X射线双晶衍射法

X射线衍射相分析指是物质的结构利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行分析的技术。每一种结晶物质的晶体结构均是特定的。包括晶面间距以及点阵类型等参数，试样使用足够能量的x射线加以照射，激发了试样中的物质，会使得二次荧光X射线（标识X射线）产生。能够利用衍射角位置（峰位）的测定来进行化合物的定性分析，能够利用谱线的积分强度（峰强度）的测定来进行化合物的定量分析，而对谱线强度随角度的变化关系的测定能够检测晶粒的大小和形状。

双晶衍射法

双晶衍射仪通过一束X射线（通常用Ka1作为射线源）对一个参考晶体的表面进行照射，在很小角度范围内反射符合布拉格条件的某一波长的X射线，如此就能够使接近单色并受到偏振化的窄反射线获得，再利用适当的光阑作为限制，便可以使近乎准值的X射线束得到。将该X射线作为第二晶体的入射线，在衍射位置附近，第二晶体和计数管分别以Δθ 及Δ(2θ)角度摆动，通常的双晶衍射仪就形成了。在近完整晶体中，缺陷、畸变等只有几十弧秒在X射线谱中体现，但是而半导体材料进行外延生长要求晶格失配要达到10-4或更小。如此精细的要求使双晶X射线衍射技术成为近代光电子材料及器件研制的必备测量仪器，近代X射线衍射技术取得突出成就的标志为以双晶衍射技术为基础而发展起来的四晶及五晶衍射技术（也叫做双晶衍射）。然而双晶衍射仪的第二晶体zui好和di一晶体为同种晶体，不然会发生色散。因此在测量时，双晶衍射仪的参考晶体要同于被测晶体。这个要求限制了双晶衍射仪的使用。

点阵常数的精确测定

晶体物质的基本结构参数为点阵常数，点阵常数的测定广泛应用于热膨胀系数的测定、固溶体溶解度曲线的测定、固溶体类型的确定以及固态相变的研究方面。

利用X射线衍射线的位置（θ ）的测定获得测定的点阵常数。每一个点阵常数都能够通过衍射花样中每一条衍射线的位置的测定而获得。