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仪器网/ 采购中心/ 采购供应/半导体参数测试仪 2024-04-18 12:10:22
半导体参数测试仪简介
半导体参数测试仪能完成准静态的电容对电压测试。仪器具有较高的低电流、低电压分辨率和内置准静态CV测量能力,完成晶片的可靠性测试;基于Windows环境的图形数据分析能力,旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常。仪器由四个内置的高分辨率的源/监控单元,两个电压源单元和两个电压监控单元组成,可满足开发新工技术和评价材料。
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