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微波探测的光感应电流瞬态图谱检测，非接触且无损伤，用于温度依赖的少数载流子寿命测量以及半导体的界面陷阱和体陷阱能级的电性能表征。

确定单晶的完全晶格取向，使用Omega扫描方法的超高速晶体定位，测量立方晶体任意未知取向的测定，特别设计用于点阵方向的方位设置和标记。气冷式x射线管，无需水冷， 适合于研究和生产质量控制。 X射线单...

Omega/Theta XRD用于超快速的晶体定向、生产中的晶体排列、质量控制、摇摆曲线测量、材料研究等。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其他...

德国弗莱贝格仪器Quatrz XRD——石英晶体X射线衍射仪主要应用于对石英棒、硅片和坯料进行生产质量控制。而根据样品对象的不同，Quatrz XRD可以分为Quatrz Bar XRD、Quatrz...

可以集成任何自动化或处理系统且适用于极端环境(研磨、锯切) 紧凑、标准的工业接口 单独的定位测量，可测量平面或圆周

在晶圆片的注入和光刻过程中，需要平面或凹槽作为定位标记。切割过程中，晶片必须正确地对准晶圆片上易于切割的晶格面。因此，检查平面或缺口的位置至关重要。

用于微小圆柱体、大型晶铸或立方体晶体定向的夹具

测量摇摆曲线意味着在Theta-scan模式下进行测量，这需要一个测角仪。一个双晶体被带入主光束路径，以减少光谱宽度和发散度。然而，其副作用是强烈的强度降低。

晶体（如SiC的晶锭）。这些需要在线切过程之前进行定向对准。Freiberg仪器公司提供了一个方便的支架系统，使用Omega-scan对准晶锭。整个堆垛被转移到线锯。平行的锯切可极大节省时间，极大提升...

Mapping面扫台允许使用受控的网格模式来探索整个样品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在转盘顶部容纳额外的XY定位平台。样品表面可以根据用户定义的网格进行扫描。由于样品上X射线光斑的...

晶锭XRD有着先进的XRD系统，用于单晶晶锭的自动定向、倾斜和对准研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其他100多种材料。

Omega/Theta XRD用于超快速的晶体定向、生产中的晶体排列、质量控制、摇摆曲线测量、材料研究等。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其他...

晶圆x射线晶体定向仪分拣系统用于全自动分拣、晶体取向、optical notch and flat determination测定等。Si | SiC | AlN | 蓝宝石（Al2O3） | GaA...

德国Freiberg Instruments 电阻率测试仪（RESmap ）在对低电阻率晶锭和晶圆进行非接触式测量方式上拥有非常重要的重复性 Si | Ge | 化合物半导体 | 宽带隙 | 材料 |...

MDPmap被设计成一个紧凑的台式非接触电学表征工具，用于离线生产控制或研发，在稳态或短脉冲激励（μ-PCD）下，在一个宽的注入范围内测量参数，如载流子寿命、光导率、电阻率和缺陷信息。自动化的样品识别...

灵活的OEM少子寿命测试仪器，用于各种不同样品的少子寿命测量，从单晶硅砖到多晶硅砖，从生长的硅片到不同层或金属化的硅片的过程控制。标准的软件接口，便于连接到许多处理或自动化系统。