摘要:
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准 确、GX地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅 基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL 都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他 分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/ MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量 雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检 测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小 时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
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