X 射线分析仪器技术是近年来迅速发展的一门分析技术，它可在材料研究、分析以及各种工业过程和质量控制中测定从金属、矿物、油和其他液体一直到塑料、药物、陶瓷材料、纳米材料及半导体等各种材料的化学成分和晶体结构。
为了与X 射线分析仪器界的同仁共同携手促进X 射线分析仪器的发展和广泛交流Z新的研究进展，陕西省分析测试协会和荷兰帕纳科公司（PANalytical B.V.）将于2016年5 月26 日（周四）在古城西安举办“帕纳科Z新X 射线分析技术研讨会”，届时将向您介绍X 射线荧光光谱分析的Z新进展！
与此同时，帕纳科还将现场展示Z新推出EDXRF 能谱仪台式一体机Epsilon1，您将看到其为不同行业量身定做的多种解决方案！特此邀请您光临出席此次研讨会，共同探讨X 射线分析仪器技术的发展！
会议信息
2016 年5 月26 日 ZG ? 西安
主办单位：陕西省分析测试协会
荷兰帕纳科公司
时间：08:30-17:00
地点：西安富凯禧酒店
会议地址：西安市南新街27 号（新城广场东南角）
TimeProgress08:30-09:00报到登记09:00-09:15致欢迎辞
陕西省分析测试协会领导致辞
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