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高度测量显微镜

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高度测量显微镜 核心参数
Z轴测量范围: 150mm 分辨率: 0.001mm
水平测量范围: 300x320mm 放大倍数: 1000X
详细介绍

• 卓越的光学技术实现对极细微样品的逼真成像。
• 先进的测量技术实现对样品的准确测量。
• 自动聚焦和聚焦导航系统使测量更简单、更精确。
• 全面的可追溯系统可以提供可靠和可信赖的测量。


XYZ 长宽高的试试测量,线弧高度,芯片偏移,球径球高测量。

产品优势
• zhuo越的光学技术实现对极细微样品的逼真成像。
• 先进的测量技术实现对样品的准确测量。
• 自动聚焦和聚焦导航系统使测量更简单、更精确。
• 全面的可追溯系统可以提供可靠和可信赖的测量。
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