半导体参数测试仪

半导体参数测试仪是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器，可准确执行电流-电压（IV）和电容测量（CV（电容-电压）、C - f（电容-频率）以及 C – t（电容-时间）测量），并快速、轻松地对测量结果进行分析，完成半导体参数测试。是确定半导体器件特征及其制造过程的一项基础测量。因其优越的性能、强大的功能以及出色的易操作性，现已在各种材料、器件和电子器件的 IV 和 CV 表征中得到广泛应用。可为表征任务提供更高的性能、更强的可用性以及更高的效率。由于具有多种功能，因此适用于从探索分析到自动测试的各种测量环境。