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iCAP TQ三重四级杆ICPMS测定高纯氧 化镝中的15种稀土杂质

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概述
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实验/操作方法
实验结果/结论
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本文运用赛默飞iCAP TQ三重四级杆ICPMS 建立了一种直接测试高纯氧化镝中15种稀土杂质的方法。该方法简单快速,无需复杂的基体分离过程,利用iCAP TQ有效去除氧化镝基体多原子离子对165Ho和175Lu的干扰,适用于纯度为99.99%~99.9999%的高纯氧化镝中稀土杂质纯度分析。

高纯稀土镝因其优异的性能在稀土超磁致伸缩材料、高性能钕铁硼永磁材料,高性能镝灯中发挥重要作用,近些年市场需求量快速上升,对于镝材料的纯度也提出更高要求(高性能镝灯要求Dy/TRE在99.999%以上)。ICPMS在稀土杂质分析方面已经广泛应用,但是稀土元素之间质谱干扰严重,高纯氧化镝有7个同位素分布在156Dy(0.06%)到164Dy(28.2%)质量范围内,容易形成复合多原子离子干扰其他重稀土元素的直接测定,最突出的是对165Ho和175Lu的干扰[1]。目前普遍采用分离技术将稀土基体分离后采用单四级杆ICPMS测定,然而分离过程复杂繁琐。本文采用赛默飞三重四级杆ICPMS iCAP TQ,轻松去除大量基体元素Dy形成的多原子离子对稀土杂质测测试干扰。

采用用三重四级杆iCAP TQ ICPMS可以有效去除氧化镝基体多原子离子干扰,尤其是对165Ho和175Lu的测定,避免了复杂的基质分离过程,可用于直接分析纯度为99.99%~99.9999%的高纯氧化镝中稀土杂质。

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