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扫描电镜专用原位AFM探测系统价格：面议- 品牌： 奥地利GETec
- 型号：AFSEM
- 产地：奥地利
* 扫描电子显微镜中进行AFM原位分析 * 使用SCL的自感悬臂技术的纳米探针 * 无需激光和探测器，适用于任何样品表面 * 与大多数SEM兼容而不妨碍正常的操作 * AFM和...
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奥地利GETec
GETec成立于2011年，前身为GETec KG，并于2015年10月正式移交给GETec Microscopy GmbH，是一家专注于研发、生产、销售于一体的企业。产品主要有原子力显微镜、纳米分析工具、扫描头、工具包、特定适配器和馈通凸缘、控制器、高压放大器、软件等，产品广泛应用于材料、生物学、物性测试等领域。
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奥地利GETec产品文章
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ZG首套扫描电镜专用原位AFM探测系统顺利落户上海硅酸盐所
喜讯 2019年8月，国内首套奥地利GETec公司扫描电镜专用原位AFM探测系统（AFSEM）在ZG科学院上海硅酸盐研究所曾毅教授课题组顺利交付使用。 奥...
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ZG首套扫描电镜专用原位AFM探测系统顺利落户上海硅酸盐所
- 产品分类
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- （瑞士）瑞士Swisslitho AG
- （美国）美国Lake Shore
- （德国）德国SciDre
- （美国）美国BlueWave
- （韩国）韩国NTi
- （美国）美国Thermal Technology
- （德国）iplas
- （美国）美国Depths of the eart
- （德国）Nanoanalytics
- （加拿大）加拿大Johnsen Ultrava
- （德国）NanoTemper
- （瑞士）瑞士Cytosurge
- （日本）Omegatron
- （荷兰）荷兰Lumicks
- （法国）法国abbelight
- （美国）美国Mizar Imaging
- （瑞士）attolight
- （英国）英国ONI
- （美国）美国Quantum Design
- （西班牙）西班牙Nanoscale Biomagnetic
- （美国）美国Montana Instruments
- （德国）德国LLS ROWIAK
- （德国）德国Attocube Systems
- （日本）日本RIBM
- （德国）德国THEVA
- （日本）日本Churitsu
- （瑞典）Excillum
- （美国）美国Anasazi
- （英国）英国ICEoxford
- （法国）法国Alyxan
- （美国）美国HPD
- （日本）日本Tohuko
- （美国）美国MicroSense
- （美国）美国Applied NanoFluorescence
- （英国）英国Durham Magneto Optic
- （美国）美国PHOTOTHERAML
- （瑞典）瑞典NanOsc
- （日本）GES
- （比利时）比利时Metis
- （波兰）Novilet
- （法国）法国Hprobe
- （西班牙）Das Nano
- （德国） 德国LOT-Orial Group
- （瑞士）Qzabre
- （日本）日本Advance Riko
- （英国）Moorfield
- （德国）德国PANCO
- （西班牙）Planelight
- （美国）美国easyXAFS
- （青岛）致真精密仪器
- （德国）德国neaspec
- （美国）NanoView
- （瑞士）瑞士IRsweep
- （德国）Kiutra
- （日本）PULSTEC
- （美国）zeroK Nanotech
- （美国）美国Delong Instruments
- （法国）塔莱恩特（Telight）
- （美国）美国RHK Technology
- （法国）Spin-ION
- （芬兰）芬兰SPECIM
- （加拿大）ICSPI
- （奥地利）奥地利GETec
- （瑞典）Viventis Microscopy
- （日本）Nanophoton
- （美国）MONSTR Sense
- （奥地利）奥地利SCL-Sensor.Tech
- （德国）德国REACNOSTICS
- （美国）美国ARRADIANCE
- （英国）英国iotaSciences
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