仪器网

欢迎您: 免费注册 仪器双拼网址:www.yiqi.com
首页-资讯-资料-产品-求购-招标-品牌-展会-行业应用-社区-供应商手机版
官方微信
中国仪器网• 行业应用
仪器网/ 行业应用/ 解决方案/ 纳米压痕/划痕方法研究ITO薄膜的力学性质

纳米压痕/划痕方法研究ITO薄膜的力学性质

点击这里给我发消息
内容节点
概述
实验/设备条件
样品提取
实验/操作方法
实验结果/结论
仪器/耗材清单
氧化铟锡(Indium Tin Oxide,ITO)透明导电薄膜作为一种把光学透明性能与电学导电性能结合在一体的光电材料,在光电器件中扮演着重要的作用本文提出了采用球形压头及划痕方法,以测定其在高分子基底上时,薄膜的纳米力学性能如开裂及膜基结合的强度等 纳米压痕仪
相关产品
相关解决方案
其他解决方案
最新解决方案
厂商产品资料
在线留言
官方微信

仪器网微信服务号

扫码获取最新信息


仪器网官方订阅号

扫码获取最新信息

在线客服

咨询客服

在线客服
工作日:  9:00-18:00
联系客服 企业专属客服
电话客服:  400-822-6768
工作日:  9:00-18:00
订阅商机

仪采招微信公众号

采购信息一键获取海量商机轻松掌控