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Light Pulse Heating Thermoreflectance

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概述
实验/设备条件
样品提取
实验/操作方法
实验结果/结论
仪器/耗材清单
热反射法原理:用热反射法可测量薄膜材料的热扩散系数由于材料表面的反射率随着表面温度的变化而变化,样品正面的温度变化可以通过反射光强度的变化来观测通过光电二极管可以探测光源的反射光强,从而得到样品正面的温度
日本PicoTherm公司的系列产品薄膜材料热学性能超快测量系统是和日本产业技术综合研究所 (AIST) 联合开发的其中 NanoTR 和 PicoTR 系列产品基于Zxin的脉冲光热反射法,是市面上**能够对亚微米级别(10nm-10m)的薄膜材料(金属陶瓷介电)的热学性质(多层膜中每层膜的热扩散系数边界热阻等)进行测量的设备公司另外还有一款基于激光闪光法测量热电材料的比热热扩散系数电阻以及塞贝克系数等热电性质的设备 FlashTE,可供您选择 薄膜材料热学性能超快测量系统
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