚固的外壳设计使DXR250C-W 更适合苛刻的环境。铝合金外壳和边缘缓冲振动吸收设计可有效的防振、 防水、防尘平板射线接收区域采用碳纤维壳体屏蔽电子,改善辐射保护可再加一个外壳,防止磕碰并更加防震操作温度范围更大平板的电源加了开关DR 优势高质量和最快图像处理速度最低费用/每次曝光较强的降噪能力曝光结束能立即观察、无中间处理步骤一般曝光时间5秒或更少(厚度变化无影响)主要场合及应用各种尺寸的零件的机械完整性壁厚、腐蚀及侵蚀焊缝质量管及管道质量热交换器大、小直径管道管道支撑点腐蚀石化和其他工业场合的钢丝绳检测设备及原理 工业用X射线成像原理和我们通常在医院、机场见到的拍片、CT、安检系统工作原理一样。X射线在穿透不同的物体时与物质发生相互作用,因吸收和散射而强度变化,感光材料(胶片、IP板、DR板)接受到该强度变化信号后,经信号处理形成我们常见的影像,见原理示意图。通常,用于GIS检测的一套完整的检测系统包括:射线源、感光板 (IP板、DR板)、CR扫描仪(DR 不需要)、图像显示系统(含图像处理分析软件)、现场移动支架、移动工作站等。技术参数探测器:DXR250C-W、DXR250U-W平板类型:Amorphous silicon、硫氧化钆有效区域(大约):200 mm x 200 mm、405 x 405mm像素尺寸:200 μm、200μm最小曝光时间:130 ms、130ms最大曝光时间:150 sec、150s动态范围:10,000 : 1、10000:1使用温度:-20°C - 50°C(在此范围内,温度高时会降低动态范围)使用湿度:相对湿度,10 - 90%,不结露马上联系我们:021-37018108,info@boyuesh.com

台式扫描仪计算机射线成像 CR Vision

台式扫描仪计算机射线成像 CR Vision

  • 品牌: 美国通用电气医疗
  • 型号: CR Vision
  • 产地:美国
  • 台式扫描仪计算机射线成像 CR VisionCR VISION是高分辨率CR扫描仪,尤其适合焊接检验和其他高要求的检测IP板传输采用磁传动系统,无机械磨损,大大延长IP板寿命40微米激光点可扫描各种型号和规格成像板极宽的动态范围和较高的信噪比可弯曲、剪裁、贴紧可接受高能量照射扫描速度通常为1分钟,比胶片速度高很多,并且无需暗房和药水比胶片曝光时间短( 10-50 % 胶片 )可取代多胶片曝光和全景曝光行业应用:管焊缝检测套管壁厚腐蚀监测液氨制冷压力管线检测焊缝未焊透测深腐蚀检测电缆检测印章鉴定青铜器鉴定混泥土钢筋检测、泄露检测检测设备及原理 工业用X射线成像原理和我们通常在医院、机场见到的拍片、CT、安检系统工作原理一样。X射线在穿透不同的物体时与物质发生相互作用,因吸收和散射而强度变化,感光材料(胶片、IP板、DR板)接受到该强度变化信号后,经信号处理形成我们常见的影像,见原理示意图。通常,用于GIS检测的一套完整的检测系统包括:射线源、感光板 (IP板、DR板)、CR扫描仪(DR 不需要)、图像显示系统(含图像处理分析软件)、现场移动支架、移动工作站等。马上联系我们:021-37018108,info@boyuesh.com

便携式计算机射线成像系统CR 25P

便携式计算机射线成像系统CR 25P

  • 品牌: 美国通用电气医疗
  • 型号: CR 25P
  • 产地:美国
  • 便携式计算机射线成像系统CR 25P重量轻,真正的便携式CR,特别适合现场使用高达17微米的图像分辨率(17微米,25微米,50微米,100微米可选择),保证了最佳图像质量专业的NDT图像处理软件,特有图像一键最佳功能可以扫描不大于875px宽的各种成像板可弯曲、剪裁、贴紧可接受高能量照射扫描速度通常为1分钟,比胶片速度高很多,并且无需暗房和药水比胶片曝光时间短( 10-50 % 胶片 ) 可取代多胶片曝光和全景曝光行业应用:管焊缝检测套管壁厚腐蚀监测液氨制冷压力管线检测焊缝未焊透测深腐蚀检测电缆检测印章鉴定青铜器鉴定混泥土钢筋检测、泄露检测检测设备及原理 工业用X射线成像原理和我们通常在医院、机场见到的拍片、CT、安检系统工作原理一样。X射线在穿透不同的物体时与物质发生相互作用,因吸收和散射而强度变化,感光材料(胶片、IP板、DR板)接受到该强度变化信号后,经信号处理形成我们常见的影像,见原理示意图。通常,用于GIS检测的一套完整的检测系统包括:射线源、感光板 (IP板、DR板)、CR扫描仪(DR 不需要)、图像显示系统(含图像处理分析软件)、现场移动支架、移动工作站等。马上联系我们:021-37018108,info@boyuesh.com

