X射线定向仪的原理

X射线定向仪是对单晶体的各晶面在空间相互排列角度进行精密测定的一种光学检测仪器。

原理：

x射线的波长相近于晶体内部原子面之间的间距。晶体能够作为X射线的空间衍射光栅，也就是往物体上照射一束X射线时，物体中原子发生散射，每个原子均有散射波产生，这些散射波相互干涉，结果就使得衍射产生。在某些方向上使射线的强度加强，在其他方向上使射线的强度减弱为衍射波叠加的结果。对衍射结果进行分析就能够使晶体结构获得。德国物理学家劳厄在1912提出了上述的科学预见，实验随即就对其证实。基于劳厄的发现，英国物理学家布拉格父子在1913年不但成功地对NaCl，KCl等晶体结构进行测定，而且还将布拉格方程：2dsinθ=nλ这一作为晶体衍射基础的著名公式提了出来。对于晶体材料，当对待测晶体与入射束呈现的角度不同时，就会检测出满足布拉格衍射的晶面具有不同的衍射强度的衍射峰在XRD图谱上被体现了出来。因为晶体结构中原子排列的长程有序不存在于非晶体材料的结构，只有短程有序存在于非晶体材料几个原子范围内，所以一些漫散射馒头峰显示在非晶体材料的XRD图谱上。由于在X射线管上施加高压变压器产生的高电压，使得X射线产生，往样品上照射X射线，若与公式相符合时，则会有衍射产生，计数管会接收衍射线，其通过放大器的微安表显示出来，在对单色器进行使用时，单色化衍射线以后，计数器接收了单色化的衍射线，其通过放大器的微安表显示出来，如此就能够进一步提高其丈量精度。