-
公司新闻
-
薄膜厚度和表面测量先进技术研讨会
发布:优尼康科技有限公司浏览次数:1487会议概况
2019年5月22日,为了促进测量技术行业的需求,优尼康科技和清华大学电子工程系联合举办的薄膜厚度和表面测量先进技术研讨会,于清华大学罗姆楼如期举行。首次置办,一举取得圆满成功。
专家精彩的报告
该次邀请了清华大学,北京大学,北京理工大学的专家作为演讲嘉宾,分别与我们分享了On-line 膜厚监控在超精密切削加工中的应用、可集成自由电子辐射器件的研究、The Research Progresses in 21’ Wafers HVPE System and GaN Single-crystal Substrates。另外还邀请了领xian的设备供应商KLA-Tencor公司的几位博士为我们带来精彩的分享演讲。分享的主题分别为:KLA Profiler products introduction and its applications、Advances in Spectral Reflectance Measurement and Cloud-Based 3D Analysis、Nano Indenter G200 and its applications、ZETA Multi-mode optical profiler introduction and applications。
研讨&展示相得益彰
该研讨会,除了聆听专家分享演讲外,受邀参会的高校、科研院所、高科技企业的人员还可以在现场观摩我司的产品、技术应用深入交流、现场测样。其中不乏一些用户就现场对产品表示的浓烈兴趣。参加人员表示,此次活动受益匪浅。
现场精彩时刻
(来源:优尼康科技有限公司)
2019-06-17上一篇:优尼康携膜厚测量技术首次亮相ZG材料大会(Ciamite 2019)
下一篇:没有了 -
免责声明
①本网刊载上述内容,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任
②若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi
-
仪网通银牌会员 第 6 年
优尼康科技有限公司
认证:工商信息已核实
- 产品分类
- 品牌分类
- (法国)法国HORIBA JY
- (日本)日本仓敷化工
- (香港)香港优尼康
- (瑞士)瑞士nanosurf
- (瑞士)瑞士斯特博
- (美国)美国赛默飞-尼通
- (美国)美国瑞斯迈
- (美国)美国Filmetrics
- (美国)美国Bowman
- (美国)美国KLA
- (美国)美国Film Sense
- (瑞士)瑞士赫兹
- (日本)日本堀场
-
仪企号优尼康科技有限公司
-
友情链接
-
手机版开启全新的世界m.yiqi.com/zt12198/