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Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用
- 品牌：美国阿美特克
- 型号： X-123 FAST SDD C2 window
- 产地：美国
- 供应商报价： 面议
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阿美特克电子仪器集团
更新时间：2020-05-19 17:19:42 -
企业性质
入驻年限第3年
营业执照
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- 详细介绍
Amptek FAST SDD C2 窗口针对SEM应用开发
图1，X -123快速SDDC2窗口光谱仪结合真空装置Amptek推出全新SDD探测器，针对扫描电镜能谱仪客户应用（EDS SEM）利用全新技术“C”系列X射线窗口(Si3N4)，能够对低能量区域元素快速响应，新Amptek SDD可以很好的测试元素碳(C)，高效率快速SDD是EDS光谱仪最理想的方案。
图2, C2窗口传输效能图元素C2窗口效能B19.7%C43.9%N59.2%O62%f69%Ne72.9%Na75.1%Mg77.3%Al80.3%Si81.8%
图3，在真空环境下使用C2窗口快速SDD，碳(C)元素光谱图
图4，使用快速SDD 测试Fe55光谱图4，Amptek低能量C2系列窗口对比 聚合物窗口 效能对比图
