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红外测厚仪结构

红外测厚仪对于水含量、涂布量、薄膜和热熔胶的厚度的意义非常的重要,目标信息传递的任务为其所担负着,对于水含量、涂布量、薄膜和热熔胶等厚度的检测的准确度有着直接的影响。


红外测厚仪测量原理:

薄膜类材料的厚度的非接触式测量通过红外光穿透物质时的吸收、反射、散射等效应得以实现。


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红外测厚仪结构

激光器、成像物镜、光电位敏接收器、信号处理机测量结果显示系统为红外测厚仪的基本结构组件。激光束使一个亮的光斑在被测物体表面上形成,该光斑在成像物镜的作用下往光敏接收器的光敏上成像,使得探测其敏感面上光斑位置的电信号产生。当移动被测物体的时候,相对于成像物镜的位置,其表面上的光斑发生改变,在光敏器件上的位置上的相应的成像点也会发生变化。


红外测厚仪和X射线测厚仪的比较

X线探头是通过X线管通电使得X线产生作为信号源来对塑料薄膜的厚度进行检测,仅会对总材料成分的变化产生反应。X线探头有很多的优点:能够测量各种塑料;有较高的测量精度;有较广的测量范围;不需要使用许可证,没有放射性物质。和X射线测厚仪应当作为测量薄膜厚度的shou选仪器。X射线测厚仪能够在适用领域对其他类型探头进行替代,这样的趋势相当大。

红外探头是通过在特定的塑料薄膜中特定红外线波段被强烈吸收的原理来对薄膜的厚度进行测量,对于检测单一透明材料来说,该传感器比较稳定,周边环境变化不会对其产生影响。然而却对添加剂及颜色的变化敏感,不能够适应不同成分的产品及多种材料的产品在同一条生产线上生产。

2007-11-25 浏览次数:43次
本文来源:https://www.yiqi.com/daogou/detail_5444.html
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