GE Nanotom s奈米焦点高分辨率CT系统

GE Nanotom s奈米焦点高分辨率CT系统

  • 品牌: 美国GE
  • 型号: Nanotom s
  • 产地:美国
  • 主要特色:180 kV/ 15 Wnanfocus CT系统,拥有长久耐用的开放式X射线管,只需要少量的维护即可。高精度-空气轴承旋转装置提供了高精准的CT扫描影像通过菱形或窗口(可选择)以同样的高分辨率影像水平进行快达2倍的资料采集基於花岗岩的操作和可选择性的热安定性,提供最高的精密度及高稳定性可於1小时之内自动生成第一件检测记录提供从亚um到高强度应用模式的4种操作模组使用极佳的软体模组以确保最高的CT影像质量且易於使用,例如:▲使用datos / x 2.0点选并直接测量CT来进行高精度度并可重现的3D测量: CT扫描、重组及分析过程的全自动化执行。▲通过VELO / CT在几秒钟或几分钟内(取决於样品体积大小)完成更快速的3D-CT重组影像极为精简的扫描系统,非常适用於小型实验室使用。nanoCT可以将图层面板逐层显示玻璃纤维复合材料的nano-CT ∶纤维毡(蓝色)的纤维方向和基质树脂(橙色)会清楚显示出来利用3D检视焊接接点内部的空隙间隙分布清晰可见对气缸盖3个装置的CAD差异分析和测量玻璃纤维增强塑料样品的nano-CT ∶ 玻璃纤维和矿物填料(紫色)的凝聚体的排列和分布都清晰可见。纤维大约有10um宽高分辨率电脑断层扫描(micro-ct 与nano-ct)广泛用於检测地质样品格最大管180 kV最大功率15 W能力高200nm (0.2m)最小焦物距0.4um最大3D像素分辨率< 500nm (0.5m)何放大倍率(3D)1.5 倍到100 倍最大目尺寸(高x 直)150mm x 240mm/ 5.9" x 6.4"最大品重量2 kg/ 4.4 lb像500素平板位器列2D X射成像不可3D描可以先的表面提取可以(可)CAD 比+ 尺寸量可以(可)系尺寸(1640 x 1430 x 750 mm), (64.6” x 56.3” x 29.5”)系重量1300kg/ 2866 lb射安全- 全防射安全,依德ROV和美性能21 CFR 1020.40 (X-Ray系)。- 射漏率:台壁的10cm量 <1.0Sv/h。地/生物科 高分辨率描(micro-ct nano-ct)泛用於地品,例如:新源的探索。高分辨率CT-系以微高解析提供岩石品、粘合、合和空洞的3D像,助分辨特定的品特徵,如含油岩石中空洞的大小和位置。塑料工程 在塑料工程中,高分辨率的X射技用於通探孔、水泡、焊接和裂分析缺陷化造和程。 X射算描(micro ct nano ct)提供具有以下物特的3D像:如晶粒流模式和填料分,以及低比度缺陷。玻璃增塑料品的nano-CT : 玻璃和物填料(紫色)的凝聚的排列和分都清晰可。大有10um。量 用X射行的3D量是唯一的可物部行量的技。通式坐量技的比,一物行描的同可得所有的曲: 包括所有法使用其他量方法害入的蔽形,如底切。 v/tome/xs 有一特殊的3D量包,其中包含空量所需的所有工具,校器到表面提取模,具有可能的最大精度,可再且具和力. 除了2D壁厚量外,CT可以快速方便地CAD行比,例如,分析完成元件,以保其符合所有的定尺寸。缸3置的CAD差分析和量。感器和工程 在感器和子件的中,高分辨率X射技主要用於和估接、接、箱子、子和配情。甚至可以半元件和子(焊),而需拆卸。Nano-CT 示CSP件的焊接接。焊接接的3D形,直400um,空隙隙分清晰可。焊接接部,不同的共晶焊料相是可的。材料科 高分辨率描(micro-ct nano-ct)用於材料、合材料、材料和陶瓷,但也可用於地或生物品行分析。材料分配、空隙率和裂在微上是3D可的。玻璃合材料的nano-CT :(色)的方向和基脂(橙色)清楚示出。片右: 脂的空洞以暗出。左: 脂已淡出,以更好地使可化。的跟是可的。3D描 工X射3D描(micro-ct nano-ct) 的用是金和塑料件的及3D量。phoenix| X射的高分辨率X射技了在多域的新用,如感器技、子、材料科以及多其他自然科。SMD感器的nanoCT, 尺寸0805 (2.0 mmx 1.2 mm). 三X射像示了後後的部圈。在任何常的X光片中,面板都是重的,但nanoCT 成功地象逐示。

