X射线单晶定向仪,作为晶体学研究中的关键设备,其的操作与深入的理解,直接关系到衍射数据的质量与后续分析的可靠性。本手册旨在为实验室、科研、检测及工业领域的专业人士提供一份详尽的仪器使用指南,确保操作人员能够熟练掌握仪器功能,优化实验流程,并大化数据获取的效率与精度。
X射线单晶定向仪的核心在于其高精度的旋转平台和精确的X射线探测系统。仪器能够对单晶样品进行三维空间定向,捕捉由晶体衍射产生的X射线信号。其主要功能包括:
为确保实验数据的准确性,理解仪器的关键技术参数至关重要。
| 参数名称 | 规格范围 | 精度/分辨率 |
|---|---|---|
| 旋转轴精度 | θ/2θ: 0-360° / χ: ±30° / φ: 0-360° | < 0.001° |
| 样品台承载 | ≤ 50 克 | - |
| X射线源功率 | 3 kW - 9 kW | - |
| 探测器类型 | 闪烁体/半导体/CCD | < 0.1 mm FWHM |
| 数据采集速率 | 100 - 1000 counts/sec | - |
| 真空度(如适用) | < 10⁻⁵ Pa | - |
掌握X射线单晶定向仪的精髓,不仅需要熟悉操作规程,更需要对晶体学原理有深入的理解。通过严格遵循本手册的指导,并结合实际操作经验,相信您能够更高效、更准确地利用此设备,推动您的科研或生产工作迈上新台阶。
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