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美国KLA

美国KLA/KLA

[美洲 美国]
KLA-Tencor成立于1975年,位于美国加利福尼亚州的米尔皮塔斯,致力于半导体(芯片)设备领域的探索。产品主要有芯片缺陷检测仪、芯片量测仪、实时等离子蚀刻晶圆温度测量系统、套刻量测系统、表面轮廓仪、纳米机械测试仪、芯片封装设备等,产品广泛应用于半导体产品研发、设计、制造、检测等领域。
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品牌类型 薄膜测厚仪电阻测试仪台阶仪三维表面形貌仪轮廓仪共聚焦显微镜干涉仪/激光干涉仪/白光干涉仪开尔文探针扫描系统纳米压痕仪/纳米划痕仪磨损试验机电子束刻蚀系统电导率仪/电导率测定仪电子探针/X射线微区分析仪