在现代科学研究和工业检测领域,光学相干断层扫描(Optical Coherence Tomography,简称OCT)光谱仪凭借其高分辨率、非接触式测量等优势,已成为成像和分析物质结构的重要工具。本文将深入剖析OCT光谱仪的核心工作原理,为仪器行业的内容编辑以及实验室、科研、检测、工业等领域的从业者提供专业化的技术解读。
OCT光谱仪的工作原理基于低相干光的干涉现象。其核心在于利用迈克尔逊干涉仪(Michelson Interferometer)的原理,将一束宽带低相干光源发出的光束分成两束:参考光束和样品光束。
这两束光在分束器处重新汇合,如果它们的光程差(path length difference)小于光源的相干长度(coherence length),就会发生干涉,产生干涉条纹。关键在于,干涉条纹的出现与否以及其强度,直接取决于样品内部各反射界面到分束器的距离,也就是光程差。
OCT光谱仪的核心优势在于其“光谱”特性。与传统的时域OCT(Time-Domain OCT, TD-OCT)通过扫描参考镜来改变光程差并检测干涉信号强度不同,谱域OCT(Spectral-Domain OCT, SD-OCT),也是目前主流的OCT光谱仪类型,通过傅里叶变换技术实现高分辨率的深度剖面成像。
其工作流程如下:
假设光源的波长为 $\lambda$,其对应的波数为 $k = \frac{2\pi}{\lambda}$。参考光和样品光到达探测器的光程差为 $\Delta L = 2d$,其中 $d$ 是样品内部反射界面到分束器的深度。干涉信号的强度 $I(\lambda)$ 可以表示为:
$I(\lambda) = S(\lambda) [1 + \cos(2kd\Delta L / \lambda)]$
其中 $S(\lambda)$ 是光源的光谱强度。
对干涉信号进行傅里叶变换,以波数 $k$ 为变量,可以得到深度信息:
$P(z) = \mathcal{F}[I(\lambda)]$
其中 $z$ 代表深度。通过这种方式,SD-OCT无需移动参考镜,而是通过高分辨率的光谱仪一次性采集整个干涉光谱,并利用傅里叶变换高效地重构出样品内部的深度剖面图像。
对于仪器使用者而言,理解OCT光谱仪的关键技术参数至关重要:
应用领域广泛:
通过对OCT光谱仪工作原理的深入了解,从业者能够更好地选择和使用这类高端仪器,并对其性能进行有效的评估和优化,从而推动各领域的科学研究和技术发展。
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