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扫描电镜的原理、结构及应用

  扫描电镜(SEM)是一个复杂的系统,浓缩了电子光学技术、真空技术、精细机械结构以及现代计算机控制技术。成像是采用二次电子或背散射电子等工作方式,随着扫描电镜的发展和应用的拓展,相继发展了宏观断口学和显微断口学。

扫描电镜的原理

  扫描电镜是在加速高压作用下将电子枪发射的电子经过多级电磁透镜汇集成细小(直径一般为1~5nm)的电子束(相应束流为10-11~10-12A)。在末级透镜上方扫描线圈的作用下,使电子束在试样表面做光栅扫描(行扫+帧扫)。入射电子与试样相互作用会产生二次电子、背散射电子、X射线等各种信息。这些信息的二维强度分布随着试样表面的特征而变(这些特征有表面形貌、成分、晶体取向、电磁特性等等),将各种探测器收集到的信息按顺序、成比率地转换成视频信号,再传送到同步扫描的显像管并调制其亮度,就可以得到一个反应试样表面状况的扫描图像。如果将探测器接收到的信号进行数字化处理即转变成数字信号,就可以由计算机做进一步的处理和存储。

  扫描电镜主要是针对具有高低差较大、粗糙不平的厚块试样进行观察,因而在设计上突出了景深效果,一般用来分析断口以及未经人工处理的自然表面。

扫描电镜的原理.jpg

扫描电镜的组成结构

  扫描电镜由三大部分组成:真空系统,电子束系统以及成像系统。

  一、扫描电镜真空系统

  真空系统主要包括真空泵和真空柱两部分。真空柱是一个密封的柱形容器。真空泵用来在真空柱内产生真空。有机械泵、油扩散泵以及涡轮分子泵三大类,机械泵加油扩散泵的组合可以满足配置钨枪的扫描电镜的真空要求,但对于装置了场致发射枪或六硼化镧枪的扫描电镜,则需要机械泵加涡轮分子泵的组合。

  扫描电镜之所以要用真空,主要基于以下原因:电子束系统中的灯丝在普通大气中会迅速氧化而失效,所以除了在使用扫描电镜时需要用真空以外,平时还需要以纯氮气或惰性气体充满整个真空柱。为了增大电子的平均自由程,从而使得用于成像的电子更多。

  二、扫描电镜电子束系统

  扫描电镜电子束系统由电子枪和电磁透镜两部分组成,主要用于产生一束能量分布极窄的、电子能量确定的电子束用以扫描成像。

  电子枪:

  扫描电镜电子枪用于产生电子,主要有两大类,共三种。

  一类是利用场致发射效应产生电子,称为场致发射电子枪。这种电子枪极其昂贵,在十万美元以上,且需要小于10-10torr的极高真空。但它具有至少1000小时以上的寿命,且不需要电磁透镜系统。

  另一类则是利用热发射效应产生电子,有钨枪和六硼化镧枪两种。钨枪寿命在30~100小时之间,价格便宜,但成像不如其他两种明亮,常作为廉价或标准扫描电镜配置。六硼化镧枪寿命介于场致发射电子枪与钨枪之间,为200~1000小时,价格约为钨枪的十倍,图像比钨枪明亮5~10倍,需要略高于钨枪的真空,一般在10^-7torr以上;但比钨枪容易产生过度饱和和热激发问题。

  电磁透镜:

  扫描电镜热发射电子需要电磁透镜来成束,所以在用热发射电子枪的扫描电镜上,电磁透镜必不可少。通常会装配两组:

  汇聚透镜:顾名思义,汇聚透镜用汇聚电子束,装配在真空柱中,位于电子枪之下。通常不止一个,并有一组汇聚光圈与之相配。但汇聚透镜仅仅用于汇聚电子束,与成像会焦无关。

  物镜:物镜为真空柱中Z下方的一个电磁透镜,它负责将电子束的焦点汇聚到样品表面。

  三、扫描电镜成像系统

  电子经过一系列电磁透镜成束后,打到样品上与样品相互作用,会产生次级电子、背散射电子、欧革电子以及X射线等一系列信号。所以需要不同的探测器譬如次级电子探测器、X射线能谱分析仪等来区分这些信号以获得所需要的信息。虽然X射线信号不能用于成像,但习惯上,仍然将X射线分析系统划分到成像系统中。有些探测器造价昂贵这时,可以使用次级电子探测器代替,但需要设定一个偏压电场以筛除次级电子。

扫描电镜的用途.jpg

扫描电镜的用途

  通过样品中的电子激发出的各种信号,扫描电镜可以做出电子图像分析,如可利用二次电子进行样品表面形貌及结构分析的分析;以两片探测器信号做积分运算,通过背散射电子可以分析样品表面成分像,以两片探测器信号做微分运算时,则可用于样品表面形貌像德分析;此外,通过透射电子则可对析晶体的内部结构及晶格信息进行分析。

  扫描电镜的用途很广,除了能做电子图像分析以外,配上其它一些配套设备,还可做显微化学成份分析,显微晶体结构分析,显微阴极发光图像分析,这更加扩大的扫描电镜的广泛应用度。常见的扫描电镜配套设备主要有:x射线波谱仪、x射线能谱仪、结晶学分析仪、阴极发光图像分析仪等。


2005-03-08 浏览次数:3458次
本文来源:https://www.yiqi.com/daogou/detail_2578.html
延伸阅读
  • 扫描电镜成像原理
    扫描电镜即扫描电子显微镜(SEM)。主要用于观察样品的表面形貌、割裂面结构、管腔内表面的结构等。是利用电子射线轰击样品表面,引起二次电子等信号的发射,经检测装置接收后成像的一类电镜。

    03-11

  • 扫描电镜工作原理
    扫描电镜全称扫描电子显微镜,是一种大型精密仪器,它是机械学、光学、电子学、热学、材料学、真空技术等多门学科的综合应用。

    03-11

  • 扫描电镜衬度形成与观察
    扫描电镜通过电子束在样品表面周而复始的进行扫描运动,同时实时监测各种信号图像的产额,然后根据产额的多少调制成图像。

    03-11

  • 扫描电镜主要结构
    扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的结构包括电子光学系统、图像显示和记录系统、真空系统、X射线能谱分析系统。

    03-11

  • 扫描电镜的结构及用途
    扫描电镜全称扫描电子显微镜,可对样品进行综合分析,已成为重要分析工具。扫描电镜可以分析纤维、纸张、钢铁质量,观察矿石结构、检测催化剂微观结构、观看癌细胞与正常细胞差异等。

    03-11

  • 扫描电镜常用的附件
    扫描电镜(SEM)是一个复杂的系统,浓缩了电子光学技术、真空技术、精细机械结构以及现代计算机控制技术。扫描电镜常用的附件有能谱仪、波谱仪、EBSD附件、动态拉伸台、高温样品台及高温样品台等。

    03-11

  • 扫描电镜光阑的应用
    扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。

    03-11

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