-
紧凑型设计，分辨率为4 nm*1
通过高灵敏度二次电子探测器，背散射探测器，低真空探测器（UVD*2），实现低加速电压/低真空下高质量图像观察
操作简捷，即使新手也能拍出高质量的图片
新开发的导航功能「SEM MAP」，便于快速锁定视野
大窗口（30 mm2）SDD能谱系统，便于快速分析元素成分*2
*1
设置在桌面时，分离主机和电源箱
*2
选配
高灵敏度低真空二次电子探测器（UVD）
能量分散型X线探测器（EDS）
*3
主机与供电单元组合使用
*
PC、桌子、机械泵、显示器需要本地采购
扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 核心参数
| 电子枪: | 钨灯丝 |
详细介绍
Hitachi的扫描电子显微镜 FlexSEM 1000「先进的SEM设计得更加紧凑」 只有45厘米宽的紧凑型设计，实现了4.0 nm的分辨率。 全新开发的用户界面和电子光学系统，使性能大幅提升。
特色
规格
规格
| 项目 | 内容 | |
|---|---|---|
| 分解能*3 | 4.0 nm @ 20 kV （SE：高真空模式） 15.0 nm @ 1 kV （SE：高真空模式） 5.0 nm @ 20 kV （BSE：低真空模式） | |
| 加速电压 | 0.3 kV ～ 20 kV | |
| 放大倍率 | 6× ～ 300,000× （底片倍率） 16× ～ 800,000× （显示倍率） | |
| 低真空模式 | 真空范围：6 ～ 100 Pa | |
| 电子枪 | 预对中钨灯丝 | |
| 样品台 | 3-轴自动马达台 X：0 ～ 40 mm, Y：0 ～ 50 mm, Z：5 ～ 15 mm R：360°, T：-15° ～ ＋90° | |
| 最大样品尺寸 | 直径80 mm | |
| 最大样品高度 | 40 mm | |
| 尺寸 | 主机：450（W） x 640（D） x 670（H） mm 供电单元：450（W） x 640（D） x 450（H） mm | |
| 探测器选配 | ||
产品优势
Hitachi的扫描电子显微镜 FlexSEM 1000「先进的SEM设计得更加紧凑」
只有45厘米宽的紧凑型设计，实现了4.0 nm的分辨率。
全新开发的用户界面和电子光学系统，使性能大幅提升。
只有45厘米宽的紧凑型设计，实现了4.0 nm的分辨率。
全新开发的用户界面和电子光学系统，使性能大幅提升。
- 产品分类
- 品牌分类
- （英国）微视
- （美国）SONIX
- （美国）美国Allied
- （美国）ASP
- （美国）Nisene
- （日本）日立
- （英国）英国ABERLINK
- （德国）德国werth
- （美国）美国福禄克
- （奥地利）奥地利EMCOTEST
- （日本）日本奥林巴斯
- （美国）美国OGP
- （德国）捷镭
- （美国）美国Akrometrix
- （朝阳区）微厘光电
- （德国）Microtronic
- （西青区）奥特梅尔
- （新加坡）AXIS-TEC
- （以色列）SELA
- （英国）牛津仪器
- （新加坡）Semicaps
- （美国）赛默飞世尔
- （荷兰）JIACO
- （日本）日本滨松
- （日本）SAMCO
- （苏州）蓝岸
- （日本）尼康
- （美国）若克兰
-
仪企号
似空科学仪器（上海）有限公司
-
友情链接
