X射线单晶衍射法分类

X射线衍射相分析指是物质的结构利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行分析的技术。每一种结晶物质的晶体结构均是特定的。包括晶面间距以及点阵类型等参数，试样使用足够能量的x射线加以照射，激发了试样中的物质，会使得二次荧光X射线（标识X射线）产生。能够利用衍射角位置（峰位）的测定来进行化合物的定性分析，能够利用谱线的积分强度（峰强度）的测定来进行化合物的定量分析，而对谱线强度随角度的变化关系的测定能够检测晶粒的大小和形状。

单晶衍射法

劳埃法与周转晶体法均为单晶X射线衍射分析的基本方法。

周转晶体法

周转晶体法通过单色X射线对转动的单晶样品进行照射，产生的衍射线通过以样品转动轴为轴线的圆柱形底片加以记录，分立的衍射斑在底片上形成。容易准确测定这样的衍射花样。

晶体的衍射方向和衍射强度对于未知晶体的结构分析非常适用。对于对称性较低的晶体（如正交、单斜、三斜等晶系晶体）结构，周转晶体法很容易分析。然而有着比较少的应用。

劳埃法

劳埃法通过光源将连续X射线发出向着置于样品台上静止的单晶体样品照射，使用平板底片对产生的衍射线进行记录。按照底片位置的差异，劳埃法包括劳埃法和背射劳埃法。

劳埃法

若干劳埃斑组成劳埃法的衍射花样，每一个劳埃斑和晶面的1～n级反射相对应，各劳埃斑的分布使得一条晶带曲线构成

背射劳埃法

背射劳埃法为比较常用的方法，样品厚度和吸收不会对其产生限制。

应力的测定

X射线测定应力将衍射花样特征的变化当作应变的量度。宏观应力在物体中较大范围内均匀分布着，该范围内各晶粒方向相同，同名晶面间距变化也一致，此即产生的均匀应变表现。造成衍射线往某方向位移，X射线对宏观应力的测量也是基于此。在各晶粒间甚至一个晶粒内各部分间，微观应力彼此不同，使不均匀应变产生表现为某些区域减少晶面间距，某些区域增加晶面间距，结果是向不同方向位移衍射线，使其衍射线漫散宽化，X射线对微观应力的测量也是基于此。原子在应变区内受到超微观应力的影响偏离平衡位置，造成衍射线强度减弱，所以能够利用X射线强度的变化来对超微观应力加以测定。通过使用衍射仪法对应力加以测定。