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小角X射线散射为一种与X射线大角(2θ从5 ~165 度)衍射有所不同的结构分析方法。通过X射线对样品进行照射,相应的散射角2θ比较小,只有5-7度,此就称为X射线小角散射。对粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子(或固体物质中的超细空穴)的大小、形状及分布加以测定以及对分析特大晶胞物质的结构进行分析,即为X射线小角散射的用途。对于高分子材料而言,能够测量玻璃化转变温度,能够分析共混的高聚物相结构以及能够对高分子粒子或空隙大小和形状进行测量。
小角X射线散射合金中的析出相研究
小角X射线散射技术早在1938年就已经被Guinier用来进行合金中的非均匀区(如今叫做GP区)的研究,使一些亚稳分解产物得到揭示。现在,对于合金时效过程的研究,也越来越多地用到小角X射线散射技术,从而研究进行相变动力学等。
析出相半径在形核阶段仅有非常微小的变化,析出相在长大过程中大体上满足抛物线长大规律。析出相半径变化在粗化阶段满足LSW 定律。与此同时,含锂和不含锂两种铝合金析出相半径在形核阶段随时效时间变化的差距不大也被发现了,两者之间的差距随时效时间的延长也慢慢地变大。因此表面析出相的长大和粗化进程因为锂得到了yi制。
在不同时效温度和时间下Fe-25%Co-9%Mo(原子分数)合金析出相的变化通过原位小角X散射散射来进行观察。通过结果发现,随散射矢量的增大,淬火态试样的小角X射线散射强度递减并慢慢与一个常数趋同,由此表面材料十分地均匀散射强度随着时效时间的延长增强的情况相当明显,有峰值出现于h=2.4nm-1处,表明出现了小的析出物。其zui大散射强度的位置随着时效时间的延长,慢慢从2.4nm-1往1.3nm-1移动,说明移动不仅在持续长大,而且其数量也在持续增加。
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