研究颗粒粒径和形状 - 颗粒的高分辨率实时成像可使科学家确定过程参数对颗粒粒径和形状的影响。 当关键参数在开发、扩大和生产期间发生改变时，颗粒通过设计可具有可预测性。
表征瞬时事件和难以捉摸的机制 - 颗粒和颗粒结构在进行取样时经常发生变化。 通过在线观察晶体、液滴及其他细微颗粒结构，科学家可以表征可能对于优化产品质量或过程至关重要的瞬时事件和难以捉摸的机制。
研究关键过程事件和扰动 - 对颗粒粒径、形状和浓度变化敏感的基于图像的趋势，有助于科学家确定并研究重要过程事件和扰动。 这种快速可靠的方法可减少全面了解复杂颗粒系统和过程所需的时间和精力。
以较低成本做出基于证据的决策 - 通过在线观察颗粒和颗粒机制，科学家可获得通过其他方法很困难或很耗时而无法获得的知识。 通过这些知识能够以较低的成本做出基于证据的决策以及过程开发。
了解结晶过程
确定生长、结块、破损及形状变化等机制
控制颗粒粒径和形状
监控多晶型转变
确定批量生产之间不一致性的来源
优化油/水分离
查看无法进行取样的颗粒和液滴系统
产品简介
ParticleView V19
使用原位 PVM 图像实时查看在线颗粒粒径和形状
采用 PVM（颗粒录影和测量）技术的 ParticleView V19 是一种基于探头的录影显微镜，可以将颗粒和颗粒机制在过程中的状况以直观的形式呈现出来。 在各种工艺条件下连续捕捉高分辨率图像，无需采样或离线分析。 对颗粒粒径和浓度变化敏感的过程趋势，将自动与相关度最高的图像相结合，为科学家提供了一种可确保通过每项实验来获取全面了解的直观、可靠的方法。
常见的 V19 应用包括：
技术参数
| 探头液接材料 | C22 合金 |
| 探头窗口材料 | 蓝宝石 |
| 探头液接温度范围 | -80 °C 至 120 °C （吹扫）; 10 °C 至 120 °C（标准） |
| 探头后端温度范围 | 0 °C – 40 °C |
| 探头液接压力范围 | 0 barg 至 10 barg（标准）; 高达 100 barg（自定义） |
| 认证 | IEC/UL/CSA 61010-1; EN 61326-1; 1 级激光设备，符合 21CFR1040.10、21CFR1040.11 和 IEC 60825 标准; 探头后端，额定值为 IP65 和 4X |
| 适用于 | 实验室： EasyMax、OptiMax 或更高版本 |
| 软件 | iC PVM |
| 成像系统 | 前置激光器： 背散射图像； 后置激光器： 使用可选的夹合式反射器传输图像 |
| 照明 | 内部光源; 前置激光器： 4; 后置激光器： 4 |
| 探头窗口密封 | TM（标准，无 o 型环 ） |
| 探头直径 | 19 mm [0.75 in] |
| 探头浸湿长度 | 400 mm [15.75 in] |
| 导管长度 | 2 m [6.6 ft] |
| 视野 | 1300 um x 890 um |
| 光学分辨率 | > 2 um |
| 图像分辨率 | 1500 x 1024 pixels |
| 重量（探头、接口单元和电缆） | 1.45 kg [3.20 lb] |
| 空气要求 | 使用清洁干燥的空气或氮气进行吹扫; 低流速吹扫(可选，避免冷凝)，1.4 barg [20 psig]，0.5 SLPM [0.02 SCFM] |
| 电源要求 | 供电 USB 扩展器; 100-240V （自动切换）， 50/60Hz，0.3A |
| 物料号 (s) | 14000031 |
功能特点
了解颗粒变化过程
揭示隐性机理
ParticleView实时显微镜是易于使用的PAT工具，它可以记录工艺过程中自然存在的颗粒及其颗粒结构的高分辨率图像。 通过该工具，可对每个图像进行实时分析，并在实时过程条件下呈现有关颗粒粒径、数量与形状的简单趋势。
借助ParticleView，科研人员可观察颗粒的形成、生长、破碎和形变过程，并深入了解控制其过程的隐性机理。
无需取样即可了解
实时显微镜
采用PVM技术的ParticleView是基于探头设计的，这意味着科研人员可在实时过程条件下获得可靠的结果，而无需去现场获取数据。 从每个过程的开始到结束，均连续记录图像，从而能够揭示隐性颗粒机理以及反映它们的过程参数。
