仪器网

欢迎您: 免费注册 仪器双拼网址:www.yiqi.com
首页-资讯-资料-产品-求购-招标-品牌-展会-行业应用-社区-供应商手机版
官方微信
中国仪器网• 行业应用
仪器网/ 行业应用/ 解决方案/ FIB-SEM双束电镜应用之TOF-SIMS轻元素分析

FIB-SEM双束电镜应用之TOF-SIMS轻元素分析

点击这里给我发消息
内容节点
概述
实验/设备条件
样品提取
实验/操作方法
实验结果/结论
仪器/耗材清单
方案优势
FIB-SEM上的TOF-SIMS可以提供如下的功能: 1.轻元素分析:元素分析范围从H开始; 2.痕量元素分析:由于TOF-SIMS具有极高的灵敏度,几个ppm的轻元素都可以进行表征; 3.优秀的空间分辨率:由于离子束与样品的作用区域更小,空间分辨率可达10nm; 4.深度剖析:由于离子束可以逐层剥离样品,从而可以实现深度上对元素分布的表征。


相关产品
相关解决方案
其他解决方案
最新解决方案
厂商产品资料
在线留言
官方微信

仪器网微信服务号

扫码获取最新信息


仪器网官方订阅号

扫码获取最新信息

在线客服

咨询客服

在线客服
工作日:  9:00-18:00
联系客服 企业专属客服
电话客服:  400-822-6768
工作日:  9:00-18:00
订阅商机

仪采招微信公众号

采购信息一键获取海量商机轻松掌控