详细介绍
测角仪可移动，可以测更大度数的2Θ角
对到晶格空间进行放大探测
采用双光束，有很大的灵活性
在IPDS II 的基础上进行拓展，可测2θ角最大值137°；
适用于铜反射和电子密度测量；
软件可用于数据收集和计算；
即使是比较复杂的样品（多域调制晶体），也能够提供有效的分析结论
支持DACs
规格参数：
尺寸：1680 x 880 x 2110mm；双仪器结构：2050 x 1260 x 2110mm
重量：420 kg； 双仪器结构：600kg
最大2θ =137°
测角仪：ω：180°，φ：360°
2θ：0°，5°，30°，45°，60°
探测器间距：40 - 200 mm (自动设定值)
最小d/?：0.30 Ag KA， 0.38 Mo KA，0.83 Cu KA
X射线源：密封管： Ag, Mo, Cu
微焦点源： Ag, Mo, Cu
成像板尺寸(活动区)：340mm
噪音：因为无暗流，因此噪音很低
技术文档
