宝石折射仪的原理|结构|用途
宝石折射仪在宝石鉴定中是Z有效的仪器之一，可基本确定宝石的种属。宝石折射仪的工作原理是建立在全内反射的基础上。是通过测量宝石的临界角，并将读数直接转换成折射率值。
宝石折射仪的原理
宝石折射仪的原理为全内反射原理，当光从光密介质入射到光疏介质时，折射角大于入射角，当入射角达到某个值时，折射角为90°，此时入射角为临界角，当入射角大于临界角时，宝石不再发生折射，而是发生全内反射。不同宝石的临界角不同，据此可测得折射率值。
宝石折射仪的结构
宝石折射仪主要由棱镜、反射镜、透镜、标尺、偏光片光源等组成。
高折射率棱镜：起聚焦的作用。
接触液：也叫折射油。它的作用是使待测宝石与高折射率棱镜产生良好的光学接触。当折射率升到1.78时，再加入18%的四碘乙烯，折射率可升至1.81。这种接触液可以满足绝大部分宝石品种的测试，并且在正常情况下使用是安全的。折射率大于1.81的接触液都有极强的腐蚀性和剧毒，对测试者和棱镜都十分不利，宝石折射仪使用时需要注意通风。
光源：宝石折射仪中统一采用589.5nm的单色黄光，可以是外置也可以是内置。若入射光为白光，由于宝石的色散，阴影边界为彩色谱带读数时看准黄绿交界部位即可。用白光作光源，在测试单折射率宝石时尚可，但在测试具双折射的宝石时，两彩色阴影互相叠加，不易读数。棱镜和宝石的色散差别越大，则阴影边界彩色性越强。
待测宝石：待测宝石必须有抛光的平面或弧面。
宝石折射仪的用途
1、宝石折射仪可测得刻面宝石的折射率、双折射率、轴性和光性，从而确定宝石种属
光学性质不同的宝石在宝石折射仪上现象不同。①均质体宝石只有一个折射率值，在宝石折射仪上表现为只有一个折射率值，宝石转动一周，折射率值不变。②一轴晶宝石有两个折射率值，Ne和No，在宝石折射仪上表现为两个折射率值，旋转宝石一周，数值变化的为Ne，数值不变的为No。若大值动，即Ne>No，为一轴晶正光性;若小值动，即Ne
2、宝石折射仪可测得弧面宝石的近似折射率值，从而缩小宝石种属范围
弧面宝石折射率值的测试方法为点测法，在视域里面可观察到宝石与棱镜接触点的放大影像即圆形小球，平行移动头部，小球明暗分界的位置即为宝石的近似折射率值，从而缩小宝石种属范围，但无法测得双折射率、轴性和光性特征，因而无法具体定宝石种属。
宝石折射仪的存在的问题及对策
1、光源波长不标准，测试存在误差
宝石折射率值是用589nm的钠黄光所测的数值，但标准的589nm钠黄光光源价格昂贵，大多数宝石折射仪上所采用光源并非标准的589nm钠黄光，而是以589nm为ZX的一个窄带，这就造成了在测宝石折射率时宝石折射率值与标准值有误差，宝石在棱镜上的位置不同，数值也会有所差异。对于这种情况，在测试宝石时尽可能将宝石放在棱镜的固定位置，在旋转宝石时位置不变化。
2、折射油量过多或过少，测试不准确
宝石折射仪测刻面宝石折射率时，折射油的量要适中，折射油过少宝石和棱镜的接触不完全，测不到折射率，折射油过多则宝石易漂浮，也不易测得折射率值。测弧面宝石时，折射油不要直接滴在棱镜上，而是滴到金属台上，将所测的宝石沾一点折射油即可，过多视域里面小球过大，误差也大。
3、无法区分宝石是否为合成或经过人工处理
宝石折射仪主要是根据宝石的折射率等信息鉴定宝石种属，而大多数天然宝石和合成宝石的折射率值差异不大，因而无法区分天然宝石、合成宝石、人工处理宝石。需要借助其它仪器进行鉴定，例如显微镜、分光镜、滤色镜等综合判断。但对于某些合成宝石有着重要的鉴定意义，例如合成尖晶石的折射率为1.727，非常稳定，不会变化，而天然尖晶石的折射率多为1.718左右，据此可区分天然尖晶石和合成尖晶石。
