采用红外显微镜AIM-9000 进行扫描和识别

收藏 评价 举报

• 分享

岛津公司的异物自动分析系统（红外显微镜）AIM-9000采用将微小部分作为测定目标的光学设计，可以在短时间内获得微米级异物的清晰光谱。本文向您介绍使用本系统对光学元件表面附着的约10μm微小异物进行测定的示例。
标签：

• 红外显微镜法测定液晶显示器背光模组听微小异物

  红外显微镜法测定液晶显示器背光模组听微小异物

• 红外显微镜法测定液晶显示器背光模组中的微小异物

  红外显微镜法测定液晶显示器背光模组中的微小异物

• 红外显微镜测定电路板不良焊点

  红外显微镜测定电路板不良焊点

• 红外显微镜测定硫镓银晶体内部均匀性

  红外显微镜测定硫镓银晶体内部均匀性

• 红外显微镜在纤维材料研究中的应用

  红外显微镜在纤维材料研究中的应用

• FTIR红外显微镜分析高分子聚合物饮料瓶

  FTIR红外显微镜分析高分子聚合物饮料瓶

• 红外显微镜产品样册

  红外显微镜产品样册

• Agilent Cary 610 红外显微镜产品样册

  Agilent Cary 610 红外显微镜产品样册

• 红外显微镜样本

  珀金埃尔默PerkinElmer Spotlight™ 150i/200i 傅里叶变换红外显微镜系统产品样本

• 利用红外显微镜检测和鉴定制造工艺中的污染物

  制造过程所设计创造的产品只包含所需的组件。有时外物可能作为污染物出现在Z终的产品上，而这种意外的污染影响产品