产品中心

该设备采用研华工业计算机控制，装有美国高速高精度NI-6221数据采集卡，通过LabVIEW软件编程，人机界面友好，操作简单，直观，夹具部分机械动作，安全防护等采用PLC自动化控制系统，有效保障操作人...

针对IGBT的各种静态参数而研制的智能测试系统 功率源 3000V200A

EN-3020B型分立器件测试仪是用于二极管、IGBT和MOSFET的静态参数测试。系统的测试原理符合相应的国家标准、军标，系统为独立式单元，封闭式结构，具有升级扩展潜能。

测试范围 二极管DIODE，晶体管（NPN型/PNP型），J型场效应管J-FET，MOS场效应管  MOS-FET双向可控硅TRIAC，可控硅SCR，绝缘栅双极大功率晶体管IGBT，硅触发可控硅ST...

保存和重新导入入口程序，保存和导入之前捕获图象，曲线数据直接导入到EXCEL，曲线程序和数据自动存入EXCEL，程序保护电流/电压,以防损坏，测试范围广（19总大类，27分类）

IV曲线显示/局部放大，程序保护电流/电压,以防损坏，品种繁多的曲线，可编程的数据点对应，增加线性或对数，可编程延迟时间可减少器件发热

器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为Windows或WindowsNT的PC机上USB接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成，具有全屏显示和增强型编辑帮助。

本系统使用方便，只需要通过USB或者RS232与电脑连接，通过电脑中友好的人机界面操作，即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL和WORD的格式保存。

系统在失效分析，IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。

可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统在失效分析，IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。

系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。

EN-3020B型分立器件测试仪是用于二极管、IGBT和MOSFET的静态参数测试。系统的测试原理符合相应的国家标准、军标，系统为独立式单元，封闭式结构，具有升级扩展潜能。

采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定300uS 被测器件引脚接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试，确保被测器件不受损坏

系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。

测试范围广（19总大类，27分类） 升级扩展性强，通过选件可提升电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V，1250A

应用领域 院所、高校、半导体器件生产厂商、 电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、 新能源汽车、轨道机车检修等