在精密测量和物质表征领域,散射仪扮演着至关重要的角色。它以光、X射线或中子等辐射与物质相互作用时产生的散射现象为基础,为我们揭示了粒子的尺寸、形状、形貌、晶体结构以及分子间相互作用等深层信息。本文将深入探讨散射仪的基本原理,并梳理其在各行业中的应用,力求为广大实验室、科研、检测及工业从业者提供一份专业而详实的参考。
散射现象的本质在于,当辐射与物质中的原子、电子或分子发生相互作用时,辐射的传播方向发生改变。根据相互作用的尺度和机制,散射可以分为多种类型。
根据所使用的辐射源和探测方式,散射仪可分为多种类型。
DLS 主要用于测量纳米至微米级颗粒的尺寸分布。其基本原理是:
典型数据展示:
| 测量参数 | 数据范围/单位 | 典型应用 |
|---|---|---|
| 颗粒平均粒径 | 1 nm - 10 µm | 胶体稳定性、蛋白质聚集、乳液均一性 |
| 粒径分布宽度 | 0.01 - 1.0 | 颗粒形貌、批次稳定性 |
| zeta 电位 | -50 mV - +50 mV | 胶体稳定性、表面电荷特性 |
SLS 主要用于测定大分子的分子量、均方根回转半径等参数。
典型数据展示:
| 测量参数 | 数据范围/单位 | 典型应用 |
|---|---|---|
| 分子量(Mw) | 1 kDa - 100 MDa | 聚合物分子量分布、生物大分子纯度 |
| 均方根回转半径 | 1 nm - 100 nm | 大分子构象、形状因子 |
| 介质折光指数增量 | 0.10 - 0.25 mL/g | 聚合物溶液性质、浓度测定 |
XRD 是研究晶体材料结构和相组成的核心技术。
典型数据展示:
| 测量参数 | 数据范围/单位 | 典型应用 |
|---|---|---|
| 晶格常数 | 0.1 - 100 Å | 材料晶格畸变、固溶体分析、合金成分 |
| 晶粒尺寸 | 1 nm - 100 µm | 粉末粒度、陶瓷烧结度、薄膜晶粒生长 |
| 相纯度 | 0.1% - 100% | 材料相鉴别、杂质分析 |
| 结晶度 | 10% - 100% | 非晶态与晶态的比例 |
中子散射是研究物质磁结构、低原子序元素(如氢)以及动态过程的强大工具。
典型应用:
散射仪技术凭借其独特的优势,在科研与工业界得到了广泛应用。
随着技术的不断进步,散射仪正朝着更高灵敏度、更高分辨率和更强的时间分辨能力发展,为我们理解和操控物质世界提供了前所未有的洞察力。
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