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日立分析仪器（上海）有限公司
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SFT9500超薄镀层测试案例
发布：日立分析仪器（上海）有限公司浏览次数：1721聚光式X射线荧光膜厚仪 SFT9500，采用了两项XRF领xian的技术 1聚光式X射线系统 2高计数率型不需液态氮检测器SDD检测器 可以实现微小区域的高灵敏度分析 更多应用资料请参考SNTS公司主页技术资料： http://www.siint.com.cn/technology.aspx 有关此型号仪器的详细信息请参考： http://www.siint.com.cn/product/productinfo.aspx?CatalogID=266 日立 FT9500系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
2011-06-21相关产品 -
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