石英晶体微天平的历史

在上世纪60年代初期，石英晶体微天平开始发展，其为一种灵敏度十分高的质量检测仪器，其测量精度能够达到纳克级，高于灵敏度在微克级的电子微天平1000 倍。从理论上来说，能够测到的质量变化和单分子层或原子层的几分之一相当。石英晶体微天平通过石英晶体的压电效应，使石英晶体电极表面质量变化向着石英晶体振荡电路输出电信号的频率变化转化，从而利用计算机等其他辅助设备使得高精度的数据获得。

发展历史

由1880年，压电效应被居里兄弟发现，到1959年提出Sauerbrey公式。到1980年di一台能够进行液相实验的石英晶体微天平。再到1996年压电效应理论在实际测量中被应用。翻天覆地的变化和重大的科技革新在石英晶体微天平技术中被发生。在生物材料、药物研发、环境科学、石油&天然气、表面清洁剂、涂料等领域越来越多的具有不同功能表面的芯片被应用。用来对表面所发生的吸附、解吸、交联、溶胀、降解等化学物进行检测。对AT切割方法进行使用，使得制备的石英晶体芯片优点非常限制，例如温宽范围内有着较好的频率温度特性，有着较高的压电活力以及有着较高的频率。

由于使用多种不同的模块，使得石英晶体微天平的使用空间非常的广泛，并且有非常大的可能给能够和和其他仪器联用。电化学样品池通过三电极体系能够对吸附样品阻抗等电化学性质的变化进行实时检测。以椭偏仪原理的椭偏样品池为基础，能够对高分子/蛋白质吸附层的含水量进行精确地测量。窗口池能够联用光学显微镜，用来对诸如细胞等在芯片表面繁殖的过程进行观测。而随着科技发展和科研的需要，会陆续开发出，更多不同功能的反应池模块。