4、宝石折射仪所测的折射率值
宝石折射仪所测的折射率值为垂直宝石折射仪棱镜长轴方向所在切面的折射率值，而不是宝石和棱镜接触面所在平面的折射率值。
宝石折射仪在测宝石折射率时会有以下几种特殊情况:
①一轴晶宝石，当宝石光轴方向和宝石棱镜垂直时，此时所测的折射率为Ne和No切面，由于Ne即光轴和宝石棱镜垂直，旋转宝石一周，所测切面不变，即可在目镜里面看到两个不动的折射率值，即Ne和No。
②二轴晶宝石，当宝石的三个主轴Ng、Nm、Np和棱镜垂直时，旋转宝石一周，所测切面变化，但其中一个数值即和棱镜垂直主轴的数值不会变化，即可在目镜里面看到两个值，旋转宝石一周，一个值动，一个值不动，不动值为Ng、Nm、Np。这种特殊情况的位置有三种，此时很容易将宝石判断为一轴晶，因此宝石折射仪在测试宝石时需要多测几个刻面，以排除特殊位置。
全部评论(0条)
推荐阅读
-
- 宝石折射仪的原理|结构|用途
- 宝石折射仪在宝石鉴定中是最有效的仪器之一，可基本确定宝石的种属。宝石折射仪的工作原理是建立在全内反射的基础上。是通过测量宝石的临界角，并将读数直接转换成折射率值。
-
- 暗视野显微镜的原理|结构|用途
- 暗视野显微镜又叫暗场显微镜，是一种通过观察样品受侧向光照射时所产生的散射光来分辨样品细节的特殊显微镜。暗视野显微镜和明场不同，不直接观察到照明的光线，而观察到的是被检物体反射或衍射击光线。
-
- 旋光仪的原理|结构|用途
- 旋光仪一般是过光电信号的转换进行工作，它是一种测定物质旋光度的仪器。通过对样品旋光度的测量，可以分析确定物质的浓度、含量及纯度等，在医药，食品，有机化工等领域都有应用。
-
- 制备色谱仪结构，制备色谱仪的用途
- 制备色谱仪以其独特的结构和精确的分离能力，广泛应用于各个分析领域。了解其基本结构及工作原理，可以更好地优化实验参数，提高分离效率。
-
- 压片机的结构与用途
- 随着压片机的不断改进和完善，特别是新材料、新技术、新工艺、新结构的创新运用，片剂得以快速发展。本文将详细阐述压片机的结构和用途以及分类与使用。
-
- 扫描电镜的结构及用途
- 扫描电镜全称扫描电子显微镜，可对样品进行综合分析，已成为重要分析工具。扫描电镜可以分析纤维、纸张、钢铁质量，观察矿石结构、检测催化剂微观结构、观看癌细胞与正常细胞差异等。
-
- 光纤熔接机的原理|结构
- 光纤熔接机用于光通信中光缆的施工和维护，光纤熔接机的熔接原理比较简单，首先光纤熔接机要正确地找到光纤的纤芯并将它准确地对准，然后通过电极间的高压放电电弧将光纤熔化再推进熔接。
-
- 酶标仪的原理|结构
- 酶标仪即酶联免疫检测仪，是酶联免疫吸附试验的专用仪器。可简单地分为半自动和全自动2大类，但其工作原理基本上都是一致的，其核心都是一个比色计，即用比色法来分析抗原或抗体的含量。
-
- 数码显微镜的原理|结构
- 数码显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、液晶屏幕技术完美地结合在一起的显微镜。数码显微镜在观察物体时能产生正立的三维空间影像，立体感强，成像清晰和宽阔，是适用范围非常广泛的常规显微镜。
-
- 偏光显微镜的原理|结构
- 偏光显微镜是鉴定物质细微结构光学性质的一种显微镜。凡具有双折射性的物质，在偏光显微镜下就能分辨的清楚，当然这些物质也可用染色法来进行观察，但有些则不可能，而必须利用偏光显微镜。
-
- 裂隙灯显微镜的原理|结构
