仪器网

欢迎您: 免费注册 仪器双拼网址:www.yiqi.com
首页-资讯-资料-产品-求购-招标-品牌-展会-行业应用-社区-供应商手机版
官方微信
中国仪器网• 行业应用
仪器网/ 行业应用/ 解决方案/ 使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS分析高纯度铜中的超痕量杂质

使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS分析高纯度铜中的超痕量杂质

点击这里给我发消息
内容节点
概述
实验/设备条件
样品提取
实验/操作方法
实验结果/结论
仪器/耗材清单

本应用介绍了一种使用串联四极杆 ICP-MS (ICP-MS/MS)测量高纯度铜中超痕量杂质的新方法。针对 Agilent 8900ICP-MS/MS 开发出一种可选的离子透镜(称为“m 透镜”),从而能够在耐受基质的高功率等离子体条件下对超低浓度的碱金属进行测量。m 透镜具有优化的几何结构,可z大程度减小沉积在 ICP-MS 接口组件上的 EIE 背景信号。

相关产品
相关解决方案
其他解决方案
最新解决方案
厂商产品资料
在线留言
官方微信

仪器网微信服务号

扫码获取最新信息


仪器网官方订阅号

扫码获取最新信息

在线客服

咨询客服

在线客服
工作日:  9:00-18:00
联系客服 企业专属客服
电话客服:  400-822-6768
工作日:  9:00-18:00
订阅商机

仪采招微信公众号

采购信息一键获取海量商机轻松掌控