材料物理

新一代多通道高精度低噪声综合电学测量仪 M81-SSM 系统为先进测量应用提供了一种简单而直接的方法。M81-SSM消除了多种特定功能仪器安装的复杂性，将直流和交流源的便利性与测量相结合，包括了锁相的...

便携式芯片原子力显微镜——AFM纳米形貌表征从未如此简单！加拿大ICSPI公司设计和生产的便携式AFM原子力显微镜（型号：nGauge和Redux），基于其独有的芯片式自感应探针技术，摆脱了传统AF

德国REACNOSTICS公司推出的新型多功能催化反应器，可实现测量和/或模拟反应器内的浓度、温度和流场，可视化呈现出物质在反应器不同位置的实时状态，并通过原位即时空间分辨光谱（Operando Sp...

s-Laue是日本Pulstec公司近期发布的一款基于圆形全二维面探测器技术的新一代X射线单晶定向系统。该设备配备六轴样品台，具有功率小（30KV/1.5mA,因此辐射小）、操作简单、测试效率高（典型...

韩国纳米技术公司（Nano Technology Co.,Ltd.，简称NTi）是一家致力于纳米材料制备的高科技企业，其生产的金属纳米胶体/纳米颗粒制备仪，采用PWE（脉冲金属丝蒸发）ZL技术，将金属...

致真精密仪器(青岛)有限公司生产的多功能高分辨率磁光克尔显微成像系统，以自主设计的光路结构及奥林巴斯、索莱博光电元件为基础制造，适用于磁性材料/ 自旋电子器件的磁畴成像和动力学研究。

聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率，可以测量的样品薄为10μm。

日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比，样品制备和测量极为简单。

ONYX是其在全球范围内推出的**款针对石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料大面积太赫兹无损表征的测量设备。

激光闪光法热常数测量系统（型号：TC-1200RH）使用红外金面炉替代传统电阻炉加热，大大缩短测量时间。可应用于热电材料的研究与开发，及其他材料的热物理性能评价。

attocube公司生产的attoFPSenor系列位移激光干涉器充分满足了高分辨位移与定位的工业和科研需要，其紧凑的设计和稳定性可以在极端环境中使用，在极大的位移测量范围内，达到25pm的位移分辨率...

IRsweep公司推出的IRis-F1时间分辨快速双光梳红外光谱仪是一种基于量子级联激光器频率梳的红外光谱仪，突破了传统光谱仪需要几秒钟或者更长的测量时间来获取一个完整的光谱的限制，能实现高达1 μs...

式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XES    美国easyXAFS公司新推出台式X射线吸收精细结构谱仪，采用独有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射

1、热电模块的输出特性可以在大气环境下，高温持续加载来评估； 2、重复测量Pmax是可能的，在持续的时间间隔内，持续地应用负载； 3、可以在与实际的热电模块使用环境相一致的恒定常量负载下执行测量...

♦ 可以实现通过自动测量热流量和发电量来获得热电转换效率； ♦ 可以实现对小型材料块体2-10mm*1-20mmH测量；

♦ 通过高精度的红外线金面反射炉可完成快速性能评估和耐力测试； ♦ 上下表面能提供zui高500℃的温度梯度；