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Thermtest MP-1多功能分析仪

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Thermtest MP-1多功能分析仪 核心参数
仪器分类: 热板法
详细介绍

MP-1多功能分析仪

MP-1 结合瞬态平面热源法(TPS, ISO 22007-2) 和瞬态热线法(THW, ASTM D7896) ,此独特且强大的设计可针对固体、液体、膏体与粉体进行热传导率、热扩散率及比热的测试。

最适用于:液体、固体、膏体和粉末


结合用于固体的瞬态平面热源法(TPS)和用于液体瞬态热线法(THW),此二测试方法被广泛用于精确地测量绝对热导率、热扩散系数、比热和热逸散率。搭配Thermtest 特有的控温型平台(TP),在通用性上得到了极大的扩展,并广受学术和商业用户的赞赏。

采用受全世界所信任之TPS和THW作为主要的测量方法,与两者相关之论文已达1000多篇。


MP-1特性

wwl.jpg

MP-1规格

测试方法

瞬态平面热源(TPS)

瞬态线热(THW)

材料

固体、膏体和粉末

液体、膏体和粉末

方向

3D / 1D: 各向异性、板材、薄膜

整体

热导率(W/m•K)

0.005~1800 W/m·K

0.01~2 W/m·K

样品尺寸*

5 x 5 mm ~无上限

20 mL

样品厚度*

0.01 mm ~无上限

N/A

附加属性

热扩散率| 比热| 热逸散率

热扩散率| 比热

接触热阻(m²K/W)

热阻和热容量

N/A

温控平台(TP)

0~300 °C

-160 °C | -50 °C | -20 °C | 0~300 °C

10~200 °C | -15/0~200 °C

0~300 °C | -45~300 °C | -160~300 °C

扩展温度范围

-160~1000 °C

N/A

测试时间(秒)

0.25~1280

1

数据点(点/秒)

600

400

精准度

5%

2%

再现性

1%

1%

样品配置

对称(双面) | 不对称(单面)

N/A

国际标准

ISO 22007-2:2015

ASTM D7896-19

*需根据所使用之测试模组而定


MP-1 测试方法

瞬态平面热源(TPS)和瞬态热线法(THW)的原理相似,不同之处主要在于二者的实物设计。两者的基本原理是感测器与电源和传感电路保持电性连接,当电流通过感测器时,产生的升温会随着时间的推移被记录下来,产生的热量会取决于材料热传递特性的速率扩散到样品中。


瞬态平面热源(TPS)感测器

TPS感测器专门为固体、膏体和粉末而设计,它由封装在绝缘层之间的双螺旋镍组成。该感测器(双面)的标準操作是将其夹在两块相同的样品之间;若扩展到单面感测器,仅需一块样品。Thermtest的TPS数学计算与分析系统可以测量感测器与样品之间的接触热阻,以及样品的热导、热扩散、比热和热逸散率。


瞬态热线法(THW)感测器

THW感测器专门为液体、膏体和细颗粒粉末而设计,其是由一根长40mm的细加热线(可更换) 组成,搭配Thermtest的特製样品置具,可以对液体施加背压,以测量超过沸点的热导率、热扩散率和比热。测量时间通常在极短的时间内完成(1秒),以限制粘稠范围广泛的样品的对流效应。


热导率与温度的关系

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由于材料的特殊性,依靠参考资料来预测热导率或其与温度的关係可能导致使用的资料不準确。使用NIST(美国国家标準与技术研究所)的《Thermal Conductivity of Selected Materials》(选定材料的热导率)铝和石英的参考资料,我们可以看到热导率随温度的变化有很大的差异。由于材料的来源甚广且差异甚多,故能够充分展现材料的热性质至关重要。MP-1结合了强大的温控系统,从而实现了解各温度区间下的材料热特性。

引用: Powell, R.W.,Ho, C.Y.,和Liley, P.E. (1996),《Thermal Conductivity of Selected Materials》(选定材料的热导率)。美国华盛顿:商务部,国家标準局;由美国政府印刷局文献总监处出售。第17、99页。


数据采集软体

MP-1数据采集软体(DAQ)从初始设计,对测试的所有方面进行智能控制。可智能地控制所有方面的测试(包含测试方法、实验参数)和时序安排。MP-1的特点之一是具有整合四个连接埠的切换系统,目的在于同时对多个设备和感测器进行自动化控制,以此大幅提升测试效能。

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        TPS理论认为,温度上升与时间的非线性部分(即为接触热阻)必须去除,因此固有的热物理计算是奠基在瞬态的线性区域。这可以通过手动移除数据的起始点来完成,直到达到最佳拟合。尽管这是一种合适的方法,但它确实需要有经验的使用者来降低偏差并实现所需的再现性。

        感测器与样品之间的接触热阻取决于样品表面的品质。当手动去除接触热阻时,会去除少量资料点(步骤1),并重新计算以进行最佳的拟合分析。如果得到的残留平均偏差可以获得改善,可以去除更多的数据点(步骤2),并重複计算步骤。


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