本产品的便携性使其可以在任何地方进行简单而高精度的测试和评估。其与EX-400&EX-86U准分子灯具备同样的工作表现,并专为R&D在线操作设计而成。因...
带有内部电源的“一体机”式设计实现了紧凑、质量轻的结构,从而不需要选择特定空间,免去了安装上的麻烦,可以轻松地在生产现场进行设置。在线使用中的高通用性使...
使用扁平长灯和RF(射频)放电可在大面积上均匀照射并减少闪烁,从而提供稳定的输出。 与电晕放电法,等离子体法,甚至其他准分子灯相比,EX-400可确保高...
C12570系列是孔洞检测装置,用于检测层压薄膜和金属箔中的孔洞。 由于采用非接触式光学检测,被检测的样品不会暴露在液体或特殊环境的压力中(例如电场、磁...
C11740是一种孔洞检测装置,专门用于检测罐中的孔洞,内部包含一个高灵敏度光学传感器(光电倍增管),可以高速,高精度地检测微小的孔洞。可测量参数包括一...
C11011-01型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,与mapping工作台联用可以测量指定样...
C11011-01W型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,与Mapping工作台联用可以测量指定...
C11295型多点纳米膜厚测量系统使用光谱相干测量学,用以测量半导体制造过程中的薄膜厚度,以及安装在半导体制造设备上的APC和薄膜的质量控制。C1129...
C13027型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。C13207不仅支持PLC连接,而且其设计尺寸比其他型号更紧凑,便...
C12562型光学纳米膜厚测量系统是一款小型紧凑、节省空间、安装方便的非接触式薄膜厚测量系统。在半导体工业中,硅通孔技术的普及使得硅厚度测量变得必不可少...
C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。滨松的产品...
C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。C1302...
C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。我们的产品...
C11011-21型光学微米膜厚测量仪利用激光干涉法原理,测量速度达60Hz,适用于产品在线测量。此外,选配的作图系统可以用于测量指定样品的厚度分布。C...
C11011-21W型光学微米膜厚测量仪利用激光干涉法原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,与mapping工作台联用可以用于测量指定...
膜厚测量仪FE-3
反射式膜厚测量仪FE-3000
膜厚测量仪FE-300
椭圆偏振光测量仪FE5000
DRK203C台式高精度薄膜测厚仪
仪器的介绍,安装,操作。
浮子式油层监测系统产品样册
Focus on Atomic force and shear force based tip-
Gemini解离常数测定仪相关论文 发表于2008年Environme
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