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美国Lake Shore Lake Shore霍尔探头
特斯拉计和高斯计需要霍尔探头来感应磁场,Lake Shore为用户提供多种类型的霍尔探头,以适应不同的场景。请确保所选探头与连接的特斯拉计或高斯计兼容。
GAUSS-ELEC GLA1-XXXB 霍尔闭环电流传感器
GLA1-XXXB 系列基于霍尔技术和闭环原理设计。适用于直流、交流、脉冲及各种隔离条件下的不规则电流测量。
美国Lake Shore 8400系列交直流霍尔效应测试系统
Lake Shore 8400系列霍尔效应测量系统结合了先进的交流和直流磁场霍尔效应测量方法,应用领域十分广泛。交流磁场测量选件非常适合测量传统直流场霍尔方法难以测量的新兴材料(迁移率低于1 cm2/Vs,包括半导体和电子材料,如光伏(太阳能电池)和热电材料、新的显示材料和有机电子材料等。
韩国Ecopia 全自动变温霍尔效应测试仪 HMS-5300LTH
韩国Ecopia 全自动变温霍尔效应测试仪 HMS-5300LTH,温度范围:80k-573k,测量材料Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, TCO(including ITO),AlZnO, FeCdTe, ZnO 等所有半导体薄膜(P 型和 N 型);
韩ECOPIA 变温光霍尔效应测试仪 HMS-7000
韩ECOPIA 变温光霍尔效应测试仪 HMS-7000,可以通过改变照射在样品上的不同波长范围的光源(红、绿、蓝光源), 得出载流子浓度、迁移率、电阻率及霍尔系数等半导体电学重要参数随光源强度变化的曲线。
韩ECOPIA 变温光霍尔效应测试仪 HMS-7000
韩ECOPIA 变温光霍尔效应测试仪 HMS-7000,可以通过改变照射在样品上的不同波长范围的光源(红、绿、蓝光源), 得出载流子浓度、迁移率、电阻率及霍尔系数等半导体电学重要参数随光源强度变化的曲线。
韩国Ecopia霍尔效应测量系统HMS3000,HMS5000
韩国Ecopia霍尔效应测量系统HMS3000,HMS5000,主要用于研究半导体材料/光电材料的电学特性,可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。
美国 MMR 霍尔效应测量系统 H5000
美国 MMR 霍尔效应测量系统 H5000,霍尔效应测量系统主要用于研究光电材料的电学特性,利用范德堡测量技术测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。整套系统主要包括控制器、样品室、磁场三部分。