仪器网

欢迎您: 免费注册 仪器双拼网址:www.yiqi.com
首页-资讯-资料-产品-求购-招标-品牌-展会-行业应用-社区-供应商手机版
官方微信
中国仪器网• 行业应用
仪器网/ 行业应用/ 解决方案/ 通过D-SwaferZX切割技术使用GC/MS研究溶剂中的杂质

通过D-SwaferZX切割技术使用GC/MS研究溶剂中的杂质

点击这里给我发消息
内容节点
概述
实验/设备条件
样品提取
实验/操作方法
实验结果/结论
仪器/耗材清单
气相色谱(GC)是分析溶剂中杂质的技术,再配上一台质谱检测器,就可以鉴定其中所含的杂质是什么由于许多溶剂都是通过分馏生产而得到,因此杂质将与溶剂具有相类似的沸点因而在GC分析中,杂质的保留时间将与溶剂接近,从而共流出的风险将非常高本文介绍了一种ZX切割技术,该技术允许所有注射的样品到达检测器,从而解决了溶剂峰分离度和潜在的检测器损坏的问题该技术同时提供了一个全面和可信的方法,以检测溶剂中低含量杂质 PerkinElmer气质联用仪
相关产品
相关解决方案
热门解决方案
最新解决方案
在线留言
官方微信

仪器网微信服务号

扫码获取最新信息


仪器网官方订阅号

扫码获取最新信息

在线客服

咨询客服

在线客服
工作日:  9:00-18:00
联系客服 企业专属客服
电话客服:  400-822-6768
工作日:  9:00-18:00
订阅商机

仪采招微信公众号

采购信息一键获取海量商机轻松掌控