半导体检测显微镜

奥林巴斯半导体检查显微镜MX61A，采用了新颖的光学系统（UIS2），特别增强了明视场、暗视场的性能，从而提高了辨别和确认缺陷的能力。明视场图像的色温最佳化，实现了容易误检的中性颜色的再现，暗视场图像...

半导体检测显微镜MX61L/ MX61, 300 mm/200 mm半导体检查显微镜通过各种观察方法--明视场法、暗视场法、微分干涉法（DIC）、荧光法、红外线法和深紫外线法，优秀的光学系统保证了卓越...