详细介绍
NEW !! AP+ 全自动芯片分选系统 | |
适用芯片尺寸: 托盘放置: 0.2 mm2 - >25 mm2 载带放置: 0.5 mm2 - 最大 17 mm2 输入: 采用载带框或兰膜环,晶圆直径最大至 Ø300 毫米 输出: 载带(宽度8 至 24 毫米,热封或压封),Waffle packs 及Gel-Paks (2"- 4"),JEDEC盘,载带框,兰膜环或 特别定制 放置精度: ± 12.5 微米(重复精度)拾取原理: 表面或顶部边缘真空拾取(采用:Rubber, Vespel, Tungsten carbide, elastomer) 可选非表面接触的 Vespel edge grip 产能: 根据不同产品,最短1.3 秒/循环 | |
半自动型 DE35-ST | |
• 适用于6,8英寸晶圆 • 最小200微米芯片拾取 | |
拾取大片 GaAs Die |
- 产品分类
- 品牌分类
- 光谱仪/拉曼光谱仪
- 科学级CCD 探测器
- 光学光电与太阳能光伏
- 太阳能相关
- IC封装与测试
- 晶圆制造
- 激光器/功率计
- 等离子刻蚀设备(PECVD)/反应式离子刻蚀(RIE)/Remover
- 镀膜设备
- 光刻胶耗材
- (美国)美国PV measurements
- (美国)美国CrystaLaser
- (美国)美国科洛玛
- (美国)普林斯顿
- (美国)美国Semrock
- (美国)美国Photometrics
- (美国)美国BNC
- (美国)SONIX
- (美国)美国RTI
- (德国)德国YXLON
- (韩国)韩国NOST
- (美国)美国Nisene
- (美国)维易科
- (美国)美国Royce
- (美国)美国Ocean Insight
- (美国)丹顿真空
- (美国)相干
- (美国)美国Micro Control Comp
- (法国)法国普发真空
- (美国)美国Mechanical Devices
- (美国)赛默飞世尔
- (美国)美国WEB Technology
- (日本)日本Nippon Kayaku
- (美国)inTEST
- (美国)美国HILEVEL
- (美国)美国Akrometrix
- (德国)德国Microtronic
- (德国)德国布鲁克
- (以色列)以色列Camtek
- (美国)美国Frontier Semiconductor
- (日本)奥林巴斯
- (美国)美国Jelight
- (英国)英国AML
- (美国)美国DJ MicroLaminates
- (美国)美国OAI
- (美国)美国IMP
- (美国)美国Chemcut
- (荷兰)荷兰Trymax
- (韩国)韩国Suhwoo
- (美国)美国Filmetrics
- (美国)美国Heller INDUSTRIES
- (美国)美国Qimaging
- (美国)美国Mechanical Devices
- (荷兰)荷兰Lambert
- (美国)美国安维谱
- (美国)美国ONDAX
- (德国)德国PVA TePla
- (德国)德国LTB Lasertechnik Berlin
- (美国)美国MicroChem
- (美国)美国EOS
- (美国)美国ABET Technologies
- (美国)美国IPS
- (香港)香港Teltec
- (加拿大)加拿大gentec-eo
- (美国)美国DJ Devcorp
- (英国)英国LaserQuantum
- (丹麦)丹麦NIL TECHNOLOGY
-
仪企号香港电子器材有限公司
-
友情链接