梅特勒-托利多微量天平 XPE56DR 核心参数
| 仪器类型: | 电子天平 | 量程: | 20-100g |
详细介绍
产品简介
梅特勒-托利多微量天平 XPE56DR
技术参数
规格 - XPE56DR电子天平
| 最大秤量 | 52 g/11 g |
| 可读性 | 0.01 mg; 2 µg |
| 重复性（典型） | 1.2 µg |
| 最小称量值（USP, 0.1%，典型值) | 2.4 mg |
| 合法交易 | No |
| 线性误差（典型值）± | 0.03 mg |
| 重复性（校验砝码） | 0.002 mg (2 g) |
| 稳定时间 | 2.5 s |
| 校正 | 内部 / proFACT 高级版 |
| 尺寸 | 487 mm |
| 尺寸 (高x宽) | 322 mm x 263 mm |
| 秤盘外形尺寸(深x宽) | 40 mm x 40 mm |
| 物料号 (s) | 30105932 |
主要特点
duyi无二的称量性能
独特的微型分析天平,USP 最小称量值小于 3 mg。可直接将小样品加样至去皮容器,节约时间和样品。
静电检测
自动检测任何出现在称量室中可能导致不合格结果的相关静电荷。
更高的用户安全性
采用集成的无需手动操作的传感器和自动开门,少量有毒物质的加样比以往更加安全!
产品优势
1.轻松的天平管理
创新性的StatusLight技术可以快速提供天平状态信息，实现即时质量控制。采用Test Manager确保合规性。
2.无缝过程集成
LabX实验室软件可在天平上启用SOP用户指南，自动进行数据处理，并可实现与计算机系统的双向集成。
创新性的StatusLight技术可以快速提供天平状态信息，实现即时质量控制。采用Test Manager确保合规性。
2.无缝过程集成
LabX实验室软件可在天平上启用SOP用户指南，自动进行数据处理，并可实现与计算机系统的双向集成。
技术文档