- 裂隙灯显微镜属于显微镜类光学仪器，但这种显微镜的照明系统设计特别讲究，并且具有较多的功能，适用于眼部的检查，可以说裂隙灯显微镜是一种眼科和眼视光学医学科学领域专用显微镜。
-
- 透射电镜的原理|结构
- 透射电镜，全称透射电子显微镜。是利用高能电子束充当照明光源而进行放大成像的大型显微分析设备，透射电镜是一种具有高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器，被广泛应用于材料科学等研究领域。
-
- 原子力显微镜的原理|结构
- 原子力显微镜(AFM)用一个微小的探针来“摸索”微观世界，它超越了光和电子波长对显微镜分辨率的限制，在立体三维上观察物质的形貌，并能获得探针与样品相互作用的信息。
-
- 闪烁探测器的原理|结构
- 闪烁探测器是一种由闪烁晶体和光探测器(一般是光电倍增管)组成的用于探测α、β、γ、X射线及中子的装置。是目前应用最多、最广泛的电离辐射探测器之一。
-
- 斩波器的原理|结构
- 斩波器是一种能进行微弱信号变换的高精密元件，所谓斩波是使电流、光束或红外辐射束在均匀时间间隔里中断。斩波器能将微弱的直流电压或电流变换成交流输出放大，通常是将缓变信号转换成快变信号，便于放大。
-
- 光学平台的原理|结构
- 光学平台最主要的一个目标是消除平台上任意两个以上部件之间的相对位移。大多数光学实验都对系统稳定性有较高的要求。各种因素造成的振动会导致仪器测量结果的不稳定性和不准确性，所以光学平台显得十分重要。
-
- 天文望远镜的原理|结构
- 天文望远镜能够探测到几亿光年甚至更远距离的星体是因为这些星体发出的电磁波过几亿年传递到了地球，然后被天文望远镜观测到。天文望远镜主要有两种，一种是光学望远镜，另一种是射电望远镜。
-
- AOI的原理|结构
- AOI系统的作用就是检测PCB在生产过程中有可能出现的上述不良缺陷，通过控制并及时调整工艺，从而提高产品的品质与生产产能。通常AOI系统检测系统用在内外层生产的关键工序控制点上，防止大批批量的报废。
-
- 固体激光器的原理|结构
- 固体激光器是用固体激光材料作为工作物质的激光器，具有体积小、使用方便、输出功率大的特点，在军事、加工、医疗和科学研究领域有广泛的用途。但由于固体激光器工作介质的制备较复杂，所以价格较贵。
-
- 便携式叶面积仪的结构和用途
- 手持叶面积仪从操作上来说，更加的便利，具有更加丰富的测量参数以及更加灵活的功能。能够被用来快速地对离体和非离体的大多数常见植物叶片进行测量，特殊的结构设计对于测量狭长类叶片更为适合。
①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布，观点仅代表作者本人，不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益，请及时告诉,我们立即通知作者，并马上删除。
②凡本网注明"来源：仪器网"的所有作品，版权均属于仪器网，转载时须经本网同意，并请注明仪器网(www.yiqi.com)。
③本网转载并注明来源的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品来源，并自负版权等法律责任。
④若本站内容侵犯到您的合法权益，请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱：hezou_yiqi
沪公网安备 31011502008050号
参与评论
登录后参与评论