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利用FT150测量Au/Pd/Ni三层膜
发布：日立分析仪器（上海）有限公司浏览次数：1861本资料中，介绍了利用FT150对微小范围内Cu质地上薄的Au/Pd/Ni三层膜进行测量性能评价另外，FT9500X也可测量并进行结果比较 日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪 日立 FT9300系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
2016-05-16相关仪器 -
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