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半导体和电子测量

 
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NanoSystem NVM-6000P非接触式3D表面自动测量系统
  • 品牌: 韩国Nano System
  • 型号:NVM-6000P
  • 产地:韩国
  • 白光干涉仪(WSI)能测量柔软、正常粗糙表面的表面高度, 与NA无关,提供0.5纳米垂直分辨率。不损伤垂直分辨率,可使用所有倍率。 相位差干涉仪(PSI)提供0.1纳米的垂直分辨率。 因此,使...

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