Spotlight红外成像多层材料的ATR红外光谱成像分析

在高分子多层材料样品的分析中，使用Spotlight傅里叶变换红外光谱成像系统，ATR光谱成像技术的很多优势超越了已经过验证的透射红外光谱成像技术。除了在一定程度上简化样品处理方法、降低干涉条纹等光谱干扰的风险以外，ATR光谱成像技术可以提供更高的空间分辨率。厚度为 4微米或者更薄的薄层都可以得到有效识别。多层材料中含有粘结剂或者其他成分构成厚度低于5微米的薄层时，这种空间分辨能力尤为重要。因此，ATR光谱成像技术在高分子多层材料分析中的应用必定会在未来几年内会迅速增长。