GE Nanomex 奈米级超高分辨率检测系统

GE Nanomex 奈米级超高分辨率检测系统

  • 品牌: 美国GE
  • 型号: Nanomex
  • 产地:美国
  • 产品特色∶1.主要功能∶满足最高检测要求,如半导体和SMT的高精密封装产品。高功率nm焦点管(4合1),实现从nm分辨到高功率多种应用。可配高清晰分辨的数位影像系统,400万画素即时数位图像。180 kV/ 15W的高功率微聚焦管具有高达200nm的细部检测能力。经由优秀的即时双视野图像增强器技术(数位图像链和自动恒温的数位检测器,可达每秒30帧)。先进的射线能量稳定技术。高放大倍率,下倾斜视角达70度。自动检测BGA、CSP、QFP、PTH等焊点与空隙分析,弯曲度计算。维修率低,寿命长,开放式nanofocus光管。人体工学设计,操作更简便。高度的可再现性。可升级到nanoCT系统可选配∶基於高分辨率自动化X射线检测(μAXI),xact软体模组可方便快速的CAD以达到极高的缺陷覆盖率,并具有高放大倍率和高度可再现性。高动态恒温GE DXR数位检测器可侦测30 FPS(每秒30帧)的清晰即时影像。10秒内的3D CT扫描功能(选配)。高达2倍的速度在相同的高影像品质等级的钻石|视窗作为一个新的标准的资料撷取2.客户利益∶可结合2D/3D的CT操作模式透过优秀的即时图像双检测器技术(数位图像链和自动恒温的数位检测器,可达每秒30帧)检测步骤的自动化是有可能的杰出的操作便利性2D焊及焊查2D裂格最大管180 kV最大功率15 W部能力高0.2 μm最小焦物距0.3 mm最大3D像素的分辨率(取於象的大小)< 1 m何倍率(2D)高1970倍何放大倍率(3D)300倍最大目尺寸(高 x 直径)680 mm x 635 mm / 27" x 25"最大目重量10 Kg / 22 磅像200像素的位像操作5的品方向移操作(X、Y、Z、R、T)2D X射成像可以3D CT描可以(配)系统尺寸1860 mm x 2020 mm x 1920 mm (73.2” x 79.5” x 75.6”)系统重量2600 Kg / 5070 磅射安全- 全防射安全,依德ROV和美性能21 CFR 1020.40 (X-Ray系)。-射漏率:台壁的10cm量 <1.0Sv/h。用域:SMTICBGA 基板精密零件子零件PCBA 半封

GE Xaminer  微焦点检测系统

GE Xaminer 微焦点检测系统

  • 品牌: 美国GE
  • 型号: Xaminer
  • 产地:美国
  • 1.次微米高解析度2.光管是Open tube解析度好, 定度高, 成本低, 有命限制的光管, 需更, 而且客可以自行更3.160KV/20W 高功率4.高分辨率4”野像增器5.影像清晰快速6.品5同步7.可充CT 功能 2D Micro BGA 黏著 散片的泡 3D CT 零件 3D BGA 影像 格 何放大倍率2100x 放大倍率>23000x 分辨率 小於1微米(<1mm)X射管 次微米等(<1mm) 最大管160KV 最大管功率20W 影像增 高分辨率4”野像增器 器2M像素高分辨率CCD 最大410mm×410mm 最大工件尺寸/重量410mm×410mm/5kg 斜角ovhm 旋可角70°,n×360° 操控模式 操控操控或鼠(手模式) 控程控制(自模式) 速(X-Y-Z)10μm/s到80mm/s 像理件 phoenix x|act base 全面的X射像分析件 包含像比增和波功能、量功能、控程功能bga|module BGA焊自功能 系尺寸 尺寸(W x H x D) 1800mm×1900mm×1815mm(不包括控制台) 高度可控制面板400mm 最大重量2050kg 射安全防 全方位防防玻璃窗的安全屏蔽室射漏量率<1μSv/h,符合 旋步件(配) 最大工件重量2kg 助定位置(配) 雷射定位瞄 助定位置(配) 旋台用PCB板支架置 最大板尺寸310mm×310mm (12"×12")用域:SMTICBGA 基板精密零件子零件PCBA 半封

GE Pcbainspector PCBA检测系统

GE Pcbainspector PCBA检测系统

  • 品牌: 美国GE
  • 型号: Pcbainspector
  • 产地:美国
  • 主要功能用於二维X射线成像,无需维护式的100千伏X微焦点射线管自动微焦点X射线检测,如BGAs等焊点,空隙分析细节分辨率小於2um高品质数位化影像系统精密设计,设备体积小人体工学设计,操作简便在一个50 °探测器角斜位的通孔电镀。所有的8个图层连接清晰可辨。IC检测继电器2D分析2D陶瓷基板检测设备规格最大管电压100 kV最大功率10 W细节检测能力高达3um最小焦物距4.5mm几何放大倍率(2D)高达75倍最大目标尺寸(高x直径)28”x 22”(710 mmx 560 mm)最大物体重量5 kg / 11 lb图像链672 x 568操作3轴的样品操作2维X射线成像可以系统尺寸1.270 mmx 1.510 mmx 1.550 mm/ 50” x 59.4” x 61”系统重量1300 kg / 2866 lb辐射安全- 全防辐射安全机柜,依据德国ROV和美国性能标准21 CFR 1020.40 (机柜X-Ray系统)。- 辐射泄漏率:从机台壁的10厘米处测量 <1.0μSv/h。应用领域:SMT厂IC厂BGA 基板电子零件PCBA 组装半导体组装

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